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52件 - メーカー・取り扱い企業
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29件
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CMOS ICおよびそれを含む半導体製品のラッチアップ破壊に対する耐性…
■ 512ピンまでのICモジュール、電子部品、サブシステムなどの製品に対応します。 ■ JEDEC、JEITA、AEC等の国内外の主要規格に対応した試験を提供します。 ■ お客様のご要望や目的にあった試験をご提案、実施します。 ■ 万一耐性に問題があった場合には、故障解析/原因究明か...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも…
界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応 ■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応 ■AEC-Q100-0...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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デバイス帯電モデル（Charged Device Model）のESD…
■ 各規格波形 JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC に対し ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） の両方に対応します...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ドライエアにより湿度30％未満を実現！CDM試験における主要規格の湿度…
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014において、試験時のデバイス付近の相対湿度は 30％未満にすることを要求されています。 確認方法は、サンプル設置近傍の2ヶ所に温湿度センサーを設置して温度・ 湿度...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致…
Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の 問題解決のお手伝いをします。 【特長】 ■512ピ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ESD/LATCH-UPテスタ 「モデル7000Xシリーズ」
JEITA、MIL、ESDA、JEDEC 規格準拠
にできます。 現在、規格案を討議中の、トランジェント・ラッチアップの規格等も、制定されれば、短時間で対応できます。 【特徴】 [LATCH-UP部] ○ラッチ・アップ規格JEITA、JEDEC等に適合 ○ラッチ・アップ試験の最新規格、 入力ピン条件max HI／min LO を標準装備 ○クロック／パターン発生器 ○デバイス安定化機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタ...
メーカー・取り扱い企業： 東京電子交易株式会社
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NAND FlashとControllerを1パッケージ化した、JED…
Super Talent eMMC製品は、JEDEC eMMC 5.1規格に準拠しています。 eMMCは、スマートフォン、タブレット、PDA、電子ブックリーダー、デジタルカメラ、レコーダー、MP3、MP4プレーヤー、電子学習製品、デジタルテレビ...
メーカー・取り扱い企業： Super Talent Technology, Inc. Ｓｕｐｅｒ Ｔａｌｅｎｔ Ｊａｐａｎ Ｏｆｆｉｃｅ
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放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。
コンパクトESD試験器 「HCE-5000」は、日本、海外の規格に対応した信頼性の高い装置です。 （JEITA/ESDA/JEDEC規格対応） 放電回路のユニット交換で国内・海外の規格試験をサポートします。 デバイス各端子容量の測定が可能です。測定データはテキストファイルとして保存可能です。 【特徴】 ○窒素によ...
メーカー・取り扱い企業： 阪和電子工業株式会社
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車載用半導体ICの目視外観検査撤廃を実現！3D/2D寸法検査で高精度欠…
3×3～30×30mm ・QFP、SOP：5×5～35×35mm ・QFN：3×3～12×12mm ■対象ボール径/ボールピッチ：Φ0.15mm以上/0.3mmピッチ以上 ■対象トレイ：JEDEC、JEITAトレイ ■検査項目 ＜BGA/CSP＞ ・浮き・端子高さ・スタンドオフ・反り・全高・端子中心位置・端子径 全長/全幅・パッケージ中心ズレ・パッケージ端・位置度A・端子ピッチ...
メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社
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品質総合管理が更に高速化！計測アルゴリズムの充実により、幅広い基板の検…
【その他の特長】 ■標準ライブラリーの充実(JEDEC 規格部品用ライブラリの拡張等)により検査準備設定時間の更なる短縮 ■従来の他社製品では正しく製作された電子基板とのパターン比較により合否判定をしているが、 独自の画像計測解析ソフトにより...
メーカー・取り扱い企業： 協立電機株式会社
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試験のプロが考えた、設計開発者のためのカスタムメイドパワーサイクル試験…
ジュールの特長＞ ■試験⇔測定間でサンプル付け替えの必要無し ■試験⇔測定間で取り付け方の差による測定のバラツキを回避 ■パワーサイクル試験機から過渡熱抵抗測定をスケジュール実行可能 ■JEDEC51-14に基づく評価に対応 ■2in1モジュールの場合、上下アーム個別に試験可能 ■マルチプレクサにより複数デバイスの測定に対応 ■過渡熱抵抗測定時間 ～約120秒 ■1MspsADC...
メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社
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検査自動化により、目視検査レスを実現！イメージセンサの全６面微細欠陥検…
【主要諸元】 ■対象デバイス：CMOSイメージセンサ/CCDイメージセンサ（3×3～40×40mm） ■対象端子：DIP，QFP，SOP，LCC，LGA，PGA ■対象トレイ：JEDECトレイ（薄型、厚型） ■サイクルタイム：2sec／pcs 【検査項目】 ■寸法検査 ・端子浮き・スタンドオフ・端子曲り・端子中心位置・端子ピッチ・全長／全幅・端子径・パッケージ中心...
メーカー・取り扱い企業： 日精株式会社 本社
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半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー 車載製品 実績NO.1
高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を実現します。 【検出欠陥モード】 異物付着、キズ、カケ、剥離、端子欠損、マーク不良 等 〇その他特徴 ・JEDECトレイ対応 ・多彩なオプションラインナップ 側面検査機能、テーピング収納機能、異物除去機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社
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省スペースで検査の自動化を実現！高精度2次元＆3次元寸法計測が可能な検…
【仕様】 ■対象トレイ：JEDECトレイ ■装置サイズ：1,230（W）×1,235（D）×1,500（H）mm ■装置重量：約900kg ■処理能力：1,000uph（3.6sec／個） ■供給電源：三相AC200V±...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社
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高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…
（最大使用周囲温度）の試験条件のみ となっており、高温状態での動作が要求されるデバイスでは、高温での ラッチアップ試験が推奨されています。 【ラッチアップ試験の主要規格（抜粋）】 ■JEDEC（JESD78E） ・電流パルス印加法､電源過電圧印加法 ・ClassI：室温､ClassII：最大使用周囲温度 ■JEITA｛JEITA ED4701／302（試験方法306B）｝ ・...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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