太陽電池の最大電力点で動作「MPPT負荷装置」シリーズ

PR独自MPPT制御機能を採用し、様々な太陽光の照度・角度・温度条件で最大…

太陽電池モジュールの最大動作点（Pmax）で追従する装置です。 太陽電池の発電性能を評価するには、太陽電池を実際に発電状態にする必要があります。負荷を接続しないと電流は流れませんので、発電性能を計測できません。 本装置は太陽電池を接続することで、その出力電力を内部で熱に変換することにより消費します。最低限の計測環境を構築するだけで太陽電池の発電量計測が可能です（本装置内で毎秒電圧・電流・電力を...

メーカー・取り扱い企業： 日本カーネルシステム株式会社 本社

電流導入端子

PR高真空、超高真空へ の電流導入端子です！

米国MPFプロダクト社の電流導入端子のご紹介です。 ■MIL丸型、C-Sub型のマルチピン、熱電対、高電流・高電圧タイプ、同軸タイプ等各種電流導入端子を取り扱っております。 ■電流導入端子と併せて使用するコネクタ、ケーブル等もお取り扱いがございます。 ■標準品のカスタマイズ（フランジの変更、ピン長さの変更等）にも対応しております。まずはお問い合わせ下さいませ。 ※詳しくはカタログを...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社テクサム

【分析事例】極低加速電圧条件での微細構造観察

極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価

状といった微細構造は製品の特性や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ・加速電圧0.1～30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能（装置による） ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 　EDX検出器による元素分析が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機薄膜太陽電池の断面観察

低加速電圧のSTEMを用いると有機膜のわずかな密度の違いが観えます

p型・n型材料の混合膜を使用するバルクへテロ接合型太陽電池では、高効率化のために膜内の材料の混合状態を適切に制御する必要があります。密度が低い膜（有機膜など）においては、TEM専用機を用いた高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることが困難です。 一方、わずかな密度の違いが反映される低加速電圧のSTEM像観察では膜内の混合状態が明瞭に観察できています。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。 ２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。 ３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化量も異なり特異な電流値（または電圧値）として検出される。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇…

発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…

ております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 【EBAC法による解析事例】 ■SEM像 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析

デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供

パワーデバイスは高電圧・大電流のスイッチとして電力/省エネの観点で注目されています。パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiCSchottkyDiodeのブレークダウン観察

前処理から発光箇所特定まで一貫解析

高電圧電源（2000Vまで印加可能）を用いることで、耐圧の高いダイオードに対してもブレークダウンを発生させることができます。 本事例では600V耐圧のSiC Schottky Diodeを動作させ、逆方...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】バイポーラトランジスタ（IGBT）の不良品調査

高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

常がある場合は、IR顕微鏡でも異常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を特定する例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

WDXによる元素分析サービス｜JTL

材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。

光結晶も装備されていますので、B～Uまでの元素の高精度な定量が可能です。 【微小領域（サブミクロンオーダー）の分析空間分解能】 FE-EPMAは電解放射（FE）型電子銃を採用しており、低加速電圧、WDX分析電流範囲 (10～100 nA) でも微小プローブが得られるため、低加速電圧を用いた高いX線空間分解能の分析が可能です。 サブミクロンオーダーまで分析領域が絞れるため、30,000倍程...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

■広がり抵抗とは 試料にバイアス電圧を加えて、探針直下に存在するキャリアを探針に流入させ、その電流を対数アンプで増幅して、抵抗値として計測します。このとき、印加したバイアス電圧は、探針の直下で急激に減衰します。そのため、探針に流入でき...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電子機器の加速劣化試験サービス

お客様の製品に適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施！加速劣化試…

れ方やお悩み事項等のヒアリング内容から、お客様の製品に 適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施。 部品選定・評価検討段階から、お気軽にご相談下さい。 【特長】 ■一般的な温湿度・電圧印加は勿論、絶縁劣化時でも好適な印加電圧を 　ダイナミックに自動制御し、絶縁劣化後の最悪事象の確認が可能 ■加速劣化試験の立案・実施の他、試験終了後、 絶縁劣化箇所の特定から、 　劣化・断線箇...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SE...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電動車両の性能評価

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

■4WDシャシダイナモメータ ■計測項目 　・速度 　・燃料消費量 　・バッテリ電圧，バッテリ電流，バッテリ電力 　・モータ電圧，モータ電流，モータ電力 　・排出ガス成分 　・ホイールトルク 　・車両CANデータ 　・水素流量　ほか...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人日本自動車研究所

