• マイカ断熱・絶縁コンプレッションパッドPLUS 製品画像

    マイカ断熱・絶縁コンプレッションパッドPLUS

    PREV・産業用リチウムイオンバッテリーの断熱・絶縁対策。セル間の熱暴走対…

    エルメリン社はロンドンを拠点とし、マイカ (雲母) の加工及び他の樹脂や素材と組合せることで、電気自動車や産業用大型蓄電池のリチウムイオン電池や製鉄所などに使用される断熱板や絶縁パッドなどを供給しています。 【本製品が選ばれるポイント】 ■ 約700℃~1,000℃までの耐熱性と不燃性 ■ マイカ0.1mm厚あたり2,000V の絶縁性能 ■ パッド、カバー、シート(硬質・軟質)、スリ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社木村洋行

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    水処理現場をサポートするシステム・機器のご案内<カタログ進呈>

    PRクラウド型監視システムや高速凝集沈殿槽、上向流自動逆洗濾過機などをご紹…

    当社は水処理の現場で活躍するシステムや機器を提供しています。 スイレイの現場力を最大限に活かした技術サポートを実現する クラウド型監視システム『SUIREI SACRA』をはじめ、 イオン交換処理システム、高速凝集沈殿槽、上向流自動逆洗濾過機を 用意しており、お客様のニーズに合わせた提案が可能です。 【ラインアップ】 ◎クラウド型監視システム『SUIREI SACRA』 ■セ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社スイレイ

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    IP法は、エネルギー及び方向を揃えたイオンビームを試料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス(MSTではAr)が用...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン電池電解液中のフッ化物イオン濃度評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン電池電解液中のフッ化物イオン濃度評価

    NMRを用いてフッ化物イオンの定量分析が可能です。

    リチウムイオン電池の電解液主成分であるLiPF6(六フッ化リン酸リチウム)は、水分との反応で加水分解を起こし、フッ化物イオンを発生させることが知られています。本資料では、対象化合物の標品を用いずに絶対定量が可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    [IC]イオンクロマトグラフ法

    イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

    イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 ・イオン成分の定性分析、定量分析が可能 ・少量の試料(数mL)にて分析可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Arイオンミリング加工 製品画像

    Arイオンミリング加工

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】液体中の陰イオン濃度分析 製品画像

    【分析事例】液体中の陰イオン濃度分析

    IC:イオンクロマトグラフィー

    イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 また、固体(部材)表目に付着しているこれらの成分は、純水に浸して抽出することで測定します。 MSTでは液体試料に含まれるイオンや有機酸の定性・定量分析、部材表面から溶出するイオン量評価、部材の腐食原因調査が可能です。...

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  • [SIMS]二次イオン質量分析法 製品画像

    [SIMS]二次イオン質量分析法

    二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含ま…

    イオンを試料表面に入射させると、試料表面からは電子・中性粒子・イオンなど様々な粒子が放出されます。SIMSは、これらの粒子のうちイオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です。 ・高感度(ppb~ppm) ・HからUまでの全元素の分析が可能 ・検出濃度範囲が広い(主成分元素から極微量不純物まで) ・標準試料を用いて定量分析が可能 ・深さ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価 製品画像

    【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価

    GCIB(Arクラスター)を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能

    高分子材料の表面にイオン照射を行うことにより、表面特性の変化が生じます。この変化を利用し、機能性材料の開発など広い分野で研究が行われています。イオン照射後、表面状態にどのような変化が生じたのか評価することは、効率的な研究...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【分析事例】リチウムイオン二次電池内部の非破壊観察

    X線CTによる観察事例

    リチウムイオン二次電池はスマートフォン・デジタルカメラなど、幅広く使われている電池です。リチウムイオン二次電池は充放電を繰り返すことで劣化し、電池が膨らむ現象が発生することがあります。この現象が発生した電池を調...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 製品画像

    [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であるこ…

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数cmま...

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  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像

    [SIM]走査イオン顕微鏡法

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB(集束イオンビーム)加工との組み合わせで連続的な断面SIM像の取得が可能(Slice&View)...

