• 超音波流量計|定置タイプ「ISTT-D9000」 製品画像

    超音波流量計|定置タイプ「ISTT-D9000」

    PR高精度・高機能と高い信頼性のすべてを兼ね備えたハイスペック超音波流量計

    超音波流量計は、配管の外側に検出器を設置するだけなので、配管の加工を必要としません。 そのため工事費が大幅に削減できるほか、工事に要する時間を大幅に短縮できます。また、配管外側から検出するため、圧力損失が無く、流体非接触なので純水や薬品等の計測にも適しています。...ISTT-D9000の主な特長 ●対話式キーパッドで設定が簡単 ●小型・軽量で設置も容易に行える ●逆方向マイナス積算も...

    メーカー・取り扱い企業: ハイテック株式会社

  • 79GHzミリ波レーダー方式 非接触型振動センサー 製品画像

    79GHzミリ波レーダー方式 非接触型振動センサー

    PR悪環境(高温等)でも影響なし!40KHzまでの広帯域・高振動周波数の計…

    当製品は、79GHzミリ波レーダー技術を応用した レーダー信号処理プロセッサー内蔵の振動センサーです。 内蔵レンズ付きアンテナにより狭範囲の測定が可能。 40KHzまでの広帯域・高振動周波数の計測ができます。 0.03μm(pk-pk)程度の極微小変位計測能力があります。 また、非接触計測なので機械共振の心配がありません。 【特長】 ■0.03μm(pk-pk)程度の極微...

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    メーカー・取り扱い企業: サクラテック株式会社

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    非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

    様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能!マイウロウェーブ反射による非…

    の製造にとって、キャリア移動度は、とても重要なパラメーターに なります。 『LEI-1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチャージ密度が...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』 製品画像

    非接触式シート抵抗測定機『LEI-1510シリーズ』

    広い範囲で優れた測定直線性!三次元グラフィックマップとしてPCモニター…

    『LEI-1510シリーズ』は、旧リハイトン社製の非接触式シート抵抗測定機です。 ロボットを取り付ける事により、多数枚を迅速に計測処理する事が可能。 四探針方式で起こる、探針の接触汚染や接触具合による再現性の問題を 解決します。 2イン...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式) 製品画像

    結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

    結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

    結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属 堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、転位)が可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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