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36件 - メーカー・取り扱い企業
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370件 - カタログ
3296件
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『アルマイト処理/加工』※アルマイト処理に関する技術資料を進呈
PR当社の高精度なアルマイト処理技術により、 アルミニウム製品へアルマイ…
試作から量産まで、幅広いご要望に対応いたします。 【特長】 ■耐食性・耐摩耗性・熱放射性などの特性が向上 ■高い電気絶縁性 ■シュウ酸アルマイトは、硫酸アルマイトに比べて表面の粗化を抑制 また、高Si含有のアルミダイカスト部品に対し膜厚均一性が高い ■低反射率化(光学機器・センサー等で不要な反射を抑制) ■抗菌作用の付与 ■アルマイト条件を高精度に管理することで、 膜厚・皮膜...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社豊田電研
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PRAEM(アニオン交換膜)式水電解を採用。アルカリ水電解・PEM水電解の…
【AEM式水電解水素製造装置 3つの特長】 1.高圧・高純度の水素を生成 99.999%純度の水素を3.5MPaGの高圧で生成可能。電極反応はアルカリ 水電解と同じですが、腐食性の高い濃アルカリ液を使用しません。セ ル構造はPEM水電解と同様、膜電極接合体構造で高速応答性、広い運 転範囲、間欠運転を許容する等の優れた特性を持ちます。 2.貴金属不要で低コストを実現 ...
メーカー・取り扱い企業: 三國機械工業株式会社
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お持ちの顕微鏡とドッキングも可能!顕微鏡膜測定と2D分光放射オプション…
『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うこと...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード
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1ライン3CH設置や、工程前後に測定が可能!多ポイント膜厚測定
多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使…
『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うこと...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード
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多数の納入実績を誇る業界標準機!リニアアレー受光素子を採用
『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、 高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。 スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の 同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。 各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アークステーション
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測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…
『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード
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多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応!
光学膜厚測定システム『DF-1045R1』は、反射率スペクトル測定光学系と スペクトル解析ソフトウエアの連携により、薄膜の膜厚・光学定数を 簡便に測定することができる分光システムです。 小型CC...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社テクノ・シナジー
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空気中と水中でSi基板上のSiO2膜(シリコン酸化膜)を測定!薄膜解析…
『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触水中膜厚計です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード
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測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…
『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、FFT(高速フーリエ 変換)等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード
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フィルムや板状の膜厚を非破壊的にライン測定
各酸化膜、シリコン、フォトレジスト、各種フィルム、油膜、コーティング材、接着剤、金属酸化膜、誘電体膜などを光の干渉を用いて、非接触にそれら厚みを高精度に測定します。主にハロゲン光を使いますので、人体への影響...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社スペクトラ・コープ
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様々な膜厚み計測に対応
パソコン一体型からフラッシュランプ測定までの様々な機種を取り揃えております。100nmから1000μmまでの膜厚に対応できます。自社においてソフトウエア、分光計、検出器を製作しており特注計測にも十分にお応えできます。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ラムダビジョン 営業
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薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…
日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率(N,K値)波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。 【測定可能な物理...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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色彩共焦点式技術を使用した非接触式センサーで、白色光が透過するさまざま…
えることができます。 1チャンネルの「CPS1」と2チャンネルの「CPS2」の2モデルをご用意しています。 <特徴> ・白色光を反射できるさまざまな材料(例:金属、ガラス、プラスチック、塗膜、液体)の測定が可能 ・対象に触れずに測定の必要があるすべての場合で非接触式測定が可能 ・1つの光学プローブで最大5層の透明層を同時に測定可能 ・高い測定精度 ・交換可能なセンサー(最大32...
メーカー・取り扱い企業: マーポス株式会社
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多層膜など多くのパラメーターが一度に解析!小型・高速分光エリプソメータ
分光エリプソメータMASS-105は白色光を用いたエリプソメータです。レザータイプに比べ、多層膜などの多くのパラメーター(膜厚、屈折率、吸収係数)が一度に解析できます。分光器には、2048分割のCCDタイプを用いるなど、性能・機能はパワフルなものとなっています。また、分光解析ソフト“SCOUT...
メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社
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回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催
多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …
『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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コーティングの膜厚を非接触で一瞬で測定可能なソリューション
測定原理は熱反射に類似しており、光を対象物に照射させ、熱の伝わる伝搬時間をコーティング厚さへ変換します。 特定の素材や材料に左右されず測定が可能で、紛体・液体も問わず測定が可能です。 ...・非破壊、非接触でコーティング厚さの測定が可能 ・金属、樹脂、木材、コンクリート等材料に左右されず、測定が可能 ・コーティングの状態(紛体・液体)を問わず測定が可能 ・曲面やエッジなどの測定しづら...