EV/PHEV用 AC 普通充電器評価試験

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

ュレータ）に置き換えることで様々な条件下での評価が可能です． ●EV/PHEV用AC普通充電器のCPLT信号評価 ●充電器 - EV/PHEVのマッチングテスト ●電源イミュニティ試験　（電圧ディップ，短時間停電，電圧高調波） 試験設備や委託試験に関しましてお気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人日本自動車研究所

装置設計支援の事例

300を超える装置設計支援と多業界・多分野での実績有！装置設計支援の事…

ニューアル） など、装置開発の様々なお悩み・希望を解決いたします。 300を超える装置設計支援と多業界・多分野での実績もございます。 ぜひご相談ください。 【掲載事例】 ■高電流・電圧ケーブル巻取装置 ■細菌検査装置 ■RFIDファイバ実装装置 ■クローラロボット ■マイクロ流路チップ・セルソータ ■撹拌・洗浄装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＡＵＣ

パワーデバイスの故障解析

ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

IRCH解析・裏面エミッション解析－ 　IR-OBIRCH解析：～100mA/10V　～100uA/25V　まで対応 　エミッション解析：～2kV　まで対応 　＊低抵抗ショート、微小リーク、高電圧耐圧不良など幅広い不良特性に対応 ■リーク箇所のピンポイント断面観察－SEM・TEM－ 　予測される不良に合わせてSEM観察・TEM観察を選択し 　リーク不良箇所をピンポイントで物理観察/...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ユカインダストリーズ株式会社『一般特性試験』のご紹介

電気絶縁油の保守管理！一般特性試験

ユカインダストリーズ株式会社では、電気学会および石油学会の 「電気絶縁油保守管理指針」に基づき絶縁破壊電圧、体積抵抗率、 酸価、水分量などの特性評価を行っております。 劣化した絶縁油は、絶縁性能や冷却性能が低下するため、定期的な 分析をお勧めしております。 年間約5000試料、これまで約...

メーカー・取り扱い企業： ユカインダストリーズ株式会社 東京本社

シミュレーション解析

富士電子工業では、シミュレーション解析の専任スタッフがおり、高周波焼入…

富士電子工業のシミュレーション解析は、永年蓄積されたデータに基づいて選定された周波数・電圧などの条件入力からワークの温度分布・温度履歴・電力等を計算出力します。 焼入パターンの推測・最高温度・内部温度・コイルの寿命などトータルで解析していきます。 その後は、シミュレーション解析結...

メーカー・取り扱い企業： 富士電子工業株式会社

パワーサイクル試験（パワーモジュールの信頼性評価）

パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

易 ■ON時間：0.01sec～300sec（0.01秒単位で設定可能） ■冷却時間：0.5sec～1,000sec ■冷却温度：水冷式／-5℃～100℃、空冷式／-40℃～175℃ ■試験電圧：最大15V程度（8V以上は要相談） ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

パワーデバイスのHAST試験

パワーデバイスに対して高温･高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能！…

【仕様】 　試験電圧 ：最大DC1000Vまで印加可能 (正極コモン･保護抵抗110kΩ) 　試験数量 ：最大30個 (正極側) 　対応モジュール ：TO-247､TO-220 等 (その他のパッケージは要相...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

TEMによる電子部品・材料の解析

TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

■エミッション発光にて特定した故障部位は 　FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて 　故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し 　最適な像を得ることができます。 ■TEM像倍率をあらかじめ校正しておき 　2%以下の誤差...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

ナノフォーカス・マイクロフォーカスX線CTスキャンサービス

形状のぼやけが極めて少ない高解像度画像を提供いたします

X線管タイプ：ナノフォーカス・マイクロフォーカス　オープンチューブ（ニ管球搭) 最大管電圧 / 最大出力：180kV / 15W (ナノフォーカス)・300kV / 500W (マイクロフォーカス) フォーカスと検知器との距離（FPD）：800mm 倍率：1.33-100倍 検出能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社光佐株式会社

リチウムイオン電池向けのソリューションならコネックスシステムズ

コネックスシステムズは電池開発における、専門的な知見でお客様の目的や用…

ンスのLFPセルを採用し、長寿命･安全･温度範囲が広い ・エネルギー密度が高い･コンパクト･軽量･環境にやさしい ・効率が高い･充電が速い ・制御装置（BMS）内蔵で、安心安全･信頼性が高い（電圧･電流･温度の保護機能付き） ・鉛蓄電池（VRLAバッテリー）と同じサイズで置き換えが簡単 ・メンテナンスフリー ...

