フレキシブル半導体製造装置『SHUTTLELINEシリーズ』

PR薄膜堆積用PECVD・ドライエッチング・故障解析用プロセス対応。多機能…

『SHUTTLELINE(R)シリーズ』は、RIE/ICP-RIE、PECVD/ICP-CVDに対応し コンパクトながら高性能かつ多機能な半導体製造装置です。 成膜とエッチングプロセスを一台で実現し、様々なウエハサイズと形状に対応可能。 シャトルシステムにより、異なるサンプルサイズでもハードウェアの変更が不要です。 世界で広く採用されており、Plasma-Therm LLCの グ...

メーカー・取り扱い企業： プラズマ・サーモ・ジャパン株式会社

トップクラスの吐出空気量を誇るオイルインジェクションコンプレッサ

PRA/Eの吐出ポートの形状改善により圧力損失を低減！独自の圧縮機構を進化…

当社で取り扱っている「INV機/一定速機」についてご紹介いたします。 先端の加工技術と解析を繰り返し世界に冠たるZスクリューの最高性能を追求。 独自の圧縮機構を進化させ吐出空気量クラス最大水準を実現。 また、吸気・排気の冷却回路見直しにより周囲温度50℃でも異常停止しない 運転が可能です。 【特長】 ■トップクラスの吐出空気量 ■トップクラスの高効率 ■オーバーヒート事前警報や非常停止スイッ...

メーカー・取り扱い企業： 三井精機工業株式会社

白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡『VK-X3000』

ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡

サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 【特長】 ■ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式 ■292種類の解析ツールにより、知りたいことはこの一台で完結 ■光...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キーエンス

形状解析による　射出成形不良撲滅ガイドブック

対策は形状からわかる！ヒケ・バリ・ウエルドラインといった不良例を写真で…

当カタログでは、形状解析による射出成形不良について紹介しております。 イラスト付で分かりやすい「代表的な不良と対策」やヒケ・バリ・ ウエルドライン・そり、変形といった不良例を写真で詳しく解説。 チェック表で対...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キーエンス

白色干渉計搭載　レーザ顕微鏡　VK-X3000

ナノ・マイクロ・ミリ　これ一台で測定は完結する

■レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の3つの異なるスキャン原理を一台に ■最高分解能0.01mm ■292種類の解析ツールで一歩踏み込んだ解析を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キーエンス