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  • 【資料】リチウムイオン二次電池電解液成分の分布シミュレーション 製品画像

    【資料】リチウムイオン二次電池電解液成分の分布シミュレーション

    電解液界面近傍の模式図や電解液中の溶媒和構造などを図を用いて詳しく掲載…

    リチウムイオン二次電池の充放電過程において、電解液中及び負極との界面近傍では溶媒和の形成、脱溶媒和、電気二重層の形成、Liイオンの脱挿入など様々な現象が生じています。 当資料では、有効遮蔽媒質法とRefe...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析|受託分析 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池バインダの成分分析|受託分析

    熱分解GC/MSによる有機成分の同定

    リチウムイオン二次電池は、金属、無機から有機物質、固体から液体と多種多様な材料が使用されています。各材料の物性や組合せはデバイスの特性・信頼性に大きく反映されますので、材料の正確な解析・評価が必要となります。今...

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  • 【分析事例】酸化ガリウムGa2O3 イオン注入ダメージ層の評価 製品画像

    【分析事例】酸化ガリウムGa2O3 イオン注入ダメージ層の評価

    イオン注入後のアニール条件の違いによる差異を確認

    ャップが広く、優れた物性を有することから、高効率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。デバイスの開発には、特性を左右する不純物濃度や結晶性の制御が重要です。本資料では、イオン注入による結晶構造の乱れから生じるダメージ層及び表面粗さの変化を、アニール条件毎に観察した結果を示します。 測定法:TEM・AFM 製品分野:酸化物半導体・パワーデバイス 分析目的:形状評価...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン電池の高分解能X線CT観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン電池の高分解能X線CT観察

    非破壊で電池内部の層構造・異常箇所を確認できます

    リチウムイオンポリマー電池は、モバイルバッテリーや電子機器などの身近な製品に幅広く利用されています。 本資料では、ラミネート型のリチウムイオンポリマー電池をX線CTで分析した事例を紹介します。X線CTを用いる...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池内ガスの評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池内ガスの評価

    電池内ガス成分の定性・定量

    リチウムイオン二次電池の電解液は、充放電の繰り返し等で分解しガス化することが知られています。 GC-TCDやGC/MSを使用することで、分解したガス成分を高感度に検出することができます。 GC-TCDでは8...

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  • 【分析事例】イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温PL 製品画像

    【分析事例】イオン注入及びアニール処理を行ったSiの低温PL

    照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です

    Si系半導体デバイスの作製ではイオン注入やアニール処理といった様々な処理が行われます。これらの処理前後における照射欠陥の度合いや結晶性の回復度合いを確認することは、製造プロセスを制御するにあたり重要と考えられます。低温下におけるフォ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 製品画像

    【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

    金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

    走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、...

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  • [RBS]ラザフォード後方散乱分析法 製品画像

    [RBS]ラザフォード後方散乱分析法

    固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

    RBSは固体試料にイオンビーム(H+,He++)を照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です。 散乱されたHeイオンの運動エネルギーを測定し、衝突した原子の質量数...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    【分析手法一覧】 ※こちらに記載の無い手法についても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS 二次イオン質量分析法 TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS 誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS X線光電子分光法 UPS 紫外光電子分光法 ○電...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 液体クロマトグラフ-フーリエ変換質量分析法 製品画像

    液体クロマトグラフ-フーリエ変換質量分析法

    OrbitrTM質量分析計(HRMS)による、高分解能・高精度な分析が…

    -フーリエ変換質量分析計(LC-FTMS) は、LCで分離した成分の検出にフーリエ変換質量分析計を用いることで、小数点以下4桁程度までの精密質量情報を高い分解能で取得できます。そのため、第二同位体イオンに注目したとき、13C由来のピークや34S由来のピークを分離することができ、四重極型やTOF型質量分析計と比較してより高分解能・高精度な組成推定が可能です。 また、イオントラップによる多段階MS...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【分析事例】リチウムイオン二次電池の加熱劣化試験

    加熱劣化後のサンプルをLC/MS/MS,TOF-SIMS,TEM+ED…

    リチウムイオン二次電池の開発には、高性能化・長寿命化・信頼性向上などの課題があります。これらの課題を解決するためには、電池の劣化機構の解明が重要です。今回は、温度による劣化機構についての評価のために、加熱劣化試...

