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PR環境配慮型製品の開発にお役立ていただけるプラスチック材料各種をはじめと…
我が国は資源小国であり他国に資源を依存しています。また、人類80億人時代にたった1度の使用で物を廃棄することは資源効率が不十分であると思います。 そうした考えのもと、当社ではリサイクル材料を各種開発・販売しております。これらのリサイクル材料等を活用した製品を設計・開発していただくことで、循環型社会の実現やSDGsの達成に貢献することが可能です。 【リサイクル材料のご紹介】 ・エコマー...
メーカー・取り扱い企業: 緑川化成工業株式会社 本社
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OPTO DIODE社 XUV−UV検出用Siフォトダイオード
軟X線〜UV領域での内部量子効率がほぼ100%
.E.), 耐放射線性, 高ダイナミックレンジ ‐ 較正可能:米NIST・独PTB・(産業技術総合研究所**) ** 波長によっては対応できません。 ★シリーズ★ ‐AXUVシリーズ:SiO2層6−8nm・100%Q.E. フォトン検出領域(0.04nm〜1100nm) 低エネルギー エレクトロン・イオン ‐UVGシリーズ:SiO2層40−150nm・100%Q.E. ...
メーカー・取り扱い企業: ラドデバイス株式会社
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空気中と水中でSi基板上のSiO2膜(シリコン酸化膜)を測定!薄膜解析…
測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 空気中と水中でSi基板上のSiO2膜(シリコン酸化膜)を測定でき、 薄膜解析オプションによりカーブフィット法による測定が可能です。 【特長】 ■サンプルの反射率を測定し、FFT等によって膜厚値の解析を行う ■膜厚測定の他にフィル...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムロード
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多層膜など多くのパラメーターが一度に解析!小型・高速分光エリプソメータ
48分割CCD採用のマルチチャンネル対応を使用 ○解析力 →分光解析ソフトウエアー“SCOUT”を標準装備 ○再現性 →光再現性測定を実現 ○信頼性 →校正時、NIST基準数種の膜厚のSiO2/SIサンプル →2種のガラス基板の光学定数測定 【仕様】 ○測定方式:回転位相子法(RQ法) ○光源:150W Ha ランプ ○ビーム経:約φ1~5mm ○入射角:約70・60・...
メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社
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サンプル水平置きタイプで、多彩なサンプルに対応が可能!
解析力 →分光解析ソフトウエアー“SCOUT”を標準装備 ○再現性 →オプティカルエンコーダとホールモータの組み合わせにより高再測定を実現 ○信頼性 →校正時、NIST基準の数種の膜厚のSiO2/SIサンプル →2種のガラス基板の光学定数測定 【仕様】 ○測定方式:回転位相子法 ○光源:150W Ha ランプ ○ビーム経:約φ1~5mm ○入射角:約70・60・50 度手...
メーカー・取り扱い企業: ファイブラボ株式会社
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