• 金検対応の樹脂を使用したSUSハサミ【食品工場の異物混入対策に】 製品画像

    金検対応の樹脂を使用したSUSハサミ【食品工場の異物混入対策に】

    PR【6月のFOOMAに出展】こだわりの切れ味!持ち手の樹脂が金属検出機で…

    アラム株式会社が開発・販売している食品工場向け異物混入対策製品 「MPフーズ」シリーズは、金属検出機で検出可能なゴム・プラスチック製品です。 MPフーズ ステンレスハサミは、ハンドル部に金属検出機で検出できる 材料を使用しています。 国内のはさみメーカーと共同開発し、こだわりの切れ味と使い心地を実現、 またハンドル部が樹脂製でステンレス単体のハサミより軽量なため、 作業者の負担も軽減できます。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: アラム株式会社

  • 流体解析AIパッケージ『DeepLiquid Lite』 製品画像

    流体解析AIパッケージ『DeepLiquid Lite』

    PR排水処理設備の無事故継続なら!流体解析AIを異常発見の「目」にしません…

    流体解析AIパッケージ『DeepLiquid Lite』は、排水処理施設の現場にて、担当者が実施している巡回監視業務を自動化し、水質・水面などにおける異常発生の見逃し防止&早期発見にご利用いただけるサービスです。 流体解析AIのベースモデルにより、低価格、短期間での導入が可能です。 また、めったに異常発生がない現場でも、正常データで学習するため、 少数の異常データでユーザーの課題に合わせた異常判...

    メーカー・取り扱い企業: AnyTech株式会社

  • ラミネートフィルム異物分析事例 製品画像

    ラミネートフィルム異物分析事例

    異物の位置と異物の成分に着目!異物部の断面作製を行い、元素分析を実施し…

    当社が行った、ラミネートフィルムの異物分析事例についてご紹介します。 ラミネートフィルムを裏面側より確認すると黒い異物が確認されたため、 この黒色異物について発生層の特定や成分分析を行いました。 最初に解析の目的に応じて手...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 微小異物分析のためのサンプリング技術 製品画像

    微小異物分析のためのサンプリング技術

    エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプ…

    ■多層膜中異物の特殊サンプリング技術 ・基板上金属膜に埋もれた異物  金属膜エッチング⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ・多層薄膜中の異物  表面層の切り取り⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-I...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 異物分析のための試料加工技術 製品画像

    異物分析のための試料加工技術

    各種の試料加工技術を駆使して迅速な分析結果をご報告!当社の試料加⼯技術…

    エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物は、いち早く 分析することが要求されます。 当社は、各種の試料加工技術を駆使して迅速な分析結果をご報告します。 資料では、多層膜中に埋もれた異物の掘り出しやマイクロ切削ツールの 概要...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術 製品画像

    FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

    キャピラリーを用いて表面張力によってサンプリング!FT-IR分析が可能…

    従来、液状異物のサンプリングは非常に困難とされて来ました。 FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術では、キャピラリーを ⽤いて表⾯張⼒によってサンプリングし、FT-IR分析が可能です。 【サ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析 製品画像

    イメージング顕微FT-IRによる微小異物の分析

    最小5um以上あれば異物のIRデータが取得できます。

    ■サービス概要 1.顕微ATR法   約5um以上あれば異物のIRデータ取得可能 2.面分布像   有機物の面内分布の観察が可能 3.時間変化   秒単位で変化する有機物の状態測定が可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 異物分析・成分分析 顕微ラマンとFTIR比較 製品画像

    異物分析・成分分析 顕微ラマンとFTIR比較

    異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています

    株式会社アイテスのラマン分光分析とFTIRとの比較についてご紹介します。 異物などの成分分析、定性分析には分光分析が適しています。 ラマンとFT-IRはどちらも分析対象の構造に基づいたスペクトルを 取得する事ができます。 しかし、得手不得手があるため、分析対象に応じ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 海外製 液晶ディスプレイの良品解析 製品画像

    海外製 液晶ディスプレイの良品解析

    不具合が出れば詳細解析も!海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

    で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確認。 良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など 原因究明のための追加解析を御提案させていただきます。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【外観観察の観察内容】 ■FPCの配線に腐食や異物は無いか ■FOGの接合...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 表面分析ガイド 製品画像

    表面分析ガイド

    様々な表面分析手法!異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役…

    当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困り ごとの解決に向けてお役立て致します。 微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射し オージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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    【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】アルミ

    マイクロATR結晶を密着!赤外線の全反射により表面付近の分析を⾏う⼿法…

    tion)は、分析対象物にマイクロATR結晶を 密着させ、赤外線の全反射により表面付近の分析を行う手法です。 対象物に当てる結晶の屈折率の影響で、見かけの空間分解能が高くなり、 より小さな異物の分析が可能となります。 【ATR法 特長】 ■赤外線の全反射により表面付近の分析を行う手法 ■対象物に当てる結晶の屈折率の影響で、見かけの空間分解能が高くなる ■より小さな異物の分析が...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学分析 おまかせサービス 製品画像

    化学分析 おまかせサービス

    1試料、Refとの比較込み!候補となる分析手法をまとめて実施

    当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    『エネルギー分散X線分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子線照射により発生する特性X線を検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子線を照射することにより発生する特性X線が検出器に入射すると、 特性X線のエネルギーに相当する数の電子-正孔対が生成。 この数(電流)を測定すること...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例 製品画像

    ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例

    印刷PETフィルムの印刷面に硬化したインクが付着した事による原因である…

    ラミネートフィルムのフィッシュアイ分析事例についてご紹介いたします。 詰め替えシャンプー等の容器として用いられる多層ラミネートフィルム中に 異物のような部分が見られました。 拡大観察すると直径数十μm程度で、フィッシュアイのように見えます。 原因解明のため、断面観察を行いました。断面作製手法は多種ありますが、 広範囲の観察可能な機...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

              感度:数nA           低倍最大視野:6.5mm角 ・特定位置精度: ±0.3um、試料厚1.5um~0.1um ・機械研磨SEM観察: 大きな破壊箇所・異物・広範囲の観察 ・拡散層観察: TEM試料加工前に不良箇所近傍にて観察可能        構造により前処理が必要な場合あり ・FIB-SEM観察: クラック・形状異常・拡散層観察(~×...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 半導体製品の信頼性トータル・ソリューション 製品画像

    半導体製品の信頼性トータル・ソリューション

    半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート

      ■超音波顕微鏡観察   ■発光解析(EMS/IR-OBIRCH)   ■走査型電子顕微鏡(SEM)   ■透過型電子顕微鏡(TEM)   ■表面汚染分析(TOF-SIMS)   ■異物分析(FT-IR) ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EPMAによる状態分析 製品画像

    EPMAによる状態分析

    標準スペクトルと比較することで結合状態を推定!EPMAによる状態分析を…

    る識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子(株)製 Jeol-8200 ■分析方式:波長分散型X線分析(WDX) ...

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  • EPMA分析 製品画像

    EPMA分析

    100×100mmサイズも対応!ステージ可動により広範囲のマッピングが…

    、エネルギー分解能や検出感度が良く、特に 微量成分の定量分析やマップ分析等に優れています。 100×100mmサイズも対応でき、広範囲のマップが取得可能。 酸化インジウム・スズ薄膜上の異物分析例では、SEM-EDXに 比べ、エネルギー分解能・検出限界・PB比が良好でした。 また、微量元素の検出やSEM-EDXでは検出が困難な分析が可能です。 【特長】 ■エネルギー分解能や...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FPD 評価・検証 製品画像

    FPD 評価・検証

    特性・構造上の潜在的問題点がないかを評価!信頼性試験手法・条件をご提案

    【概要(一部)】 <構造解析> ■パネル解体 ■液晶成分分析 ■電気特性測定 <不良解析> ■微小異物分析 ■発光/OBIRCH 解析 ■TOF-SIMS 分析 <信頼性試験> ■高温高湿バイアス試験 ■目視検査と特性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下...

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  • 海外製ディスプレイの不良解析 製品画像

    海外製ディスプレイの不良解析

    不良解析の実績多数!現象の確認から不良発生メカニズムの推測など、詳細な…

    観察、パネル解体、光学顕微鏡観察を不良症状に合わせて実施。 不具合箇所を絞り込み、詳細解析が必要な場合は適切な手法を提案させていただきます。 【詳細解析例(一部)】 ■配線の断面観察 ■異物分析 ■液晶成分分析 ■電気特性測定 ※別途費用が発生いたします ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • 『化学分析の流れ』 製品画像

    『化学分析の流れ』

    製品・素材の機能や特性、状態を解明。分析対象・目的に応じた分析手法をご…

    特性、 状態を明らかにして、お客様の課題解決に貢献します。 分析対象の材質や分析の目的に合った分析手法の提案が可能です。 ぜひお気軽にご相談ください。 【分析内容の例】 ◎製品内の異物 ◎使用材料の状態 ◎材料の変質  ◎材料に含まれる微量成分・元素 ◎製品や材料の熱による物理特性...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【TOF-SIMSの事例】Liの分析 製品画像

    【TOF-SIMSの事例】Liの分析

    感度よく検出することが可能!TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分…

    TOF-SIMSとSEM-EDXでLiの分析を比較した事例をご紹介します。 汚染や異物の分析には、SEM-EDXが利用されていますが、 windowless EDXを除く一般的なEDXではLiの検出は困難です。 一方、TOF-SIMSはLiを感度よく検出することができます。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 化学分析のトータルサポートサービス 製品画像

    化学分析のトータルサポートサービス

    表面分析・異物分析・有機組成分析を行っております

    アイテスでは有機・無機物の分析、異物、表面分析等、目的・試料に適した 受託分析メニューをご提案・実施いたします。 この部門では、高度なサンプリング技術を用いて微小異物の成分分析を行う 微小異物分析や、試料中の不純物分析等、有...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • X線透視・CT検査装置『IC型コイルの観察事例』 製品画像

    X線透視・CT検査装置『IC型コイルの観察事例』

    X線CT観察によりコイル配線の巻具合なども判断可能! X線透過観察とは…

    IC型コイルの観察事例をご紹介します。 X線による観察では、目的に応じた手法を用いる事で内部の構造を明確に 捉える事ができます。 透過観察では金属異物などを素早く捉える事ができ、CT観察では立体的に 任意の断面の像が得られる為、位置情報や形状が重要な観察に適します。 透過観察と異なりコイル配線の巻具合なども判断出来ます。 ※詳しくは...

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