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    [ICP-MS]誘導結合プラズマ質量分析法

    導結合プラズマ(ICP)を励起源として用いた無機元素分析の手法です

    ICP-MSは特定の質量/電荷比(m/z)のイオン強度を測定する手法です。イオン源としては一般的にアルゴンプラズマが用いられます。 アルゴンプラズマは、高周波電流の流れる誘導コイルを巻いた石英3重管にアルゴンを流すことで得られ、非常に高いガス...

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  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察

    Slice and Viewによる充填度・ボイドの観察

    リチウムイオン二次電池の電極は、正極・負極ともに活物質・導電助剤・バインダから構成されています。 電池の容量や信頼性等の特性には、材料の組合せや配合比・活物質の充填度・ボイド等が大きく影響していますが、このう...

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  • 【分析事例】LIB(リチウムイオン)正極材料の解析 製品画像

    【分析事例】LIB(リチウムイオン)正極材料の解析

    雰囲気制御+冷却下での原子レベル観察

    MSTでは、雰囲気制御(+冷却)下で原子レベルのTEM分析が可能です。 本資料では、リチウムイオン二次電池から大気非暴露で解体して取り出した正極材料のLiCoO2粒子を、雰囲気制御+冷却下でFIB加工・TEM分析した事例をご紹介します。-174℃に冷却しながらSTEM観察とEDX分析を行い、視...

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    [GC/MS]ガスクロマトグラフィー質量分析法

    有機化合物の定性・定量を行う分析手法です

    試料導入部で気化したサンプルはキャリアガスによって運ばれ、カラム内を通過します。カラム中の固定相との相互作用の強弱により、サンプル中各成分は成分毎に移動速度に違いが生じ、分離されます。 ■イオン化(EI法) GCで分離された各成分の分子は順次質量分析計に導入され、フィラメントから放出された熱電子と衝突することによりイオン化されます。生成したイオン(分子イオン)の一部はさらに開裂してフラ...

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    【分析事例】垂直入射法による深さ方向分解能の向上

    SIMS:二次イオン質量分析法

    ■極浅深さ方向分布の測定法 (1)斜入射法における深さ方向分解能の限界 斜入射法における深さ方向分解能の一次イオンエネルギー依存性をδドープ試料を用いて調査しました(図1)。斜入射法においては、クレータ底面の粗れにより深さ方向分解能の向上に限界があることがわかります(図2)。 (2)垂直入射法による深さ方向...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】界面および深さ方向分解能について 製品画像

    【分析事例】界面および深さ方向分解能について

    SIMS:二次イオン質量分析法

    異種材料間の界面のSIMS分析プロファイルは、深さ方向にある幅をもって変化します。これはSIMS分析の特性上、イオンビームミキシングとスパッタ表面の凹凸(ラフネス)の影響を受けるためです。検出している不純 物は、混ぜ合わされた深さまでの平均化した情報となり、深さ方向に幅を持った領域のイオンを検出します。 そ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】溶液中の窒素成分の評価 製品画像

    【分析事例】溶液中の窒素成分の評価

    無機窒素を形態別に分析可能です

    化学・材料・食品・医薬等の幅広い分野において利用されています。窒素化合物は硝酸、亜硝酸、アンモニアなどの無機窒素化合物や、アミノ酸などの有機窒素化合物などからなります。サンプルが水溶液の場合、硝酸イオン、亜硝酸イオン、アンモニウムイオンなどの無機窒素化合物についてはイオンクロマトグラフ法、有機態窒素についてはHPLCやLC/MS、また無機窒素化合物と有機窒素化合物を合わせた全窒素については吸光光...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価 製品画像

    【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価

    一粒の粉体表面に分布する成分の評価が可能

    リチウムイオン二次電池で使用される黒鉛負極粒子を塗布したシートを、TOF-SIMSにて分析した事例をご紹介します。一粒の粉体の表面にグラファイトとPVDFが分布している様子が確認できました。 飛行時間型二次イ...

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