超音波スキャニング装置

PR超音波探傷器とデータ処理パソコンでの構成！探傷条件の設定、結果の保存、…

『超音波スキャニング装置』は、対象ワーク内の欠陥を全没水侵にて検出し、 リアルタイムでデータ収録・画像処理する自動超音波探傷装置です。 検査は、位置情報を基に超音波信号を画像処理し、平面図、 断面図に展開して欠陥の位置、形状をモニタに表示。 内部欠陥、肉厚（厚み）測定、溶接接合部、スパッタ材・ターゲット材などの内部・接合検査など色々な検査に使用できます。 検査結果画像は評価方法に合わせた色表...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社エヌ・ケイ・システム

画像検査ソリューション

PRデジタル技術（画像処理、AI）と光学技術でスクラッチや微小キズなどの欠…

画像検査ソリューション（外観検査装置・Meister Apps AI画像自動検査パッケージ）はフィルム、紙、鉄・非鉄等の産業用素材、 医薬品製造業のお客様のPTP包装工程で発生する錠剤の割れ、錠面異物、異色錠、シート異物、シール不良等、自動車・産業資材などに用いられる成形品の様々な欠陥をカメラを使用して検査を行う外観検査システムです。 ■外観検査装置（シート材、PTP包装、金属組織試験） ...

メーカー・取り扱い企業： 東芝デジタルソリューションズ株式会社 画像検査ソリューション事業

＜薄膜金属加工製品向け＞欠陥検査装置・欠陥部材除去装置

薄膜金属加工製品の欠陥検査・欠陥部材除去を自動化。製造コスト・人件費の…

★Prest Kappar（欠陥検査装置） 半導体の検査技術および微細化製品の搬送技術を巧みに使用し、 幅広い薄膜金属加工シートの欠陥検出で活躍。 隣り合った製品同士を比較する独自アルゴリズムにより、レシピ作成も容易に行えま...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

Prest Kappar　金属加工製品外観検査装置

薄膜金属加工製品の外観検査装置。VCMスプリング、リードフレームなどの…

あらゆる薄膜金属加工シートの欠陥を検出することが可能が可能で従来目視検査にて欠陥検出をしていたわずらわしさを自動機を使用することにより精度と検査時間を短縮することができます。 また、CCTECH独自アルゴリズムにより、隣り合った...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

モジュール検査装置　CM2030（カメラモジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

対応することが可能。 昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査までさまざまな欠陥を検査することが可能な製品です。...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適照明 ● カメラアングルを評価時に設定、装置を小型化 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8インチ対応...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に使用することにより検査工程のタクトタイムが半減。 ★３D検査によりWLCSPパッケージなどに使用されるバンプのコプラナリティを検査。 ★自動欠陥レビュー機能 ★Waferのミスアライメントを自動補正...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

モジュール検査装置　CM8200（指紋認証モジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

査に対応することが可能。昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査まであらゆる欠陥を検査することが可能な製品です。...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査　テーピング装置、tSort

ダイシング後のウェハーからダイを取り出し、ダイの検査をしながらテープ/…

WLB、QFN、COGなど） ● テーピング、JEDEC/キャニスタ対応 ● スループット：40,000 pph ● 検査項目 　・ダイ/半田ボール/バンプのコプラナリティ検査 　・バンプ欠陥検出 　・IR、赤外線外観検査 　・5面検査 　・ダイサイズ 　・切込ラインエッジ検査 　・マーキング検査 　・キズ、異物混入検査...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人