基板回路設計・基板実装「実装業者の選び方」など解説資料12点進呈

PR部品調達に強い実装工場『相信』実装業者を選ぶ際のポイントをわかりやすく…

基板実装から組立配線まで一括で請け負うワンストップサービスを提供している当社がまとめた、 実装業者を選ぶ際のポイントをわかりやすくまとめた「実装業者の選び方」など、解説資料12点を進呈！ 基板実装業者を選ぶ際の注意事項やポイントをまとめた解説資料や、プリント基板実装概論など、プリント基板に関するお役立ち資料12点！ 【実装業者の選び方のポイント　解説資料一部 抜粋】 ■部品実装を専門とする会社...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社相信

温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』

PR扱いやすい超小型。出力0～3.0Vで、5～24Vの電源供給に対応。セン…

温湿度アナログ変換出力モジュール『SCM-DA2』は、 温湿度測定の負担を減らせる製品です。 電源を入れるだけでセンサを自動認識し、 温湿度センサのデジタルデータをアナログに変換・出力します。 出力は0～3.0Vと分かりやすく、5～24Vの電源供給が可能です。 PLC、電圧データロガー、パネルメータなどに接続して活用できます。 【特長】 ■Sensirion（センシリオン...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）

画像解析式 ポータブル粒度分布測定装置 VisiSize P15

小型軽量、持運び可能な粒度分布測定装置 測定サイズ 5μm 〜3,9…

■小型軽量　 持ち運び可能なポータブルタイプの粒度分布測定装置 ■リアルタイム測定( オンライン) 測定可能粒子速度は＜ 10m/s @ 50 μ m ■ 液滴、気泡、固形粒子の測定 10 μ m 〜3.900 μ m（＞ 5 μ m：拡張...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

粒度分布／速度分布測定装置

約１ミクロンまでの粒子, 液滴, スプレー, マイクロバブル 等の正確…

画像解析式では初めて湿式・乾式・噴霧のいずれについても1μmから16mmの範囲で100m／sec以上の流速を伴う対象物の測定が可能です。 画像式の特徴である非球形粒子の測定にも最適な装置です。 また、特許技術のフォーカス・アペアランス・アルゴリズムにより、画像解析式でありながら、精度の低下を引き起こすテレセ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

静電容量変位センサ　非接触測定

接触することなく変位を高精度に測定。一切損傷や負荷を与えることなく、各…

〇ナノメートル・サブナノメートルの精度を実現。 MicoSenseの独自技術による静電容量での高い温度特性・高安定性・高分解能・優れた直線性の実現。 〇被測定物に一切損傷や負荷を与えず測定。 接触することなく各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能。 〇目的やアプリケーションのに応じてた使用が可能。真空や非磁性対応の製品も含めさまざまなモ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

蛍光寿命スペクトロメータ 時間分解・定常状態の両測定に対応

高性能TCSPCモジュールを搭載。ピコ秒分解能で測定。定常状態・時間分…

『FluoTime 300』は、数ピコ秒単位で測定可能な蛍光寿命スペクトロメーターです。 蛍光寿命だけでなく、定常状態の蛍光異方性や、りん光の測定も可能。 複数の検出器オプションを用意しており、多様なシステム構成を構築できます。 また...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

超高安定性 干渉計 フーリエ変換アプローチよるスペクトル測定

NIREOS社のGEMINIは2つのレプリカ間の時間遅延を制御した入力…

力/出力スリットも無い、1cmのクリアーアパーチャーによって、高スループット実現 〇ドライバーを含めた完全な一体型 〇スキャンレンジとスペクトル範囲をユーザーにて設定可能。 ユーザーは簡易的な測定からスタートし、スペクトルを確認後、データ取得時間を延長してSN比を上げ、スペクトル分解能を1nmまで下げることが可能。 ※モデルと波長により異なります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

