• 高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に! 製品画像

    高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に!

    PR化学結合状態分析、バイオロジーからナノテクノロジー・ポリマー・最先端材…

    様々な分野で活躍できる、日本電子株式会社の商品を3つご紹介いたします。 ご興味のある方はお気軽にお問い合わせください。 〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS)  「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現した汎用型XPSです。カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • 透過密閉型 マイクロフォーカスX線源『G-511シリーズ』 製品画像

    透過密閉型 マイクロフォーカスX線源『G-511シリーズ』

    PR先端半導体パッケージの非破壊検査に対応可能な 高解像度の X線源

    『G-511シリーズ』は、素早い画像取得ができ、ターゲットの 回転調整不要の透過密閉型マイクロフォーカスX線源です。 ウォーミングアップは3分以内で立上げ時の長い待ち時間を解消。 X線管寿命の自己診断機能で、計画的な装置保守に貢献します。 【特長】 ■ 110kV昇電圧1秒以内 ■ ターゲットメンテナンスフリー ■ ウォーミングアップ3分以内 ■ X線管寿命の自己診断機能 ■ オプションで1...

    メーカー・取り扱い企業: キヤノンアネルバ株式会社 栗木本社

  • パワーデバイスの故障解析 製品画像

    パワーデバイスの故障解析

    ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…

    あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理-裏面研磨-  各種サンプル形態に対応します。  Siチップサイズ:200um~15mm角 ■不良箇所特定-裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析-  IR-OBIRCH...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

    試料の観察や元素分析が可能!半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…

    当社では、日立ハイテク社製の卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』を 取り扱っています。 SEM観察が一般化されて半世紀。様々な分野にてSEM観察は重要な観察手段と なっています。 卓上型SEMの"帯電軽減モード"なら、FE-SEMでは観察できない試料も観察、 分析が可能。半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイエンス、 生物分野でも活用できます。 【特長】...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 発熱解析による電子部品の故障箇所特定 製品画像

    発熱解析による電子部品の故障箇所特定

    故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇…

    発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • X線透視・CT検査装置『Cheetah EVO』 製品画像

    X線透視・CT検査装置『Cheetah EVO』

    実装基板、電子部品を始め様々な部品、部材の初期観察に有効な検査装置

    『Cheetah EVO』は、リフローシュミレータも搭載されているため、はんだ付け時のボイドの挙動などリアルタイムで観察することができるX線透視・CT検査装置です。リフローの条件出しやはんだの選定などに活用可能。当社は、当製品による「インダクタコイルの観察」をはじめ、「BGAはんだクラック解析」や「IC型コイルの観察」などの事例があります。 【装置スペック(抜粋)】 ■X線発生器:マルチフ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • TEMによる電子部品・材料の解析 製品画像

    TEMによる電子部品・材料の解析

    TEM(透過型電子顕微鏡)は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析…

    TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。...■エミッション発光にて特定した故障部位は  FIBにより薄片化しながら観察します。 ■電子の透過力の大きい加速電圧400kVのTEMにて  故障部位を試料厚内に閉じ込めた状態での透過観察とFIB加工を繰り返し  最適な像を得ることができ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【X線透視・CT検査装置】装置外観と主なスペック 製品画像

    【X線透視・CT検査装置】装置外観と主なスペック

    YXLON製マルチフォーカスCheetah EVO導入!電子部品など、…

    X線観察は、非破壊検査の1手法であり、解析・分析を行う上で始めに行う検査で、 実装基板、電子部品を始め、様々な部品、部材の初期観察に有効です。 またCT検査では、3次元的に構造を捉えることができるため、視覚的な判断が可能。 「Cheetah EVO」には、リフローシミュレータも搭載されているため、はんだ付け 時のボイドの挙動などリアルタイムで観察することができ、リフローの条件出しや...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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