• 【SCREEN】”塗る”を極めたスリットコータ  ※カタログ進呈 製品画像

    【SCREEN】”塗る”を極めたスリットコータ ※カタログ進呈

    PRラボスケールでの高精度塗布を実現。低粘度から高粘度まで、実験・試作段階…

    『リサーチコータ』は、液晶や有機ELディスプレー製造工程で 数多くの採用実績を誇る「コーターデベロッパー」の高度な塗布技術を ラボスケールに展開したスリットコータ(ダイコータ)です。 塗布部にはスリット式塗布装置「リニアコータ(TM)」を搭載。 1~10,000mPa・sの低粘度から高粘度の塗布材料を、ガラス基板、樹脂基板、 フィルム、金属箔など様々な基材に高精度にスリットコートでき...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SCREENファインテックソリューションズ

  • ダイヤモンドライクカーボン膜(DLC)コーティング加工 製品画像

    ダイヤモンドライクカーボン膜(DLC)コーティング加工

    PR金属から樹脂まで幅広く対応。金型や摺動部品の耐摩耗性向上に。メッキの代…

    『PEKURIS COAT』は、当社独自のプラズマイオン注入成膜装置を使用し、 潤滑性に優れたDLC膜をワークに形成するコーティング加工です。 イオン注入効果により、高密着成膜が容易で、ステンレス鋼や工具鋼、 アルミ合金等にも成膜可能。また、低温での処理が可能で、 融点の低い樹脂やゴム、アルミなどにも対応しております。 DLCコーティングでお困りの方は、ぜひお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社栗田製作所 本社・京都事業部

  • インライン型膜厚計の分析例 製品画像

    インライン型膜厚計の分析例

    インライン型膜厚計の分析例について紹介します。

    膜厚の管理は製品の信頼性を左右するだけでなく原材料の削減にも貢献します。可搬型蛍光X線分析装置「OURSTEX100FA」は工場の製造工程で膜厚の分析を行うことが可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社

  • 蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』 製品画像

    蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

    新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能…

    『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 ...

    • XDV-SDD.jpg
    • DPP+.jpg
    • XDV-SDD(appl).jpg
    • DPPplus.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』 製品画像

    蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』

    簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です…

    『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

    • X-RAY_XDLM_XDAL_winftm.jpg
    • XDL_sample.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』 製品画像

    蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

    電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

    『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素...

    • xdlm.jpg
    • X-Ray_XDLM_position.jpg
    • X-Ray_XDLM_xy.jpg
    • XDLM_sample2.jpg
    • X-RAY_XDLM_XDAL_winftm.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能! 製品画像

    『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』持ち運び可能!

    高精度かつ高い検出感度!現場で素早く非破壊で検査します【携帯可能な蛍光…

    『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できます...

    • image_10.jpg
    • IPROS7741161943413007471_220x220.jpg
    • xan500box_close.jpg
    • xan500box.jpg
    • xan500.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』 製品画像

    蛍光X線式測定器『X-RAY XDV-μ LD』

    新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!プリン…

    V-μLD』は、複雑な形状をより容易に測定 できるよう、測定距離をより長く設計されたロングディスタンスタイプの ポリキャピラリ集光レンズ搭載蛍光X線測定装置です。 非常に薄い層や微小構造の膜厚測定と素材分析に適している装置。 プリント回路基板などの大きな試料においても測定しやすい構造です。 膜厚測定と素材分析を簡単にセットアップすることができます。 試料(サンプル)との距離が約12...

    • DPP+.jpg
    • XDV-u(appl).jpg
    • XDV-u(polycapillary).jpg
    • DPPplus.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』 製品画像

    蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』

    非破壊で膜厚測定と素材分析ができる!品質管理や生産管理における測定にも…

    『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です! また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』 製品画像

    蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

    ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線…

    『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方 製品画像

    【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方

    薄膜・微細領域も高精度かつ短時間で測定する蛍光X線膜厚測定装置をご紹介…

    高機能化・高性能化が求められるようになっています。 部品メーカーにとっては、今後も市場のニーズに対応し続けるため、 その品物の品質管理を考え直す必要があります。 当資料では、蛍光X線膜厚測定装置についてご紹介。 蛍光X線による分析・測定は非破壊で、前処理などの必要もなく、 短時間で結果を得ることが可能です。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■エレクトロニ...

    メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

  • ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』 製品画像

    ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

    新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・…

    『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける...

    • XDV-u.jpg
    • DPP+.jpg
    • XDV-u(polycapillary2).jpg
    • XDV-u(appl).jpg
    • DPPplus.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • 蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL 製品画像

    蛍光X線分析(XRF)による受託分析サービス|JTL

    材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。

    することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置『OURSTEX180』 製品画像

    エネルギー分散型蛍光X線分析装置『OURSTEX180』

    当社保有の要素技術を結集!軽元素から中重元素分析まで幅広い高感度測定が…

    エネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 軽元素から中重元素分析まで、幅広い高感度測定が可能。 オイル中のS、CI分析や、セメント・焼却灰中の軽元素分析、 フィルム上の微量軽元素分析、膜厚分析などに適しています。 【特長】 ■コンパクトで可搬性に優れる ■L線専用2重湾曲モノクロメーター搭載 ■Pd-Lα単色励起により軽元素の検出感度が向上 ■高性能SDD検出器・高計数...

    メーカー・取り扱い企業: アワーズテック株式会社

  • 貴金属分析器/金インゴット・コインの検査装置 製品画像

    貴金属分析器/金インゴット・コインの検査装置

    貴金属に対する真偽判定や品質管理に!非破壊で素早く精度よく測定が可能で…

    【その他特長】 ■X-RAY XAN 250  ・素早く・非破壊式により正確に貴金属の成分分析が可能  ・金やジュエリーなどを精密かつ正確に表面の素材分析と膜厚を測定  ・金の含有量だけでなく、その成分分析まで行うために好適  ・ニッケル、カドミウムまたは鉛などのような元素も検出可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東栄産業

  • 据置型蛍光X線分析装置『EDX2800B』 製品画像

    据置型蛍光X線分析装置『EDX2800B』

    自動コリメータおよびフィルタースイッチを搭載した据置型蛍光X線分析装置

    簡便性の 向上に貢献します。 【適用分野】 ■RoHS対象元素の分析 ■鉱物及び合金(銅、ステンレス鋼等)の成分分析 ■金、白金、銀等の貴金属及び各種宝石の含有量試験 ■金属のメッキ膜厚の測定 ■主にRoHS関連産業、貴金属及び宝石加工産業、銀行、試験機関、電気メッキ産業 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社T&S

  • 精密機器 製品画像

    精密機器

    精密機器のことなら当社におまかせください

    【取扱製品】 ■レーザー機器  ・半導体レーザー装置  ・半導体レーザー励起固体レーザー装置  ・フラッシュランプ励起固体レーザー装置 など ■光学機器  ・顕微鏡  ・蛍光X線膜厚測定器  ・色差計・光沢度計  ・リードフレーム全自動外観検査装置 など ■高周波電源  ・半導体工場向けおよび研究機関向け高周波電源  ・高周波増幅器  ・整合器 など ※詳しく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アライズテクノロジー

1〜15 件 / 全 15 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • IPROS12974597166697767058 (1).jpg
  • 構造計画研究所バナー画像再提出_128541.jpg

PR