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    ケーブル放射ノイズ測定可視化システム『WM9520』

    PRケーブルから放射されるノイズを特定しつつ周波数成分と強さを自動で可視化…

    『WM9520』は、CISPR25に対応し、磁界プローブまたは電界プローブを使用して ケーブルから放射されるノイズを高精度で自動測定し、周波数成分とレベルの 強さをマップ表示機能により簡単に可視化することが可能なシステムです。 測定可能なケーブル長は2000mmで、プローブの位置決め精度は±1mmの メカニカルパフォーマンス。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【仕様(一部)】...

    メーカー・取り扱い企業: 森田テック株式会社

  • 【仕組み解説】小型軽量3次元超音波風速計 製品画像

    【仕組み解説】小型軽量3次元超音波風速計

    PR米国特許取得済み!独自の技術を搭載し「小型・軽量」+「3次元計測」を実…

    当社で取り扱うLI-COR社製 TriSonicaセンサは、小型軽量が魅力の3次元超音波風速計です。 従来の大きな風速計では適応が難しかった、ドローン搭載や狭所での気流計測など、屋内外問わず幅広い用途で活躍します。 【特長】 ★ コンパクト   ― 手のひらサイズ 91.9 × 91.9 × 53.6 mm ★ 軽量   ― ゴルフボールほどの重量 わずか50-67g ★ 低消費電力   ― ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ジェピコ 本社、大阪支店、名古屋支店、練馬支店

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(高精度3D測定&カラー観察)

    試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です!

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定

    広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

    当社では、形状測定レーザマイクロスコープ「VK-X200」を用いた 受託分析を行っております。 平面計測、幅測定、高さ測定、膜厚測定等の各種、測定ができ、対象の サイズや求める精度により、適した対物レンズを...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • DMA(動的粘弾性測定) 製品画像

    DMA(動的粘弾性測定

    両持ち梁曲げ、自由支持3点曲げなど多様な測定モードをご用意しております…

    『DMA(動的粘弾性測定)』は、高分子材料に周期的な振動荷重を与え、 生じる応力と位相差から、弾性や粘性を温度の関数として測定する分析です。 ガラス転移、緩和など高分子の分子運動や分子構造に関わる情報を 得ること...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • TMA(熱機械測定) 製品画像

    TMA(熱機械測定

    複数の測定モードで熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度の情報が得られます!

    『TMA(熱機械測定)』は、試料に一定の荷重をかけた状態で試料温度を 変化させ、試料の寸法変化を測定する手法です。 材料の熱膨張、熱収縮、ガラス転移温度などの情報が得られます。 また、温度範囲は-150~...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 冷熱衝撃試験のひずみ測定 製品画像

    冷熱衝撃試験のひずみ測定

    冷熱衝撃試験におけるひずみの挙動を観測!試験材料はFR-1とFR-4を…

    当社で行った「冷熱衝撃試験のひずみ測定」についてご紹介いたします。 冷熱衝撃試験装置にひずみゲージを貼り付けたサンプルをセットし、 ひずみゲージの配線は槽外のデータロガーに接続して試験中のひずみデータを リアルタイムで記録。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例 製品画像

    ガイドネットマップ法を用いたEPMA分析例

    広範囲の分析が可能!EPMAのガイドネットマップ法を用いた分析例をご紹…

    EPMAは特長の一つに、ガイドネットマップ法があります。 SEM-EDXでは測定範囲が狭く、湾曲試料では面分析が正しく測定できないことが ありますが、EPMAのガイドネットマップ法を用いることで、広範囲の分析が 可能になります。 隣り合わせの連続した領域を自動的に測定...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • TG-DTA(熱重量示差熱分析) 製品画像

    TG-DTA(熱重量示差熱分析)

    試料と基準物質の温度差をDTA信号として出力!温度を一定のプログラムに…

    『TG-DTA(熱重量示差熱分析)』は、試料の温度を一定のプログラムによって 変化させながら、試料の重量測定(TG)と試料と基準物質の温度差の測定 (示差熱測定)(DTA)を温度の関数として同時に行う分析です。 測定可能条件は、温度範囲が室温~1000℃、必要サンプル量は10~20mg、 サンプ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーサイクル試験と特性評価 製品画像

    パワーサイクル試験と特性評価

    パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託!故障解析・分…

    ス製(メンター製)のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像

    【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

    新しく装置を導入!試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

    量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の定性・定量に 用いられる分析装置です。 測定対象がガス化することが必要条件(沸点300℃未満)となりますが、IRや RAMANに比べ感度が高い点、GC部での成分分離が可能な点から、混合物の 成分分析に向いています。 【GC-MS装置...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • アイテス 装置一覧 製品画像

    アイテス 装置一覧

    アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

    テスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析  形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験  信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析  物理解析・表面分析・化学分析...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • モジュール試作と熱抵抗評価 製品画像

    モジュール試作と熱抵抗評価

    ダイアタッチやTIM材などの評価に好適!試作から評価まで対応致します

    株式会社アイテスでは、『モジュール試作と熱抵抗評価』を承っております。 パワーデバイス及びパワーデバイスで使用する材料の評価において、実際に デバイスを組み立てての熱抵抗測定は、実力の把握に有効な方法です。 試作から評価まで対応致します。 ご興味がございましたら、是非お気軽にご相談ください。 【特長】 <パワーモジュールの試作> ■チップの調達からモジ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • AFM(原子間力顕微鏡) 製品画像

    AFM(原子間力顕微鏡)

    微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現…

    当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。 「形状測定(タッピングモード)」では、周期的に振動させた プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。 また、「位相イメージング」は、カンチレバーを動かす周期信号と カンチレバーの振動との...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析 製品画像

    イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析

    最小5um以上あれば異物のIRデータが取得できます。

    サービス概要 1.顕微ATR法   約5um以上あれば異物のIRデータ取得可能 2.面分布像   有機物の面内分布の観察が可能 3.時間変化   秒単位で変化する有機物の状態測定が可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • DSC(示差走査熱量分析) 製品画像

    DSC(示差走査熱量分析)

    試料の吸熱/発熱の度合いを観察!温度範囲は-90℃~550℃まで可能で…

    準物質との温度差から、熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを 観察する分析手法です。 温度範囲は-90℃~550℃、必要サンプル量は5~10mg、サンプル形状は フィルム、粉末、バルクが測定可能条件です。 【特長】 ■示差走査熱量分析 ■試料の吸熱/発熱の度合いを観察 ■温度範囲:-90℃~550℃ ■必要サンプル量:5~10mg ■サンプル形状:フィルム、粉末、バルク...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • フタル酸エステル類のスクリーニング分析 製品画像

    フタル酸エステル類のスクリーニング分析

    規制値は1000ppm!簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出…

    り詳細な定量分析にて判定。 RoHS指令4種以外にも、JIGや食品衛生法などで規制対象となるDNOP、 DINP、DIDPについての簡易的な「スクリーニング分析」が可能です。 試料の詳細や測定対象化合物など、お気軽にお問い合わせください。 【Py-GC/MSによる気泡緩衝材中のフタル酸エステル類スクリーニング分析】 ■判定基準 半定量値  ・500ppm以下:非含有と判定  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微ラマンによる多層材料分析 製品画像

    顕微ラマンによる多層材料分析

    ラマン分光法による深さ方向への測定!多層膜の表面から各層の材料分析が可…

    事例】 ■液晶パネルに使用されている偏光板は、トリアセチルセルロース層で  ポリビニルアルコール(PVA)にヨウ素を添加した層を挟んだ構造 ■顕微ラマン分光光度計にて偏光板を深さ方向に連続して測定したところ、  表面から深さ方向に向かってTAC→PVA+I2→TAC→粘着層と変化する様子が観察できた ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • プラスチック成形品の歪、複屈折評価 製品画像

    プラスチック成形品の歪、複屈折評価

    複屈折位相差(歪)や流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です!

    プラスチック成形品は樹脂の溶融、金型への充填、 冷却・保圧といった工程を経ていますが、これらの条件が適切でない場合、 内部に応力が残り(残留応力)、成形不良の原因となります。 二次元複屈折測定システムは、その応力の指標である複屈折位相差(歪)や 流れ方向・応力方向(主軸方位)の視覚化が可能です。 例として、ポリスチレン(PS)成形品を加熱条件で比較した複屈折評価を ご紹介します...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入射すると、 特性X線のエネルギーに相当する数の電子-正孔対が生成。 この数(電流)を測定することで特性X線のエネルギーを知ることができ、 エネルギーは元素により異なるため、物質の元素情報を調べることが可能です。 【EDSによる分析(一部)】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    との比較】 <EELS> ■分析に使用するパラメータ:エネルギー損失電子 ■エネルギー分解能:1eV以下 ■長所:状態分析軽元素分析(Li,B) ■短所:広範囲の元素を同時分析が困難 ■測定時間:5s ■TEM試料厚:約50nm以下 <EDS> ■分析に使用するパラメータ:特性X線 ■エネルギー分解能:100eV前後 ■長所:全元素についての分析 ■短所:近接するエネルギー...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】ICP発光分光分析(ICP-AES) 製品画像

