エルコメーター456 膜厚計＆ウルトラ・スキャンプローブ

PR膜厚の超高速読み取り機能とBluetooth(R)による測定データの転…

「エルコメーター456 膜厚計＆ウルトラ・スキャンプローブ」は、 広い面積、多くの測定箇所で膜厚管理を要求される工事仕様で 素早く膜厚を測定し、データ編集・作成することができる膜厚計です。 毎分140回の速度で膜厚を測定することが可能で、測定値は膜厚計本体に保存。 保存されたデータはBluetooth(R)を使って、モバイル端末、PCに リアルタイムで転送、測定数値を編集アプリで管理することが...

メーカー・取り扱い企業： Elcometer株式会社 エルコメーター

EMI（エミッション）トータル試験システム　MR2300

PR手近なところでノイズ対策！EMIは事前試験で効率アップ。

MR2300は当社のスペクトラムアナライザ技術、電波暗箱技術およびアンテナ技術を結集した統合システムです。 EMIトータル試験システム ＭR2300の特長 ■追加設備のいらないEMIトータル試験システム アンテナ、EMI用スペクトラムアナライザ、LISN、EMI用PCソフトウェアのみならず、電波暗箱まで全てが揃ったトータル試験システム ■自社開発の小型・広帯域アンテナ 30M...

メーカー・取り扱い企業： マイクロニクス株式会社

振動・変位解析システム　バイブロマップ1000

振動と変位を干渉方式で測定、モニター上でリアルタイムにデータを確認

バイブロマップはエレクトロニクススペックル干渉測定法とTVカメラを組み合わせた最新の振動・変位解析装置です。各モードにて、振動と変位をリアルタイムでモニター上で確認することが可能です。測定データがリアルタイムで表示されるので、加振周波数スウィープ、...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）

TVホログラフィー振動変位解析システム　「MEMSMap510」

MEMS 試験やR&D 用のオールイン・ワンシステム

TVホログラフィー振動変位解析システム「MEMSMap510」は、面内振動（In-Plane）と面外振動（Out-of-Plane）を測定します。MEMS構造のモデリングや設計ではその微細構造の挙動が大きい構造物と異なるために解析は難しくなります。ダイナミックデバイスでは振動モードが熱の影響、空気圧変化や境界条件によりある周波数から別...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）

ナノ表面粗さ・形状計測器　ナノセブン

簡単操作、非接触、迅速、高分解能、低価格のナノ表面粗さ、段差形状測定装…

光ヘテロダイン干渉計測を利用したコンパクトで、振動に強く、高さ分解能が０．１ナノと高精度な測定を提供する表面粗さ・形状測定システム。 計測時間も大幅に短縮でき、防振台不要でラインでの全数検査もできる。 広範囲の計測が可能で多点計測や大型試料にも適用可能。 ＜主な特長＞ １）低価格...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社シスコム（SysCom）