多層膜厚測定器 | イプロスものづくり

お手持ちのPCに接続可能！12μm～16mmの厚さをインラインで簡単測…

非接触多層膜厚測定器『OPTIGAUGE』は、12μm〜16mmまでの膜厚を「インライン」＆「±0.1μmの高精度」＆「1秒間に200測定の高速＊」で測れる厚み計です。＊標準は50計測性能はそのま...

汎用性が高く、電子部品やさまざまな形状のめっき加工品などの膜厚測定や素…

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。『XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析に好適です。全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと一次フィルターを搭載しています。操作性も簡単に膜厚測定と素材分析...

メーカー・取り扱い企業：アンリツ株式会社環境計測カンパニー

蛍光Ｘ線式　膜厚測定器　微小部測定用『 XDV-μ 』

ポリキャピラリX線光学系を採用。微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの…

【サンプル試測定実施中】『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高いエネルギー分散型蛍光X線測定装置です。当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・素材分析に適した測定器です。【特長】 ●最小10µmの集光レンズを搭載可　　従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性...

メーカー・取り扱い企業：アンリツ株式会社環境計測カンパニー

分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ

単層から多層までインラインで安定測定　今まで見れなかった＜厚みムラ＞が…

■今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化 ■多層フィルム各層の厚み測定を実現 ■粘着層も安定測定...-...

メーカー・取り扱い企業：株式会社キーエンス

テラヘルツ波・多層膜厚測定装置【PlastiMeasure】

不透明・半透明の多層プラスチックの各層厚みを、テラヘルツ光の反射遅延時…

【特長】・単層および多層プラスチックボトルおよび容器の個々の層の厚さを測定・最大10層まで測定可能・多層構造内の極薄バリア層を探しだし、膜厚を測定・断面を計測する時のように切断不要・手間と時間を節約しつつ、これまでにないレベルの高精度と再現性を実現 ... 【テラヘルツ波・膜厚測定装置 PlastiMeasure】は、不透明・半透明の多層プラスチックの各層厚みを、テラヘル...

メーカー・取り扱い企業：スマートビジョン株式会社本社

ウェハ膜厚・表面粗さ測定機　SemDex A32, M1, M2

完全自動化！マルチセンサ技術を備えた高速ウエハ計測・選別システムをご紹…

『SemDex A32』は、ウェハ単層及び多層厚さ・反り・歪み・粗さの完全自動化・高精度測定機です。基板層の厚さ・TTV・積層ウエハの全体厚さ・ウエハ反り・歪み・平坦性は、単一の測定ランにおいてsub-μm精度で測定可能で、nmレベルまでの表面粗さ、更にTSV・RST、およびミニバンプのパラメータも同様に測定することができます。その他に、半導体計測の幅広い用途に対応する...

メーカー・取り扱い企業：伊藤忠マシンテクノス株式会社

光干渉式膜厚測定装置『TohoSpec3100』

R&D分野において利用出来る特長を兼ね備えた光干渉式膜厚測定装置！

『TohoSpec3100』は、ナノメトリクス社より技術移管された光干渉式膜厚測定装置です。多数の納入実績を誇る業界標準機で、測定再精度2Å以下を実現、リニアアレー受光素子を採用。高信頼性、高精度、高速をコンセプトとしており、多層膜同時測定や光学定数(n,k)測定に利用可能です。【特長】 ■スペクトル解析ソフトにより、多層膜（通常３層まで）の同時測定, 　光...

メーカー・取り扱い企業：東朋テクノロジー株式会社

光干渉式膜厚測定装置『Model3100』

多数の納入実績を誇る業界標準機！リニアアレー受光素子を採用

『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定ができ、より豊富な各種膜構造の膜厚測定ができます。【特長】 ■高感度高分解能ヘッド(オプション...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アークステーション

テラヘルツ波・多層膜厚測定装置（センサヘッド分離型）

センサヘッド分離型でインライン測定装置にも組込可能

【特長】・高精度多層膜厚計測・膜中のボイド検出・高精度坪量測定・非破壊測定・不透明および半透明材料の測定・非接触＆高速測定・非電離放射線 ... 【TeraGauge 5000】は、プラスチックボトル、プリフォーム、ゴム、セラミックスなどの不透明および半透明材料の非接触、非電離および非破壊での厚み測定、ボイド検出、および坪量測定に最適です。対象材料はガラス、木材、...

メーカー・取り扱い企業：スマートビジョン株式会社本社

ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！薄膜・…

『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線測定装置です。非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルで...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析に好適です。全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ

簡易膜厚測定器『オートクレーター』

試料調整が不要！成膜された試料をそのまま測定できます

『オートクレーター』は、回転する鋼球で試料を研磨し、その研磨痕を光学顕微鏡などにより測長することで、膜厚を測定する試験機です。断面作成のための、切断・研磨・樹脂包埋などの試料調整は不要です。成膜された試料をそのまま測定できます。また薬品処理などにより、膜の組成の変化を色調の違いとして変化させる事により、各層毎の膜厚を評価できます。【特長】 ■試料調整が不要 ...

メーカー・取り扱い企業：ナノテック株式会社

【設備紹介】膜厚測定器/実体顕微鏡

厳格に品質をチェックし、本当に良質なものだけをお客様のもとへとお届けし…

藤本産業の品質管理(検査）試験・検査保有機器をご案内いたします。「膜厚測定器蛍光X線式」は、主にめっきの膜厚を非接触・非破壊で測定するために使用します。「膜厚測定器渦電流方式ハンディタイプ」では、コイルの入ったプローブを接触させて、通電させたときに生じる渦状の電流を測定することで、膜厚を測定。主にアルマイト処理膜厚測定用に使用します。「実体顕微鏡」は、金属サン...

メーカー・取り扱い企業：藤本産業株式会社

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』

集光レンズタイプの蛍光X線式測定器！回路基板や微細構造部分の分析・測定…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB』は、大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された集光レンズタイプ蛍光X線式測定装置です。革新的なポリキャピラリ―レンズの採用により、非常に小さな測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。また、フィッシャーのFP法により校正なしで単体サンプルや多層膜の分析ができ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フィッシャー・インストルメンツ

紫外線反射防止膜(AR) 波長:350~410nmを効率よく透過

優れた紫外線透過率を実現し、ご利用予定の光源(高圧水銀ランプや各種レー…

こんなことにお困りではありませんか？・紫外線（UV-A）領域の反射を抑えたい。・365nmや405nmなど開始剤に反応する波長の透過率を上げたい。・UV領域は膜厚が薄く、制御が難しいと聞きましたが・・・基板、成膜材料が限られると聞きましたが、対応可能ですか？・成膜後の測定難易度が高いと聞いているが対応可能ですか？ ◆優れた紫外線透過性を実現します！多層の誘電体膜を成膜...

メーカー・取り扱い企業：安達新産業株式会社本社

分光エリプソメーター GES5E

薄膜光学特性を非破壊で測定！手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…

日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率（N,K値）波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。【測定可能な物理特性】 ■厚さ光学屈折率 ■屈折率の勾配と材料組成 ■ドーパント濃度...【豊富な製品バリエーション】 ○...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

多様なめっきに対応可能！電解式膜厚計『CT-3』

単層、多層、合金めっき等、多様なめっきに対応！1μm以下の薄めっき、2…

『CT-3』は、各種めっきの精密な膜厚測定が可能な電解式膜厚計です。 1μm以下の薄めっきや20μm以上の厚めっき、さらに3層以上の多層めっきの測定に適しています。めっき金属に合わせた電解液、一定電流により一定面積を溶解させ、その溶解に要した時間からめっき厚を測定いたします。 JIS、ASTM、MIL、ISO、DIN等の規格に適合し、米国コクール社とともに認定された国際的測定器です。 ...

メーカー・取り扱い企業：エフ・アイ・テック株式会社

ポータブル渦流探傷器M2V3

世界最小最軽量のポータブル渦流探傷器M2V3

人間工学に基づいた世界最小最軽量のポータブル渦流探傷器。 ELOTEST M2V3は2周波（ミキシング機能付き）を備え、マニュアル検査（表面割れ、ボアホールの内側欠陥、多層構造の内部欠陥）に最適であり、導電率と膜厚測定機能も可能です。検査周波数帯域は10Hz-12MHzであり、全フィルタ機能（LP、HP、BP）により最適な信号処理を実現しています。高解像度液晶ディスプレイによ...

メーカー・取り扱い企業：ローマン・ジャパン株式会社ローマン・ジャパン株式会社

測定器『ポジテクターシリーズ』※紹介資料進呈

用途に合わせて変身！操作方法は変わらず膜厚計・結露計・電気伝導度計など…

『ポジテクターシリーズ』は、電磁式・渦電流式・超音波式の膜厚計、結露計、電気伝導度計などの用途に1台で対応できるプローブ付け替え型測定器です。用途が変わってもボタン位置や操作方法が変わらない同一機種を使用できるため、現場の負担を軽減できます。他にも当社では、ハンディ型非接触膜厚計など、塗装、印刷、溶射、塗工、メッキ、ライニングといった幅広い分野向けの製品をラインアップし...

メーカー・取り扱い企業：株式会社本田ビジネスシステムズ

光学式細孔率・細孔分布測定装置

世界唯一の分光エリプソメーター技術でのEP(光学式ポロシメーター）細孔…

■ 前処理が必要がなく、 20分/ポイントと従来型に比べて高速に測定が可能です。 ...【アプリケーション】・Low-k膜の細孔率測定・色素増感太陽電池のTiO2細孔率測定・細孔サイズ（0.5~65nm)、厚さ（50nm～５um)のサンプル【特徴】・膜厚、屈折率、表面積、浸透率、ヤング率、CTE計測も測定可能・従来の方式に比べ、短時間での測定が可能（２０分/point...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

【成膜加工部門】光学薄膜技術への挑戦

安定した品質と高い信頼性を実現！高い生産性技術にて光学薄膜に挑戦を試み…

東京特殊硝子株式会社は、反射膜・ITO膜の成膜加工を取り扱っております。用途に応じた金属膜・多層膜を設計から成膜まで徹底した品質管理を行い、より高品質かつ高信頼の製品をご提供。また、透明導電膜はニーズに合わせて高抵抗～低抵抗・高密着・高強度膜を蒸着法・スパッタリング法で対応させていただいております。【取り扱い測定器】 ■分光光度計 ■膜厚・粗さ測定器 ■低音恒...

メーカー・取り扱い企業：東京特殊硝子株式会社

【30社限定】超薄膜ガラスの研磨加工無料サンプルプレゼント！

【30社限定】合成石英10ｍｍ×10ｍｍ×0.02ｔの薄膜基板をプレゼ…

アトック独自の先進技術が、０．００８ｍｍという超薄膜研磨加工を可能にいたしました。また、多層膜蒸着後、蒸着裏面の材料を研磨し、全体厚を０．０１～０．０２ｍｍとする加工も可能です。製品の検査は、加工工程中の中間検査と熟練の技術者による細心の検査、三次元測定器で先進の検査、さらに万全の環境を実現したクリーンルーム内での精密検査等最終検査を行い、満足のいく品質を提供するために、最高の品質管理がな...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アトック