    【資料】ICP発光分光分析(ICP-AES)

    原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行い…

    ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・概要 ■測定事例︓液晶パネル内金属元素のICP-...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスのHAST試験 製品画像

    パワーデバイスのHAST試験

    パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!…

    印加可能 (正極コモン・保護抵抗110kΩ)  試験数量 :最大30個 (正極側)  対応モジュール :TO-247、TO-220 等 (その他のパッケージは要相談:ソケット調達可)  測定内容 :漏れ電流のモニタリング  試験装置 :温度制御範囲 105.0℃~142.9℃ 湿度制御範囲 75%RH~100%RH        圧力範囲 0.020~0.196MP...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • カーボン材料のラマン分析 製品画像

    カーボン材料のラマン分析

    ラマンスペクトルを測定!カーボン材料の構造や結晶性に関する情報を得る事…

    カーボン材料はグラファイト、活性炭、カーボンファイバーなど様々な ものがあり、リチウムイオン電池の負極活物質や、導電性プラスチック用 添加剤、インク、CFRPなどの用途で幅広く使用されています。 当社では、ラマン分析によりカーボン材料の構造の違いを評価。 CB、活性炭ではグラファイトに比べGバンドのピークがブロードになり、 半値幅が大きくなりました。 これは、結晶子サイズが異な...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • TEMによる電子部品・材料の解析 製品画像

    TEMによる電子部品・材料の解析

    TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

    TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...■エミッション発光にて特定した故障部位は  FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて  故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し  最適な像を得ることができ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 微小異物分析のためのサンプリング技術 製品画像

    微小異物分析のためのサンプリング技術

    エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプ…

    リングツール  新規導入されたマイクロサンプリングツールは  顕微鏡下でマニュピレータを用い  正確に狙った異物を捕らえます ■5umに満たない微小異物でも  多数集めてFT-IRにて測定することが可能です...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析 製品画像

    銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析

    圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査!断面観察及びSEM/…

    『銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析』についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン), Ag(銀), Cu(銅)であ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学分析 おまかせサービス 製品画像

    化学分析 おまかせサービス

    1試料、Refとの比較込み!候補となる分析手法をまとめて実施

    、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。 【特長】 ■結果が得られたデータのみ報告 ■結果報告は最大2手法まで ■3手法以上の結果報告をご希望の場...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • sMIMによる半導体拡散層の解析 製品画像

    sMIMによる半導体拡散層の解析

    濃度の変化をCの変化として検出!dC/dV信号も取得でき、拡散層の解析…

    ス顕微鏡(sMIM)は、ドーパント濃度に 線形な相関を持つ信号が特長です。 sMIM(エスミム) は、SPMに装着した金属探針の先端からマイクロ波を 照射してサンプルを走査し、その反射波を測定し拡散層の濃度に 線形な相関を持つsMIM-C像を得ることができます。 反射率から得られるZsのC成分は酸化膜容量と空乏層容量からなり、 不純物濃度に依存して空乏層幅がかわることを利用して...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析 製品画像

    XPS角度分解法による薄膜層の深さ方向分析

    非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能!分析事例もご紹介いたし…

    えることにより、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 HDD磁気面の深さ方向を分析した事例もございます。 【特長】 ■非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 微量汚染物のTOF-SIMS分析 製品画像

    微量汚染物のTOF-SIMS分析

    TOF-SIMSの分析感度はppmオーダーと高感度であるため、微量汚染…

    再現実験により、Siウエハ上に水玉状の汚染物を作成した事例のご紹介です。 同じ位置でSEM-EDXとTOFSIMSによる測定を行い、イメージマップの比較を 行いました。 TOF-SIMSイメージマップではウォーターマークとその周囲に有機物(CH,CN)、 Na、K、が検出されました。 ウォーターマークの周...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価 製品画像

    【資料】色差計による樹脂の表色系、および透過率評価

    透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の変化結果をご紹介!

    脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の 変化結果をご紹介いたします。 【掲載内容】 ■(xyY)およびL*a*b*表示系について ■恒温恒湿試験(85℃ 85% 168時間)前後の測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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