残留応力測定サービス｜JTL

X線回折の原理を利用して、試料の残留応力を非破壊で測定します。

残留応力測定サービスでは、X線回折の原理を利用した多結晶体材料の表層部の応力の測定を行います。 応力の測定は、開発・試作・号口段階での製品の形状と安全を充分に計算した強度、その強度を維持する為の工程の構築など、幅広い分野で利用いただけます。...【非破壊による応力測定】 X線を用いて測定を行うため、非破壊・低ダメージでの測定が可能です。 【深さ方向の応力分布測定】 電解研磨装置でエッチ...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

EDS（エネルギー分散型Ｘ線分光法）による元素分析のご紹介

SEMでの高倍率観察中に試料の特定箇所をピンポイントで評価できるため、…

電子顕微鏡（SEM）にて画像観察する際、電子線を物質に照射すると蛍光X線が発生します。 その中には元素固有の情報を持った特性Ｘ線が含まれています。 これを半導体検出器のようなエネルギー分散型検出器にて検出し、そのエネルギーと強度を測定すると、 物質を構成する元素を定性的に解析することが出来ます。 【特長】 ■定量分析が可能（バルク材料など） ■多元素同時測定が可能で分析時間が短...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社