高分解能型動的画像式粒度・形状分布測定装置 QICPIC

0.55～34,000μmサイズの粒子形状を高精度に解析

○高速撮像で個々の粒子測定をしながらも高い信頼性 ○光源繰返し周期：1ns ○計測ゾーンの位置に関わらず粒子外形をクリアに計測 ○輪郭の明確な粒子から透明粒子まで対応 ○形状の定義を変更し、再解析可能 乾式・湿...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

光コネクタ端面3D測定干渉計 光ファイバ端面検査

光コネクタ端面3D測定干渉計は、ファイバフェルール、パッチコード、ピッ…

光コネクタ端面3D測定干渉計 研磨および組立工程にでの検査用に設計された干渉計です。以下の検査に対応します。 ●光ファイバフェルール ●パッチコード ●ピッグテール ●ベアファイバ 鮮明な3D画像表示が可...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

高精度・広範囲・非接触 膜厚計（厚さ計）157/137シリーズ

【※ デモ機あり、サンプル測定可能】 高精度 ±0.1 μm、12μ…

◆ 高性能非接触膜厚計（厚さ計） ●高精度の測定が可能 ±0.1 μm ● 幅広い範囲で測定可能 12μm から 80mm ● 材料の硬さに依らず測定が可能 硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚み測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

フォトニック集積回路向け SMU マルチチャンネル ソース 測定

フォトニック集積回路向けマルチチャンネル・ソース測定機器。XPOW は…

高い汎用性でシンプルな電子回路から複雑なフォトニック集積回路まで、低消費電力の用途にて最適です。また、 XPOWのアップグレード版で、より高速なXDAC はユニポーラ、バイポーラ、ディファレンシャルなど、柔軟なチャンネル出力が可能です。 ※詳しくはお問い合わせください。...※詳しくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA＆QC

ナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大５…

attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決め...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

可視光-中赤外レーザー･スペクトラム･アナライザ 771シリーズ

1台で波長測定＆スペクトル分析が可能。可視光(VIS)～中赤外(MIR…

※高精度モデル・低価格モデルをご用意 ■1台でスペアナと波長計の機能を提供 ■高いスペクトル分解能: 2 GHz ■高い波長測定精度：±0.2ppm（モデルにより異なる） ■連続校正 ■高い光除去比：> 40dB ■可視～中赤外（375 nm to 12 μm） ■4シリーズを準備【 VIS: 375 – 1100 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

位置合わせ・検査用 一体型オートコリメータ・トータルステーション

分解能0.01秒角以上、完全一体型の検査・位置合わせ用オートコリメータ…

する検査・アライメント用の完全一体型のオートコリメータです。 【特長】 〇 AR/VRアプリケーションにおける種々の検査、位置合わせ用途に最適 分解能 0.01秒角以上で角度精度の高い光学測定が可能。 〇 VCSELなどマルチレーザー測定も可能 近赤外（NIR)を含む複数の波長域に1台で対応が可能。 ※詳細はPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

QCL 赤外線 溶液分析器

液体赤外線分析装置 Culpeoはバイオプロセス分析・液体クロマトグラ…

✤リアルタイム測定 最大10 Hzの更新レートでリアルタイムにサンプルを測定 ✤繊細な検知 低分子から高分子まで幅広い範囲の基礎振動吸収 ✤定量データ 透過率ベースの測定によりBeer-Lamber...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

光波長計 ( CW専用 ・ CW&パルス両用 )

高分解能・高性能・高速・高精度の光波長計

● 確度の高いレーザー波長測定に最適です。マイケルソン干渉計をベースとするCWレーザー波長計で、精度は最高 ±0.2 ppm です。またパルスレーザー、CWレーザーの波長を±0.0001 nmもの高精度で測定します。高速光検出器...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

低価格 高性能 分子間相互作用解析装置

3t-analytik社 QCM-Dリはアルタイムで質量変化と粘弾性、…

○ポンプ送液のフロー測定タイプ ○独特の負荷フリーセンサーセル設計により、低ノイズ測定 ○加熱・冷却温度制御付きのフローセル ○内部で対流が極めて起こりにくいユニークなフローセル設計 ○耐ケミカル仕様で、ほとんどの...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー