ICタグによるクリーンウェア管理サービス

PRICタグによりウェア管理業務を省力化！ 洗濯回数が把握できるようにな…

当社では、お客様のクリーンウェアにICタグを取り付け、当社工場への 入荷時と出荷時に専用のICタグリーダーで読み取りを行い、ウェアごとの 洗濯回数データを管理できる『ICタグによるクリーンウェア管理サービス』を行っております。 ICタグを取り付けたウェアごとに洗濯回数を個別管理できるため、 お客様が設定された洗濯回数を超えたウェアをタイムリーに交換可能。 ウェア劣化によるコンタミネー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社菱進

ROM書込みサービス

PRお客様は基板に載せるだけ！300社を超える主要ICサプライヤーのデバイ…

『ROM書込みサービス』は、長年の実績があり、当社グループの ISO9001認工場において、高い品質管理の下、作業を行うサービスです。 多品種で小ロット、Microchipをはじめとする主要ICメーカー製品への対応、 小ロットでのテーピング加工など、お客様の様々なご要望に柔軟に お応えする安心の書込みソリューションをご提供。 捺印・リール加工、物流まで安心の一元管理でき、煩雑な管...

メーカー・取り扱い企業： グローバル電子株式会社

半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

高速・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品：表面実装型 ICパッケージ（BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA） 、イメージセンサ、センサ製品　等 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

IC高精度外観検査装置『LI900W』

半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー　車載製品 実績NO.1

『LI900W』は、車載用IC等の高精度な検査が求められる製品の外観検査に適した装置です。 〇寸法検査 　JEITA規格に基づいた寸法検査が搭載されています。 　2D検査：全長、全幅、パッケージ中心、ピッチ、位置度、端子径　等 　3D検査：コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高　等 〇高精度欠陥検査 　高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

X線電子部品チップカウンター『iNsight-2000』

【チップカウントでお困りのお客様必見】チップカウント自動化による作業効…

近年、電子部品取扱数量増加に伴い、チップカウント時間も増加し、作業効率アップが必要であるというお困りの声を基板実装企業様からよくお聞きします。 JFE商事エレクトロニクスが提供しております『iNsight-2000』は、7-15インチに対応、7インチリールでは4リール同時で6‐9秒でカウントし、【貴社のチップカウント時間の大幅短縮】を実現いたします！ ※詳細仕様・特長は基本情報欄・PD...

メーカー・取り扱い企業： JFE商事エレクトロニクス株式会社 プロセスソリューション営業部 実装プロセス営業室

高精度3D&2D検査ユニット『VM-A』

【サンプル評価可能！】コンパクト&スリムで様々な設備へ搭載も容易！3D…

高精度な2D/3D検査を、1台で高速に行える検査ユニットです。 JEITAで規格されている半導体 ICパッケージの「端子寸法」検査及び2D/3D検査が必要な部品検査に幅広く対応します。 【特長】 ■高速・高精度な3D検査に対応します。 　3Dの寸法検査や高さのある欠陥検出も対応可能 ■2D検査に対応する様々なアルゴリズムがあります。 ■複数画像撮像を高速処理することで、様々な条件の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安永 本社

端子間異物検査装置『SEL-V170BT』

異物候補と気泡の切り分けが可能！端子間異物を好適な光学系を用いて検査し…

『SEL-V170BT』は、端子と端子の間にある異物候補を取得する画像に 応じた好適な光学系、当社独自の照明を採用して高度な検査を可能とした 端子間異物検査装置です。 ICのIN/OUTの間に検査枠を設ける事で異物候補の検出ができ、異物候補の 大きさ、輝度/色相/彩度のヒストグラム、異物と気泡の面積差と面積比の比較、 異物平均輝度等の設定を段階的に切り分けて異物候補を検出します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社昭和電気研究所

ACF接合検査装置『SEL-V170AL』

品質の見える化をサポート！ライン生産性を確保出来る高速検査を行います

『SEL-V170AL』は、IC、FPCの接合ズレ量の検査と接合部の圧痕数 カウントを、取得する検査画像に応じた好適な光学系、照明を 採用して高精度な検査を可能にしたACF接合検査装置です。 ズレ検査と圧痕カウントをそれぞれ独立したステージで行う事により、 検査タクトの高速化を図り、製造ラインの生産性を確保。 生産管理情報に基づき、品質トレンドを見える化して製造ラインの 管理が...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社昭和電気研究所

モジュール検査装置　CM8200（指紋認証モジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

CM8200は指紋認証モジュールの外観検査対応、かつ、一部電気的特性のテストを可能にした検査装置になります。になります。基本は指紋認証センサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、あらゆる外観検査に対応することが可能。昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワ...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人