メーカー・取り扱い企業: エフティーエス株式会社
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回転寿司や駅の切符売り場でもおなじみのタッチパネルを検査評価します
『タッチパネルリニアリティテスター』は、4線式抵抗膜方式の タッチパネルに対応するタッチパネルテスターです。 カーボン系のノンレアメタル抵抗膜を使って、タッチパネルの試作、及び タッチパネルCRTやタッチパネルナビを試作した実績があります。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌティーエス
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反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた、光学式薄膜測定装置。
反射分光法とカーブフィット法を組み合わせた光学式薄膜測定装置 ■□■特徴■□■ ■透明または半透明な薄膜の表面と基板との界面からの反射を 解析することにより、数秒で解析が簡単に行える ■膜厚の他、光学定数の測定もこの1台で行えるの...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社レスター システムビジネスユニット
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プラスチック容器・シートなどのサンプルに含まれる素材の含有量の測定が可…
【測定対象】 ■プラスチック容器(積層構造、混合素材) ■プラスチックシート(積層構造) ■プラスチックシート+(金属膜、DLC膜など) ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社幸立工業 村山事業所
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空気流動域内における温度境界層を1/100mm間隔でトラバースして …
○内管および内管内を流動する温水(液体)域 計測項目:流量・内管内温水温度・B内管外壁表面温度 計算項目:内管内壁表面温度・レイノルズ数・ヌスセルト数・ 水から内管内壁への境膜伝熱係数(熱伝達率) ○内・外管の間の環状部を流動する空気(気体)域 計測項目:流量・入出口温度・温度境界層(1/100mm毎トラバス)・温度勾配 計算項目:レイノルズ数・ヌスセルト数...
メーカー・取り扱い企業: 東京メータ株式会社
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半導体プロセス中の対象ウエハの放射率をリアルタイムに測定し補正を行うた…
定自体の信頼性が乏しいことがその理由でした。 弊社取扱のリアルタイム放射率補正型半導体プロセス温度モニターは、今まで無し得なかった対象ウエハの放射率をリアルタイムに測定し補正を行うため、ウエハ膜の種類に依存せず正確な温度測定が実現可能になりました。 また、独自の赤外線高感度測定技術により、低温まで(検出器の感度限界近くまで)測定出来ます。 今まで問題になっていたチャンバー中の迷光に付...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム
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光受動部品(アイソレータ、サーキュレータ、WDM、光カプラー)
各メーカーのアイソレータやサーキュレータなどの光受動部品を多数掲載!
光通信などの用途に輸出入販売しているサンインスツルメントでは、 『光受動部品(アイソレータ、サーキュレータ、WDM、光カプラー)』を 取り扱っています。 資料では、Auxora社の多層膜フィルターやCWDMモジュールをはじめ Auxora社の分光用フィルターなどをご紹介しています。 【掲載製品(抜粋)】 ■メーカー:Agiltron ・ハイパワーハンドリングパッシブコン...
メーカー・取り扱い企業: サンインスツルメント株式会社 本社
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光学干渉式膜厚測定により、非接触で高速計測が可能。表面または中間層の二…
昨今のLED測定アプリケーションはその使用マーケットの拡大に伴い多種多様化しており、既存の測定装置では用途に応じた対応が困難となってきています。 またLED関連企業の多くは技術的な難しさに加え、測定という新たなプロジェクトに対し多額な予算を準備することに戸惑いを持っており、LED及びLEDディスプレイの測定への高いハードルとなっています。 弊社はその現状を踏まえ、LED測定用モバイル分光測定装...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社スペクトラ・コープ
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分光器と組み合わせてあらゆる計測用途に対応する校正・計測用光源や光ファ…
Avantes社の光源、光ファイバー、アクセサリーは、ファイバー入射型分光器と合わせて種々の計測のシステムを構成します。 各種測定構成: カラー測定、UV/VIS吸収・透過測定、発光測定、膜厚測定、ラマン分光 AvaLight-HAL-S-MINIは、可視域~近赤外域でベストな光源が得られるタングステン・ハロゲン光源 特長 ●ドリフトやランプ退化もなくロングライフ仕様 ●波...
メーカー・取り扱い企業: フォトテクニカ株式会社
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精密機器のことなら当社におまかせください
【取扱製品】 ■レーザー機器 ・半導体レーザー装置 ・半導体レーザー励起固体レーザー装置 ・フラッシュランプ励起固体レーザー装置 など ■光学機器 ・顕微鏡 ・蛍光X線膜厚測定器 ・色差計・光沢度計 ・リードフレーム全自動外観検査装置 など ■高周波電源 ・半導体工場向けおよび研究機関向け高周波電源 ・高周波増幅器 ・整合器 など ※詳し...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アライズテクノロジー
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自動楕円偏光解析装置 レーザーエリプソメータMARY-102
小型・低価格・高精度・使い易さを追求した自動楕円偏光解析装置。
レーザーエリプソメータMARY-102はレーザー光による偏光解析法を用いてシリコンやガラス基板の光学特性、又はそれらを基板上の薄膜の膜厚や光学特性(屈折率など)を測定します。MARY-102は、ファイブラボ株式会社の光計測技術を基に、小型・低価格・高精度・使い易さを追求して開発されました。 シミュレーション機能等を充実させた研...
メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社
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Zemax の光学メカ設計ソフトウェア と 光学設計ソフトウェア を使…
が提供している観測用昼光カメラ用レンズは、50 年以上前に取得された光学設計に関する米国特許に基づいています。この特許は、Sony IMX290/291 LQR 正方画素配列CMOS(相補性金属酸化膜半導体)イメージセンサの 1/2.8 インチチップなどの製品に適用されています。 ※記事の続きは関連リンクでご覧ください。...
メーカー・取り扱い企業: アンシス・ジャパン株式会社
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サンプルへの入射光は擬似平行光になっており、装置由来の干渉を低減してい…
『OD-10』は、従来の分光光度計では測定が出来なかった光学濃度OD10まで 測定が出来る分光光度計です。 多層膜フィルタ・高濃度フィルタ・遮光フィルム・高濃度溶液など さまざまな低透過率のサンプル測定に好適。 ロックインアンプ方式およびフォトンカウンティング方式の組み合わせにより 高精度測定が可能と...
メーカー・取り扱い企業: 分光計器株式会社
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透明物体内の歪を色と模様で測定する歪検査器!
【測定方法】 ■直交ニコル法 ■平行ニコル法 ■鋭敏色板法 ■回転円板歪標準器法 ■並列膜型歪標準器法 ■セナルモン法 ■補償法 ■円偏光法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社折原製作所
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既存の枠にとらわれることなく「いいものは使い、無いものは作る」
【取扱製品(抜粋)】 ■光学膜厚測定システム(テクノ・シナジー) ■顕微分光システム(テクノ・シナジー) ■有機太陽電池パラメーターアナライザー(テクノ・シナジー) ■高輝度照射分光システム(テクノ・シナジー) ■NS...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社テクノ・シナジー
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分光放射照度・色測定システム
らは、ほんの一例です。アヴァンテス社はお客様のご要望に応じた測定の提供を常に心掛けております。このような広範な産業分野のお客様を助けるため、色測定、分光放射測定、吸光度測定、透過率測定、反射率測定、膜厚測定、プロセスコントロール、ラマン分光などの測定技術を開発しました。 アヴァンテス社では、マルチチャンネル分光器を中心に多くのアクセサリー、OEM用部品などお客様のトータルサポートを提供いた...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ
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反射率・表面色測定システム
らは、ほんの一例です。アヴァンテス社はお客様のご要望に応じた測定の提供を常に心掛けております。このような広範な産業分野のお客様を助けるため、色測定、分光放射測定、吸光度測定、透過率測定、反射率測定、膜厚測定、プロセスコントロール、ラマン分光などの測定技術を開発しました。 アヴァンテス社では、マルチチャンネル分光器を中心に多くのアクセサリー、OEM用部品などお客様のトータルサポートを提供いた...
メーカー・取り扱い企業: 有限会社ミロクロ
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【カスタム仕様等の対応可能】非接触膜厚測定システム『FF8』
測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定シ…
『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、FFT(高速フーリエ 変換)等によって膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード
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プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…
●光導波損失・測定可能精度:0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度(当社調べ) ●光屈折率・測定可能範囲:1.0〜2.4 精度:0.001 ●膜厚・測定可能範囲:0.4um〜30um 精度:±0.5% ●温度依存性・測定可能範囲:室温〜摂氏100度(光屈折率の測定が可能) ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社マツボー
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サンプル水平置きタイプで、多彩なサンプルに対応が可能!
用 ○解析力 →分光解析ソフトウエアー“SCOUT”を標準装備 ○再現性 →オプティカルエンコーダとホールモータの組み合わせにより高再測定を実現 ○信頼性 →校正時、NIST基準の数種の膜厚のSiO2/SIサンプル →2種のガラス基板の光学定数測定 【仕様】 ○測定方式:回転位相子法 ○光源:150W Ha ランプ ○ビーム経:約φ1~5mm ○入射角:約70・60・...
メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社
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フッ素膜【フッ素薄膜処理における真空蒸着法とスプレー法の違い】
各処理方法のメリット・デメリットを分かりやすく紹介した資料進呈…
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各処理方法のメリット・デメリットを分かりやすく紹介した資料進呈…
株式会社カツラヤマテクノロジー T&K事業部 -
組込用小型高圧ポンプ FSBL-50
電気を使用しないエア駆動式。防火・防爆地区に適応します。 発売…
株式会社テクノメイト