DAコンバータユニット（USB接続）『TUSB-0416DAM』

PR分解能16ビット、変換レート1MHz USBインターフェース付きDAコ…

本ユニットは、分解能16bit、変換レート1MHzの高性能DAコンバータユニット（USB接続）です。 アナログ出力はBNCコネクタ４チャンネルで、高分解能の直流電圧出力の他、FIFO方式メモリとUSBインターフェースとの組み合わせで、制限なく連続的に波形出力が可能です。 可変基準電圧源の他、ファンクションジェネレータ、任意波形発生器などとしても使用できます。...出力チャンネル数：4ch（2ch*...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社タートル工業

スーパーキャパシタUPSモジュール『GpUPS90F2』

PRメンテナンスフリーで長寿命！充電ゼロ状態でも接続機器へ即給電可能なUP…

『GpUPS90F2』は、省スペース設計のスーパーキャパシタUPSモジュールです。 DC入力・DC出力なので、既存機器のDC電源とDC駆動機器間に入れるだけ。 （DC12VもしくはDC24V機器） Windows用の線アプリケーション「UPS Monitor」を常駐アプリとして使用することで 電圧表示・温度表示・ステータス表示・OSシャットダウン機能を 簡単に確認、設定することが...

メーカー・取り扱い企業： ゴフェル株式会社

高電圧絶縁信頼性試験装置『HVUαシリーズ』

高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録が可能！筐体デザインも…

『HVUαシリーズ』は、部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能な 高電圧絶縁信頼性試験装置です。 最大4000Vの印加電圧で高電圧デバイスのTDDB試験、インバーター回路基板等の エレクトロケミカルマイグレーション試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験 などにご...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

高電圧絶縁信頼性評価装置　HVU-3000

最大５０ＣＨの独立電源を採用！　絶縁信頼性試験、評価試験装置

最大５０チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大３０００Ｖまでの高電圧出力 　高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用 　１つのサンプルが短絡しても、他のサンプル...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

【分析事例】バイポーラトランジスタ（IGBT）の不良品調査

高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

常がある場合は、IR顕微鏡でも異常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を特定する例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiCSchottkyDiodeのブレークダウン観察

前処理から発光箇所特定まで一貫解析

高電圧電源（2000Vまで印加可能）を用いることで、耐圧の高いダイオードに対してもブレークダウンを発生させることができます。 本事例では600V耐圧のSiC Schottky Diodeを動作させ、逆方...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】極低加速電圧条件での微細構造観察

極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価

状といった微細構造は製品の特性や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ラッチアップ試験受託サービス

CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…

■電流パルス印加法（JEDEC・JEITA・AEC） ■電源過電圧法（JEDEC・JEITA・AEC） ■電圧パルス印加法（AEC） ■ESDパルス印加法（参考試験） ■ラッチアップ判定法（JEDEC方式・電流定義方式） ■試験前後の保護ダイオード特性測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

絶縁抵抗測定器『ECM-500シリーズ』

500Vの印加電圧で試験可能！エレクトロケミカルマイグレーションテスタ…

『ECM-500シリーズ』は、最大500Vの印加電圧でプリント配線板、電子材料 などの絶縁信頼性 評価試験ができる高精度テスターです。 CH毎に印加電圧設定が可能な電源出力回路は、フィードバック制御により サンプル両端電圧が設定値になるよう...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

電波暗室レンタルサービス（EMC、EMI、ノイズ対策）

関西圏で電波暗室をお探しのお客様にEMI対策に特化した設備をリーズナブ…

て、電波暗室レンタルサービスでは次のシステムを一括でご利用いただけます。 ●放射エミッション測定システム　（測定範囲：9 kHz　～　6 GHz） ●雑音端子電圧※1測定システム　（測定範囲：150 kHz　～ 30 MHｚ） ●電磁波可視化システム...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

ノイズ測定・診断・対策

EMC指令に加え、低電圧指令・機械指令の支援も対応！ノイズに関する相談…

は、10m法大型電波暗室・シールドルームを完備。 お客様のご指定場所による「オンサイトテスト（現場のEMC試験）」も可能です。 また、「CEマーキング適合支援業務」では、EMC指令に加え、低電圧指令・ 機械指令の支援も承ります。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【産業機器、情報処理装置、家電のエミッション試験】 ＜試験項目＞ ■電源端子妨害電圧 ■放射電界強度 ...

メーカー・取り扱い企業： 双信電機株式会社 東京本社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 　EDX検出器による元素分析が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

絶縁劣化評価システム　マイグレーションテスター

一括数百個の絶縁試験が可能、マイグレーションテスター

が行えます 　◇レポート機能を搭載しています □高性能＆高機能 　◇印加と計測はｃｈ毎に完全独立で１６ｍｓの計測間隔を達成 　◇最大４００ｃｈまでの増設が可能です 　◇各チャンネル毎に試験電圧が設定可能です □高い信頼性 　◇自己診断機能により異常計測を未然に防止 　◇データをＣＦカードへ記録するため、簡単にデータ抽出が可能 □シンプルなシステム 　◇テスター本体だけで計測が可...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社

耐トラッキング性試験

白金製電極間に電圧を印加し、トラッキング破壊が生じるまで電解液を滴下す…

白金製電極間に電圧を印加し、トラッキング破壊が生じるまで電解液を滴下する。規定の滴下数で破壊しない電圧で評価する。 ・IEC60112 CTI(Comparative Tracking Index 50滴耐える...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

パワーサイクル試験受託サービス

パワーデバイスの熱疲労を評価するパワーサイクル試験を承ります

【装置スペック（一部抜粋）】 ■1号機 　・最大印加電流：800A/10A 　・最大印加電圧：5V/400V 　・チャンネル数：10 ■2号機 　・最大印加電流：532A 　・最大印加電圧：10V 　・チャンネル数：5（2素子/CH） ■3号機・4号機 　・最大印加電流：18...

