• 新光電子株式会社 創業50周年記念サイトオープン 製品画像

    新光電子株式会社 創業50周年記念サイトオープン

    PR50周年事業としてリ・ブランディングを行いました。次なる50年で「全て…

    弊社は、2024年4月1日に創業50周年を迎える事となりました。 創業当初より「オプト世紀を追及する」というキャッチコピーを掲げさせていただき、 半世紀を送りました。 次の50年を胸を張って迎えることが出来るのも、ひとえにこれまで関わっていただきました お取引先様、従業員やご家族、関係各位のご助力があってのことと、改めまして、 深く感謝の意を胸に刻む次第です。 この場を借りて厚く御礼申し上げ...

    メーカー・取り扱い企業: 新光電子株式会社

  • 【カタログ進呈!】高性能オシロスコープ PicoScope  製品画像

    【カタログ進呈!】高性能オシロスコープ PicoScope

    PR先端デバイスの開発など、優れた信号解析性能が要求されるアプリケーション…

    高性能オシロスコープPicoScope 6428E-Dは、 既存のPicoScope 6000Eシリーズの性能を拡張したもの。 高エネルギー物理学、LIDAR、VISAR、分光分析、加速器、 および他の高速信号解析に取り組む科学者や研究者にとって理想的なツールです。 【特徴】 ・周波数帯域 3 GHz ・最高サンプリング速度 10 GS/s ・分解能可変8-12ビット ・メモリ4GS ・アナロ...

    メーカー・取り扱い企業: Pico Technology Ltd.

  • フルカーモデル50km/h前面衝突解析 製品画像

    フルカーモデル50km/h前面衝突解析

    衝突安全性能を評価!フルカーモデルの衝突解析を実施した例をご紹介

    当社のCAE解析に関するサービスをご紹介します。 フルカーモデルの衝突解析を実施した例を掲載。 解析結果より車両減速度変位図(G-S線図)を描き、 衝突安全性能を評価。 当社は、自動車開発と鉄道車両開発における設計 実績を活かし、初期評価から改善策の提案まで致します。 【概要】 ■RADIOSS:衝突解析 ・要素数:1,919,302 ・節点数:1,969,831 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HIVEC

  • 技術情報誌 201903-01 最先端SIMS分析装置 製品画像

    技術情報誌 201903-01 最先端SIMS分析装置

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 最先端の二次イオン質量分析(SIMS)装置であるNanoSIMS 50Lは、プローブ径約50 nmのイオンビームと、透過率の高い質量分析系の併用により、従来のSIMSに比べて約2桁高い空間分解能でイメージング測定を行うことが可能である。本稿では、NanoSIMS 50...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステム 製品画像

    狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステム

    50MHz~6GHz帯の20~40MHz BWをノートPCに連続収録・…

    狭帯域RFレコーダー・キャプチャ&プレイバックシステムは、50MHz~6GHz帯の20~40MHz BWをノートPCに連続収録・再生することができます。 NI-USRPとノートPCを使用することで従来品よりも数分の一の価格を実現。データ収録には厳選したS...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ドルフィンシステム

  • DMA(動的粘弾性測定) 製品画像

    DMA(動的粘弾性測定)

    両持ち梁曲げ、自由支持3点曲げなど多様な測定モードをご用意しております…

    【測定モードと試料サイズ】 ■引張り ・長さ:25~55mm ・厚さ:0.001~3mm ・幅:~10mm ・適した材料:フィルム等、単一材料 ■両持ち曲げ ・長さ:50mm ・厚さ:~5mm ・幅:~16mm ・適した材料:板、複合材 ■3点曲げ ・長さ:55, 50, 45mm ・厚さ:~5mm ・幅:~16mm ■ずり(せん断) ・長さ:最大...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定) 製品画像

    【受託分析】レーザー顕微鏡(観察&測定)

    広範囲での観察、計測も可能!レーザー顕微鏡を用いた受託分析のご紹介です

    【仕様】 <対物レンズ倍率:観察測定範囲(横)> ■10x:1350μm ■20x:675μm ■50x:270μm ■150x:90μm <対物レンズ倍率:観察測定範囲(縦)> ■10x:1012μm ■20x:506μm ■50x:202μm ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • Arイオンミリング加工 製品画像

    Arイオンミリング加工

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • エクソソームの電子顕微鏡解析 製品画像

    エクソソームの電子顕微鏡解析

    約2週間でメールにて速報をお届け!電子顕微鏡で可視化することによって形…

    当社では、『エクソソームの電子顕微鏡解析』を行っております。 電子顕微鏡で可視化することによって形態やサイズの確認が可能です。 ご用意いただくものは、サンプル50μL程度。(サンプル量はご相談) 培養上清の場合はエクソソーム濃度が低い可能性があるため、 できるだけ濃縮したサンプルをご提供ください。 血清の場合は50μLで解析できた実績がありますが、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • 恒温恒湿槽 製品画像

    恒温恒湿槽

    自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

    ■恒温恒湿槽 ・温度範囲:-30 ~ 80℃  ・湿度範囲:10 ~ 95%RH ■超低温恒温恒湿槽 ・温度範囲:-70 ~ 150℃  ・湿度範囲:20 ~ 98%RH ■環境試験装置,加圧装置 ・温度範囲:-50 ~ 150℃  ・湿度範囲:60 ~ 98%RH ■蓄電池環境試験装置 ・温度範囲:-40 ~ 150℃...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人日本自動車研究所

  • 光学応用機器開発 オプトメカトロ機器の受託開発 製品画像

    光学応用機器開発 オプトメカトロ機器の受託開発

    オプトメカトロ機器の受託開発例。

    【特徴】 ○レーザレンジファインダ →レーザーパルスを目標物に照射、その反射の時間を測定し目標物までの距離を計測する。 →ノンリフレクタで測距距離50m を得る。 ○3Dセンサ →30cm 離れたねじを0.6mm の精度で0.15 秒の短時間で認識できる。 ○アグリチェッカ・クロマトチェッカ →試験片を装置にセットするだけで試験片の呈色の...

    メーカー・取り扱い企業: エーエルティー株式会社

  • 【課題解決事例】施工日限定で天井カセット型エアコン分解洗浄 製品画像

    【課題解決事例】施工日限定で天井カセット型エアコン分解洗浄

    この日しか生産ラインを停止できない! 天井カセット型エアコン分解洗浄を…

    天井カセット型エアコン分解洗浄を1日で150台完了させた事例をご紹介します。印刷工場様からの依頼で、年の瀬も押し迫った12月30日にしかラインを止められないので「1日でまとめて洗浄してほしい」とのこと。 多台数・短納期のニーズに専任サー...

    メーカー・取り扱い企業: 日本水処理工業株式会社 本社

  • 【事例】においセンサー出力解析 製品画像

    【事例】においセンサー出力解析

    AIを活用した分析実験!においセンサーの出力データに対し、可視化や主成…

    します。 当センサーは20種のエレメントより構成されており、においの元となる サンプルの入力により、各エレメントの反応がデータで出力。 今回は、食酢3種類と柔軟剤3種類のサンプルで、各50回の測定データ (データ数は、6×50×20=6,000個)をお客様にてご準備頂き、これらの データよりサンプルを特定することができるか、AIを活用した分析実験を 行いました。 【事例概...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社Team AIBOD

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    ・広範囲の観察 ・拡散層観察: TEM試料加工前に不良箇所近傍にて観察可能        構造により前処理が必要な場合あり ・FIB-SEM観察: クラック・形状異常・拡散層観察(~×50k) ・断面TEM観察: ゲート酸化膜の破壊・転位(~400k)  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    約60~70°傾斜した試料に電子線を照射すると、試料表面から約50nm以下の領域の各結晶面で回折電子線が作られます。この後方散乱電子回折を解析することで結晶性試料の方位解析の情報が得られます。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価) 製品画像

    パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価)

    パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

    析が容易なサンプルの作製が可能 ■MOSFET、IGBT、SBD、FWDなど、全てのパワー半導体に対応可能 ■同時に16素子までの試験が可能(ただし、試験サンプル・試験条件による) ■試験機を50台保有してるため試験のスケジュール調整が容易 ■ON時間:0.01sec~300sec(0.01秒単位で設定可能) ■冷却時間:0.5sec~1,000sec ■冷却温度:水冷式/-5℃~10...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像

    【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

    新しく装置を導入!試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

    析装置:マルチショットパイロライザーPy-3030 ■仕様 ・検出下限:数ppm(測定対象により様々) ・ヘッドスペース:40~300℃ 試料サイズ13mm×40mm以下 ・熱分解分析装置:50~1050℃(EGA測定対応可能) 試料サイズ~4mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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