• 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計 製品画像

    顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計

    極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測!過渡応答現象測定に…

    光ヘテロダイン変位計の1プローブ1出射型のプローブを 顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○被測定物の測定点をピンポイント ○被測定物状態観察と並行計測可能 ○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として  被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い  ディスプレイ(CRT)上で被測定面状態を観測 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 光ヘテロダイン変位計 HV250 製品画像

    光ヘテロダイン変位計 HV250

    光ヘテロダイン変位計 HV250

    光ヘテロダイン計測の優位性を保ったまま、HV400の機能を簡便化し低価格を実現 アナログ出力、デジタル出力の機能も搭載した光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○分解能10nmを保ち、作動距離が1000mm ○本体、プローブと共に小型、低価格 ○リアルタイム測定・LED表示・アナログ・デジタル出力 ○汎用性が高い ○使用目的に合わせ、プローブ形状・光学系構成  形状・オプションなどの設定...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 光ヘテロダイン変位計 HV400 製品画像

    光ヘテロダイン変位計 HV400

    極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測!過渡応答現象測定に…

    光ヘテロダイン変位計 HV400 【特徴】 ○1nmの分解能  0.001ミクロンが縦分解能  計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長 ○最短1μsごとに過渡現象を記録  短時間に変動する事象を計測・記録・表示  PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然 ○最大100万点を記録、データ処理  記録時間を大幅に増加  膨大な記録点数は、すべてPCで処理しフィルタ処...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 周波数シフタ FS1S 製品画像

    周波数シフタ FS1S

    周波数シフタ FS1S

    し、各々光周波数を、f0+f1(約80MHz),f0+f2、にシフトします シフト量はほんの僅か(f1/f0〜0.0000002)ですが、この僅かなシフトが 電子回路による処理を可能にし、光ヘテロダイン計測を実現しています 周波数シフタの周波数の安定性は、2つのAOMに高周波電力を供給する 2台のドライバの発振周波数を同期させることで実現しています 独立のドライバでは実現できない周波数...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • ナノ表面粗さ・形状計測器 ナノセブン 製品画像

    ナノ表面粗さ・形状計測器 ナノセブン

    簡単操作、非接触、迅速、高分解能、低価格のナノ表面粗さ、段差形状測定装…

    光ヘテロダイン干渉計測を利用したコンパクトで、振動に強く、高さ分解能が0.1ナノと高精度な測定を提供する表面粗さ・形状測定システム。 計測時間も大幅に短縮でき、防振台不要でラインでの全数検査もできる。 広範囲の計測が可能で多点計測や大型試料にも適用可能。 <主な特長> 1)低価格で計測時間の大幅短縮 2)高分解能 高さ方向0.1ナノでAFMと互換性保持 3)試料対象物への前処理や真空不要...

    • 2D段差測定.jpg
    • 粗さ3D表示.jpg
    • 粗さ分布.jpg
    • 測定範囲.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社シスコム(SysCom)

  • 光ドップラー速度計測 ( PDV ) 製品画像

    光ドップラー速度計測 ( PDV )

    光ドップラー速度計測(PDV)は、数10km/sまでの高速度事象の計測…

    光ドップラー速度計測(PDV)は、数10km/sまでの高速度事象の計測に用いられる確立された技術です。ヘテロダイン速度計とも呼ばれ、VISAR(Velocity Interferometer System for Any Reflector)の補助ツールまたは代替ツールとして使用することが出来ます。 ■光ドップラー速度計測 Doppler 1000シリーズ Doppler 1000シリーズ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • バルジ測定器 薄膜ヤング率測定装置 製品画像

    バルジ測定器 薄膜ヤング率測定装置

    バルジ測定器 薄膜ヤング率測定装置

    薄膜に均一に応力を加え、その歪み量を計測することで薄膜のヤング率を測定 光ヘテロダイン変位計の汎用性の高い特性を生かした、バルジ測定器 【特徴】 ○PCでヘテロダイン変位計、ポンプ操作、弁操作を行い、データを取得  取得したデータによりカーブフィット作業を行い、ヤン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • ナノ表面粗さ・形状計測器『ナノセブン TN-A1』 製品画像

    ナノ表面粗さ・形状計測器『ナノセブン TN-A1』

    ウエハーの検査に好適!サブナノレベル表面の粗さ・形状を計測します

    』は、ウエハーの検査に適しているナノ表面粗さ・ 形状計測器です。 研磨加工機の近くに設置して全数検査可能。 レーザーによる非接触型計測のため、計測対象物と接触しません。 また、光ヘテロダイン干渉法による位相差計測を採用し、光の波長を 基準としているため高さ方向分解能0.1nmが可能となり、AFMと互換性の 取れる計測結果を実現しました。 【特長】 ■計測時間短縮 ■...

    メーカー・取り扱い企業: ツクモ工学株式会社 本社工場

  • 周波数安定化HeNeレーザ  製品画像

    周波数安定化HeNeレーザ

    1nmの超高分解能での計測に安定した精度を発揮!

    光ヘテロダイン変位計の光源です。 高分解能、高精度を求める必需品で、光計測には欠かせない光源です。 高精度計測には「物差し」の安定性が望まれます。 HeNeレーザは周波数が安定したガスレーザとして基準レーザとなっています。 しかし、フリーランニング状態(単にレーザを電源に接続して点灯させただけの状態、市販の発光状態)でも周波数安定性はf/f〜10 と高いのですが、高精度、特に1nmの分解...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • レーザドップラ方式非接触振動センサ VIBRODUCER V1002 製品画像

    レーザドップラ方式非接触振動センサ VIBRODUCER V1002

    レーザドップラ方式非接触振動センサ VIBRODUCER V1002

    広大なダイナミックレンジ・周波数範囲で 微小振動をキャッチする、非接触振動センサ 【特徴】 ○光ヘテロダイン法を利用した非接触振動センサ  レーザ光は JIS C6802に準拠 ○測定感度を飛躍的に向上  残留ノイズの発生を抑えた高性能な光干渉計 ○レンジ切替( 1m/s/V、 0.1m...

    メーカー・取り扱い企業: 電子技研工業株式会社

  • ナノ粒子物性評価装置『NANOTRAC WAVE IIシリーズ』 製品画像

    ナノ粒子物性評価装置『NANOTRAC WAVE IIシリーズ』

    デモ/分析受付中 動的光散乱式!測定原理としてヘテロダイン法、周波数解…

    広がるナノの世界において、これまでお客様に定評のあった UPAシリーズをさらに進化させ生まれたのが「NANOTRAC WAVE II」です。 測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用。 広範囲な濃度測定、高精度・高分解能を実現し、長年の経験の中で培われた 技術力と品質でナノに秘められた可能性をお客様にお届けします。 【特長】 ■測定原理(動的光散乱法:D...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロトラック・ベル株式会社

  • レーザドップラ振動計『V1002』 製品画像

    レーザドップラ振動計『V1002』

    測定感度を飛躍的に向上!光ヘテロダイン法を利用した非接触レーザドップラ…

    『V1002』は、広大なダイナミックレンジ・周波数範囲で微小振動を キャッチする、多レンジ型レーザドップラ振動計です。 レーザ光はJIS C6802(クラス2)に準拠しており、全ての速度レンジで 測定周波数0.1Hz~3MHzに対応。 高周波ユニット「V0103」(オプション)を使用することにより、 測定周波数範囲を最大20MHzまで拡張できます。 【特長】 ■残留ノイズ...

    メーカー・取り扱い企業: 協立電機株式会社

  • デジタルコヒーレント光トランシーバー の世界市場シェア2023 製品画像

    デジタルコヒーレント光トランシーバー の世界市場シェア2023

    デジタルコヒーレント光トランシーバー 市場概要

    デジタルコヒーレント光トランシーバー(DCO)は、データセンター・インターコネクトやメトロ、長距離伝送アプリケーション用のマルチレートコヒーレント伝送をサポートします。同じ周波数で同じ振動方向を持つ光はコヒーレント光と呼ばれる。コヒーレント光通信では、コヒーレント変調とヘテロダイン検出技術が主に使用され、コヒーレントトランシーバはこの技術に基づく主要製品である。 QYResearchが発行した最...

    メーカー・取り扱い企業: QY Research株式会社 QY Research

  • 測定の問題に関する技術Q&A 製品画像

    測定の問題に関する技術Q&A

    【技術資料進呈中】測定の問題に関する疑問をQ&A形式で掲載!

    を 行っている株式会社フォトンプローブが発行する技術資料です。 測定の問題に関する疑問をQ&A形式で掲載しています。 「光測定とは何?」をはじめ、「光測定の利点欠点は?」や 「光ヘテロダイン計測とは?」など、測定の疑問にお答えしています。 【掲載内容】 ■光測定とは何? ■光測定の利点欠点は? ■光ヘテロダイン計測とは? ■なぜレーザを使うのか?レーザの優位性は? ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 動的光散乱式 粒度分布測定装置『NANOTRAC FLEX』 製品画像

    動的光散乱式 粒度分布測定装置『NANOTRAC FLEX』

    デモ/分析受付中 ナノ粒子径測定装置として世界最小レベルの大きさ!幅広…

    『NANOTRAC FLEX』は、プローブ機構を外部に取り出したことで、ビーカー 等様々な容器でフレキシブルに測定できる粒子径分布(粒度分布)測定装置です。 豊富な実績のナノトラックシリーズの特長はそのままに、流動電位測定 装置Stabinoとの組み合わせにより更に多くのアプリケーションへ対応可能。 ナノ粒子径測定装置として世界最小レベルの大きさとなっております。 【特長】 ...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロトラック・ベル株式会社

  • 高速・高精度複屈折測定装置『ABR-100』 製品画像

    高速・高精度複屈折測定装置『ABR-100』

    従来の10倍速以上の高速測定へ!ABRの信頼はそのままに、高速測定が可…

    測システムです。 従来製品のアルゴリズムは変更せず、新たにデジタル位相計を採用。 各部品の見直しを行ったことにより、計測精度を保ったまま10倍の 計測速度を実現いたしました。 光ヘテロダイン干渉計とフーリエ解析を用いて、高分解能・高精度で、 外乱の影響を受けない測定が可能です。 【特長】 ■従来製品のアルゴリズムは変更せず、新たにデジタル位相計を採用 ■計測精度を保っ...

    メーカー・取り扱い企業: ユニオプト株式会社

  • 株式会社フォトンプローブ 音叉特性実験及びFFT解析 報告資料 製品画像

    株式会社フォトンプローブ 音叉特性実験及びFFT解析 報告資料

    音叉特性を示す例を多数掲載!

    当資料は、光ヘテロダイン変位計「HV400」による、音叉振動測定による 音叉特性実験の報告資料です。 この実験を通して、音叉は単一振動ではなく複雑な振動が重畳している ということを示し、モードで説明されるよ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』 製品画像

    粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』

    DLS 式粒度分布とELS 式ゼータ電位測定を一台で迅速かつ簡単に行え…

    『Nicomp Nano 3000シリーズ』は、動的光散乱法(DLS)による粒度分布測定と電気泳動光散乱法(ELS)によるゼータ電位測定を、一台で迅速かつ簡単に行えます。 粒度分布測定においては、高出力レーザーと高感度検出器の組合せにより、シングルナノ粒子からの測定を実現させます。 ゼータ電位測定においては静止層へ光学的調整が一切不要な構造を採用しているため、どなたでも簡単にゼータ電位を測...