メーカー・取り扱い企業： シーマ電子株式会社

TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

高温ラッチアップ試験

高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…

温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】有機薄膜太陽電池の断面観察

低加速電圧のSTEMを用いると有機膜のわずかな密度の違いが観えます

p型・n型材料の混合膜を使用するバルクへテロ接合型太陽電池では、高効率化のために膜内の材料の混合状態を適切に制御する必要があります。密度が低い膜（有機膜など）においては、TEM専用機を用いた高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることが困難です。 一方、わずかな密度の違いが反映される低加速電圧のSTEM像観察では膜内の混合状態が明瞭に観察できています。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

受託試験・試験装置貸出サービス『※初回契約時割引あり』

性能評価や品質維持・向上を検討している方へ。電気性能試験のほか環境試験…

ウハウを培って参りました。 そして、専門的な試験装置・解析装置・分析装置も多数取り揃えております。 【保有試験装置の一例】 ＜電気性能試験＞ 絶縁耐力試験装置 低圧短絡試験装置 衝撃電圧発生装置 ＜環境試験＞ メタリングウェザーメーター スーパーキセノンウェザメーター 恒温恒湿槽 ＜材料分析＞ X線CT検査装置 万能材料試験装置 衝撃試験装置 ※装置の...

メーカー・取り扱い企業： 関西電力送配電株式会社 技術試験センター

ESD(CDM)試験受託サービス

印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…

【装置仕様】 ■印加(充電)電圧：0～±4000V ■ステップ電圧：5V ■印加回数：1～99回 ■ピン数：最大1024ピン ■印加ユニット：JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ方法 　・D-CDM(直...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

絶縁耐力

50Hzまたは60Hzの商用周波数の電圧を、試験片を挟んだ電極間に与え…

50Hzまたは60Hzの商用周波数の電圧を、試験片を挟んだ電極間に与え、試料の破壊する電圧を求めます。絶縁破壊強さ(max 70kV)( IEC60243, ASTM D149, JIS C2110)、測定方法　：短時間法, 段階法, 耐...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

【分析事例】FIB低加速加工

FIB：集束イオンビーム加工

FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン（加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

部分放電・コロナ放電の受託検査サービス

部分放電・コロナ放電による絶縁不良を防ぐ、高周波・高電圧部品のトラブル…

高周波・高電圧部品で多く発生する部分放電・コロナ放電は、絶縁性能を劣化させ不良の原因になりますが、電圧が低いため通常の製品検査で見つけられません。見えない絶縁不良の原因をあぶり出すため、受託検査サービスをオススメ...

メーカー・取り扱い企業： アドフォクス株式会社

導電体の測定

導電性のゴムの規格であるが、導電性プラスチックの抵抗測定に応用していま…

電性のゴムの規格であるが、導電性プラスチックの抵抗測定に応用しています。 測定方法：試験片の両端に向き合う形で、平行に設けた電極を用い、体積抵抗率を求めます。外側電極に微少電流を流し、内側電極間の電圧を測定し、抵抗を求めます。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。 ２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。 ３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化量も異なり特異な電流値（または電圧値）として検出される。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇…

発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…

ております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 【EBAC法による解析事例】 ■SEM像 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析

デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供

パワーデバイスは高電圧・大電流のスイッチとして電力/省エネの観点で注目されています。パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

東京都立産業技術研究センター　車載電子機器向けEMC試験の支援

測定から対策まで一括サポート！多摩テクノプラザのEMC支援

■10m法電波暗室 ・車載放射エミッション測定システム ・車載伝導エミッション測定システム（電圧法・電流法） ■3m法電波暗室 ・放射エミッション測定システム ・伝導エミッション測定システム ・放射イミュニティ試験システム ■電波ノイズ試験室(3ｍ法) ・車載放射イミュニティ試験シ...

メーカー・取り扱い企業： 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

X線透過観察サービス｜JTL

X線透過により製品・部品の内部構造状態を非破壊で観察します。

【最小焦点寸法：0.25μmでの高分解能観察】 焦点寸法が最小で0.25μm（理論値）であるため、数ミクロン～数10ミクロンオーダーでの高分解能観察を行うことが可能です。 【X線管電圧：30kV～160kVの幅広い透過力】 X線管電圧が30kVから160kVまでと装置によってX線の透過力が異なり、試料のサイズ・評価目的に応じた幅広い観察に対応しております。 【多方向からの...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

WDXによる元素分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

光結晶も装備されていますので、B～Uまでの元素の高精度な定量が可能です。 【微小領域（サブミクロンオーダー）の分析空間分解能】 FE-EPMAは電解放射（FE）型電子銃を採用しており、低加速電圧、WDX分析電流範囲 (10～100 nA) でも微小プローブが得られるため、低加速電圧を用いた高いX線空間分解能の分析が可能です。 サブミクロンオーダーまで分析領域が絞れるため、30,000倍程...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

■広がり抵抗とは 試料にバイアス電圧を加えて、探針直下に存在するキャリアを探針に流入させ、その電流を対数アンプで増幅して、抵抗値として計測します。このとき、印加したバイアス電圧は、探針の直下で急激に減衰します。そのため、探針に流入でき...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST