• 【テカン】JASIS出展:OEM製品紹介 9月6日~8日 製品画像

    【テカン】JASIS出展:OEM製品紹介 9月6日~8日

    PROEM用の精密ポンプやロボットアーム、医療機器/診断機器の開発・製造受…

    テカンは、液体ハンドリング分野において世界的に卓越した技術を持ち、 法規対応した数多くの体外診断薬自動分析装置の開発と製造に実績があります。 ■高品質な自社発の前処理、自動分析装置を新たに上市したい方 ■ご使用中のシステムの前処理装置や次世代装置の開発製造やその効率化にご興味をお持ちの方 ぜひブースにてお気軽にお声をかけてください。 ご来場を心よりお待ち申し上げます。 【J...

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    メーカー・取り扱い企業: テカンジャパン株式会社

  • プラスチック切削加工や大物機械加工~素材調達や表面処理まで対応~ 製品画像

    プラスチック切削加工や大物機械加工~素材調達や表面処理まで対応~

    PR大物機械加工(鋳物も可)や精密部品、プラスチック加工、グループならでは…

    < 切削加工のプロフェッショナル集団 - イワタグループ > ◎株式会社イワタ:大物金属加工を得意とし、大型の鋳物までもちろん対応 ◎株式会社イワタテクノ:各種金属精密部品加工・プラスチック樹脂加工、小回りの利く多様な加工が可能 ⇒グループとしての対応力に自信があり、加工はもちろんですが、  材料手配~加工~表面処理~組付け~納品まで、全て一貫して対応可能です。  対応材質も広く、航...

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    メーカー・取り扱い企業: イワタグループ

  • 試料に生じる反りやうねり、粗さの分析および測定 製品画像

    試料に生じる反りやうねり、粗の分析および測定

    試料全体の変化を観察する技術や知見を集積!安全に駆動することが求められ…

    μmスケールでの反り計測が可能な 「TDM COMPACT3」、常温で試料全体をスキャンし、3D画像として 表示する「VR-5000」を用いています。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせくだい。 【TDM COMPACT3 仕様(一部)】 ■計測方式:プロジェクション・モアレ式 ■最大サンプルサイズ:515mm×370mm×115mm ■測定精度:±1.5μmもしくは測定値...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • アルミ電解コンデンサ充放電、リップル試験 製品画像

    アルミ電解コンデンサ充放電、リップル試験

    ご要望に応じて、カスタマイズした試験を実施!実環境に応じた部品評価試験

    アルミニウム電解コンデンサは、充放電の繰り返しにより特性の劣化が 加速。劣化速度はメーカーによって大きく異なり、カタログからでは 解らない事があります。 また、使用環境によっても左右れ、例えば、充放電電圧が高く、 放電抵抗が小いほど条件は厳しく、充放電サイクルが短く、周囲温度が 高いほど劣化は加速します。 【特長】 ■充放電の繰り返しにより特性の劣化が加速 ■劣...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ウィスカ・マイグレーション検査/プリント基板の品質評価 製品画像

    ウィスカ・マイグレーション検査/プリント基板の品質評価

    開発スピードアップに貢献!各種分析装置も取り揃えております!

    「手間暇のかかる作業に時間を取られる」「検査や評価の精度に疑問を 持っている」などのお悩みはござませんか? クオルテックにお任せ下い。開発スピードアップに貢献します。 観察・分析装置は、実体顕微鏡・デジタルマイクロスコープ・蛍光顕微鏡を 保有。この他、レーザー顕微鏡、3D測定マクロスコープ、AFM、FE-SEM、 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非破壊解析技術 3D-CSAM 製品画像

    非破壊解析技術 3D-CSAM

    現象を把握し、解析精度を向上!高情報を確認し不具合箇所の詳細を確認

    てご紹介いたします。 周波数分解機能および3D-CSAM機能により、現象を把握し、解析精度を向上。 超音波による解析は、広めにゲート範囲を設定して、波形および平面画像を取得。 また、深情報可視化と3D化として、全点波形取り込みデータから3D画像を 作成し従来の時間軸映像では検出しにくい部位を立体映像構築します。 【特長】 ■周波数分解機能および3D-CSAM機能により、...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【故障解析事例】静電気破壊の再現実験 製品画像

    【故障解析事例】静電気破壊の再現実験

    プラズマFIB装置を用いて断面を観察!広く破壊れている様子が確認れ…

    プ表面の観察後に、ロックイン発熱解析を行い、微小な故障箇所を特定。 プラズマFIB装置を用いて断面を観察した結果、表面のクレーターから、 トレンチゲート及びその直下のコレクタ領域まで広く破壊れている様子が 確認れました。 【故障解析 手順】 ■初動調査(外観観察、電気的特性測定) ■非破壊検査(X線観察、超音波顕微鏡など) ■故障箇所特定(ロックイン発熱解析、IR-OB...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術 製品画像

    ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術

    ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察!数値による評価が可能とな…

    化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱の残るものでした。 クオルテックでは、ボンディングれた箇所の裏面からシリコンをエッチング する事で、金属間化合物の生成状態を、より明確に観察する技術を開発。 金属間化合物の面積を算出し、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • プロジェクション・モアレ式高精度反り・変形測定 製品画像

    プロジェクション・モアレ式高精度反り・変形測定

    全視野を数秒で一括撮影ができるため、撮影中の温度変化が少なく、急速な昇…

    ルなどの温度条件下で、3次元画像を基に Z軸方向の反り・変形を計測・解析します。 測定システムは、プロジェクションモアレ式(モアレパターンをサンプルに 直接投影し非接触で計測のこと)が採用れることで測定精度が高く、 プロセス開発や故障解析、そして信頼性・品質管理の領域において 幅広く対応できます。 ご用命の際は当社へお気軽にお問い合わせくだい。 【特長】 ■高速度...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 車載電子機器の環境試験 製品画像

    車載電子機器の環境試験

    お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

    近年の車載環境は、温度、湿度、振動などの条件が過酷にも関わらず、 高電圧・大電流をより微細化(軽量化)れたデバイスでコントロール しなければいけません。 クオルテックでは、車載環境を忠実に再現した信頼性試験を提供するだけでなく、 JNLAの登録試験所として、お客様のご要望に合わせたオリジナ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    異常部位等を 立体的に捉えることが可能で、材質要因等でX線での評価が困難な場合でも 超音波を用いて評価できる可能性があります。 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下い。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • グローワイヤ試験 製品画像

    グローワイヤ試験

    耐火性が求められる電子部品や樹脂材料などに対して、着火温度や燃焼性を評…

    過熱が起こりうる抵抗や、トランスなどの部位に使用する 樹脂材料等に対して、その着火温度や燃焼性を評価することを目的に実施。 現在JIS(日本産業規格)、IEC(国際電気標準会議)規格等で規定れています。 【対応規格】 ■IEC 60695-2-10(JIS C 60695-2-10)、IEC 60695-2-11(JIS C 60695-2-11) ■IEC 60695-2-...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 短絡耐量試験の概要および特長 製品画像

    短絡耐量試験の概要および特長

    パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

    とが無い様に、保護回路を設ける必要があり、 Tscより十分短い時間で、保護回路が動作するように設計します。 【試験の全景】 ■デバイスは破裂してパッケージが飛び散る場合があるため、  厚10mmのアクリルケース内で試験を実施 ■大電流を供給する大容量のコンデンサとDUTは低インピーダンスで接続する  必要があり、特殊構造によりこれを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただく...

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