メーカー・取り扱い企業： CONNEXX SYSTEMS株式会社

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

m程度） ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製（特定箇所の断面出しが可能） ・微細パターン（数μm～数十μm）のデポジション薄膜形成が可能（C・W・Ptの成膜） ・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM（Scanning Ion Microscope）像観察が可能 ・SIM像で金属結晶粒（Al, Cu等）の観察が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［GC/MS］ガスクロマトグラフィー質量分析法

有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

成したイオン（分子イオン）の一部はさらに開裂してフラグメントイオンが生成します。 ■質量分離(四重極型) 生成したイオンは4本のロッドからなる四重極型質量分析計に導入されます。ロッドにかける電圧を調整することにより、特定の質量のイオンのみが検出器に到達し分子の質量情報を有するマススペクトルが得られます。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】液晶材料の分子構造解析

GC/TOFMSにより液晶ディスプレイ中液晶分子の構造推定が可能です。

液晶パネルの応答速度、駆動電圧、コントラストの信頼性特性は、液晶分子構造などに起因します。そのため、分子構造の詳細を解析することは、液晶パネルの表示特性を制御するのに不可欠です。ここでは、市販品のパネル中の液体成分を抽出し、GC...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】FIB低加速加工

FIB：集束イオンビーム加工

FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン（加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

気容量変化によるキャリア分布の可視化 探針と半導体との接触箇所はMOS構造となり、半導体表面の酸化膜の静電容量COxと半導体の静電容量CDが接続された系とみなすことができます。この系に対して高周波電圧VACを印加すると、合成容量Cが変動します。 この変動は探針直下の半導体中のキャリアの振動によるものにほかならず、変動の大きさは探針直下のキャリア濃度に依存します。 探針を走査させながら、合成容...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201901-01 Ga2O3膜の分析評価技術

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

試料の表面SEM像および断面TEM像 図５　Sn 0.1%狙い試料の制限視野電子回折パターン 図６　Sn濃度のSIMS分析結果 図７　sMIM-C信号プロファイル 図８　CLスペクトル（加速電圧3kV）...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

工業用CTスキャン受託サービス

CTスキャンによる三次元測定！幅広い材料に適用し研究や設計支援に役立ち…

【装置仕様(抜粋)】 ■XT H320(Nikon Metrology) ・X線源：320kV / 225kV ・最大管電圧･出力：320kV 320W / 225kV 225W ・焦点サイズ：30μm / 3μm ・最大倍率(分解能)：25倍(8μm) / 150倍(1.3μm) ・ディテクタ：Flat Pane...

メーカー・取り扱い企業： 中外テクノス株式会社

電動車両のパワートレイン性能評価

自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

電動車両のパワートレインに関わる以下の様な性能評価が可能です． ●電気自動車上でのモータの評価 　・外部の充放電装置から電力を供給することで、バッテリ電圧の影響を受けずに、様々な電力供給条件での電動パワーユニットの性能評価が可能 ●バッテリの温度・湿度依存性評価 　・車両からバッテリパックを取り外し、パックのみを恒温恒湿槽に入れた状態でシャシダイ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人日本自動車研究所

事例　製品環境でのパッケージ　熱抵抗測定技術

半導体の熱抵抗を正しく測定できていますか？熱シミュレーション技術とコラ…

ップ全体でなくても、動作エリアを確実に把握できる発熱源を使いたい ○印加電流を押さえ、ジュール熱の影響を受けないよう電力供給を行いたい 【解決策】 ○高耐圧のエリアをクランプさせ低電流・高電圧で発熱させる。 ○AVCCは高耐圧クランプが期待できる。 →10V以上の耐圧が望ましい 【ランプ耐圧を使う場合の測定上の効果】 ○クランプ発熱時、耐圧が温度と共にPositive側にシフ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【装置設計支援：事例】高電流・電圧ケーブル巻取装置

装置設計支援と多業界・多分野での実績多数！装置設計支援の事例をご紹介

ューアル） など、装置開発の様々なお悩み・希望を解決いたします。 300を超える装置設計支援と多業界・多分野での実績もございます。 ぜひご相談ください。 【事例】 ■製品：高電流・電圧ケーブル巻取装置 ■サイズ：W780×D1000×H900mm ■重量：100kgW ■使用ケーブル：φ14mm×30m ■巻取最大速度：3m/s ■巻取トルク：180N・m ■インフラ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＡＵＣ

【分析事例】有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価

雰囲気制御下での前処理および深さ方向分析が可能です

p型・n型材料の活性層を使用するバルクへテロ接合型太陽電池では、膜内の材料の混合状態を適切に制御する必要があります。 成膜後アニール処理をすることで、開回路電圧の変化なくフィルファクターの向上に伴い光電変換効率の向上が見られた試料について、TOF-SIMS深さ方向分析を行いました。その結果、PEDOT:PSS層との界面において、アニール前ではPCBMが偏析...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST