• ナノバブル発生装置 PANDORA コストダウン 生産向上 製品画像

    ナノバブル発生装置 PANDORA コストダウン 生産向上

    PR砥石寿命2倍 砥石切込み5倍 加工抵抗50%減 ファインバブルを…

    ナノバブル発生装置 PANDORA(パンドラ)は製造業向けに大量のナノバブルとマイクロバブルを同時発生させる事が出来る装置です。 ナノバブルを現在お使いのクーラントに発生させる事により 冷却効果、洗浄効果を発揮し 飛躍的に砥石の寿命を延ばしたり、冷却性能を上げ寸法精度を向上させたり、 条件UPにて加工能率を向上させることが可能です。 是非、業界最多バブル量にて効果を実感下さい。...国内...

    メーカー・取り扱い企業: 昌弘貿易株式会社 関西営業本部

  • ハイス・超硬不等分割/不等リードスクリューシンク 製品画像

    ハイス・超硬不等分割/不等リードスクリューシンク

    PR安定的でビビリの少ない切削工具!高速加工及び切削負荷減少により、生産性…

    不等分割&不等リードスクリューシンク3枚刃&90°のご紹介です。 ハイス不等分割&不等リードスクリューシンクは多様な被削材に好適なSKH59(コバルトハイス)を使用し、超硬不等分割&不等リードスクリューシンクは超微粒子超硬素材を使用しております。 安定的でビビリの少ない切削加工が可能で、高速加工及び切削負荷減少により、生産性の向上に貢献します。 【共通の特長】 ■不等分割&不等リード ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クロダ

  • 【FIB】FIBによる配線修正・回路修正(回路変更)加工サービス 製品画像

    【FIB】FIBによる配線修正・回路修正(回路変更)加工サービス

    正確・迅速・短納期で回路変更を目的とした半導体内部配線修正を行います

    【特長】 ○FIBによるLSIおよびIC配線の切断、接続、評価用テストパッドの作製を行います ○マイクロ部品の加工、SPM評価用テストパターンの作成、TEM観察用試料作成を行います ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可:FIB】FIB集束イオンビーム加工における事例集 製品画像

    【資料DL可:FIB】FIB集束イオンビーム加工における事例集

    弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパター…

    弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。 当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。 以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。 ・FIBによるめっき層内の異常個...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工 製品画像

    【資料DL可:FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

    FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…

    FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形:φ5μm ・ピラーの高さ:700nm/650nm/600nm ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【イオンミリング(CP)/クライオ】分析と観察の前処理事例集 製品画像

    【イオンミリング(CP)/クライオ】分析と観察の前処理事例集

    断面加工や分析および観察の前処理などイオンミリング加工、クライオ加工の…

    当事例集では、分析と観察に関する『前処理』における事例についてご紹介します。 「イオンミリング法(CP加工)の紹介」、「イオンミリングによる微小部断面加工」、「イオン液体を用いたSEM観察前処理」など目的、手法、試料と結果を含めた分析および観察の前処理事例を多数掲載。 他にも、各種材料の断面解析や...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可・DSC】米・麺類等でんぷんの糊化把握 製品画像

    【資料DL可・DSC】米・麺類等でんぷんの糊化把握

    DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます…

    でんぷん加工食品においては、糊化(α 化 や、逆反応である老化 (β 化 の様子を把握がとても重要です。 弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術があります この事例ではその技...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【資料DL可:FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画 製品画像

    【資料DL可:FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画

    FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレス…

    m:集束イオンビーム)装置ではマスクレスで任意形状のパターン描画(パターン形成)を行うことが可能です。 ・エッチングによるパターン描画では、1ドットあたり0.1μm程度の大きさで描画が可能です。(加工を行う材質、加工条件により最小サイズは変わります) ・ マスクレスでイオン注入を行うことが可能です。 ・ デポジションによるパターン描画も可能です。 この事例では FIB装置で実際にシリ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価 製品画像

    【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価

    GD-OES(グロー放電発光分析)によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状…

    グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し、生じた発光を測定することで試料の組成を分析する方法です。 この事例ではGD-OESによる「めっき工程前の基板洗浄効果調査」を紹介します。 ぜひPDF資料をご一読ください。 弊社では...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

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