    メーカー・取り扱い企業: 日本インテグリス合同会社

  • 変位計・厚さ計カタログ 製品画像

    変位計・厚さ計カタログ

    ナノメートルの位置検出・厚み測定などに最適。もとの物理量を正確に知る測…

    【特長】 ○レーザー方式(光ヘテロダイン) →超高分解能、超高速応答、干渉計ならではの高性能 →測定スポット径70μm ○静電容量方式/高速応答モデル(アクティブ型) →極細Φ0.1mmプローブ/高速応答 →小型の対象を測...

    メーカー・取り扱い企業: 岩崎通信機株式会社

  • 【カーボンニュートラル】粒子径分布/粒度分布・ゼータ電位測定装置 製品画像

    【カーボンニュートラル】粒子径分布/粒度分布・ゼータ電位測定装置

    CO2を排出しないクリーンエネルギー“電池” の材料評価に ~粒子径分…

    NANOTRAC WAVE IIシリーズは、光学プローブによる後方散乱法測定を用いた粒子径分布(粒度分布)・ゼータ電位装置です。 低濃度から高濃度まで安定したデータを得ることが可能です。 【用途】 電池材料、飲料・食品・製薬・化粧品・セメント・インク・塗料・顔料・半導体・鉱物・高分子材料・ポリマー ※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロトラック・ベル株式会社

  • 光計測・光測定に関するテクニカルレポート Vol.14-3 製品画像

    光計測・光測定に関するテクニカルレポート Vol.14-3

    【技術資料進呈中】信号処理装置の縦分解能について掲載

    当資料は、信号処理装置の縦分解能について解説した技術資料です。 ヘテロダイン処理系において、信号処理装置が縦分解能を有するか否かを、 シンセサイザを用いて、リアルモードで検証。 2信号間の周波数差が1mHz以上の場合、理論どおりの分解能を得ました。 特にリアルモードでの5分間計測において、その分解能は、1nm 以下であり、 繰り返し測定においてもその分解能は維持されました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 光計測・光測定に関するテクニカルレポート Vol.14-4 製品画像

    光計測・光測定に関するテクニカルレポート Vol.14-4

    【技術資料進呈中】長時間測定をターゲットとしたリアルモード計測について…

    当資料は、長時間測定をターゲットとしたリアルモード計測について 解説した技術資料です。 ヘテロダイン処理系において、リアルモードでの測定技術の構築を 行いました。構築対象は、信号処理装置が主です。 シンセサイザを用いて理論どおりの動作を確認し、1nm 以下の分解能を確認。 そして、種々のパラメータの動作可能範囲を得ました。 その装置により、標準光学系を用いて空気中内および真...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 光計測・光測定に関するテクニカルレポート Vol.14-5 製品画像

    光計測・光測定に関するテクニカルレポート Vol.14-5

    【技術資料進呈中】標準型光学系におけるリアルモード長時間測定結果につい…

    当資料は、リアルモード長時間測定結果について(標準型光学系において) 掲載した技術資料です。 ヘテロダイン処理系において、いくつかの問題点を解決した後、 リアルモード測定を実施。リアルモード測定は、種々の条件を 選択できるようにしました。 そして標準型光学系において、長時間測定を行い、その変動を記録。 変位量と同時に温度変動も測定しました。 【掲載内容】 ■リアルモード...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • レーザー線幅測定システム『A0020A』 製品画像

    レーザー線幅測定システム『A0020A』

    下限50kHzまでの狭い線幅を容易かつ安定的に測定します。

    A0020A レーザー線幅測定システムは、実績のある自己遅延型ヘテロダイン方式により、安定かつ再現性の高い線幅測定ができるシステムです。デジタルコヒーレント光通信等に用いられる狭線幅レーザ光源について、下限40 kHzまでの狭い線幅を容易かつ確実に測定できます。 【特長】 ■下限40 kHzまでの狭い線幅を容易かつ確実に測定 ■A0010A RIN測定システムに統合可能 ■干渉計に自己...

    メーカー・取り扱い企業: SYCATUS株式会社

1〜24 件 / 全 24 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >
  • icadtechnicalfair7th_1_pre2.jpg