原子間力顕微鏡

C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプ…

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ ：最大100 mm角 ■ステージ移動距離 ：100 mm ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

フィルムの表面に発生するシワのような微小歪を高精度に検出可能！

フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測！10μmの微小歪を幅400…

面歪スキャニングセンサ『LINE STRIPER FV』は、 フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測できます！ 独自に開発したMR法(Mesh Reflection)にて歪を計測し、 対象物にスリット照明を映し込み、照明の歪み量から曲率を算出します。 本手法は、AFM(原子間力顕微鏡)などで使用されている、 光てこの原理で歪を増幅して計測するため、 パターン投影型の3D計測...

メーカー・取り扱い企業： 八光オートメーション株式会社