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    半導体・センサパッケージング&カメラモジュールの開発・製造

    PR半導体・センサパッケージングや半導体モジュールの開発・試作、小中規模量…

    当社では、半導体ベアチップ実装、マイクロ接合技術による小型実装モジュールの開発から、 小中規模の量産までワンストップでサポートします。 カメラの受託製造も承っています。 こんなことでお困りの方、お気軽にお問い合わせください! 【モジュール開発・実装技術開発サービス】 ■実装基板の小型化をしたいが専門化がいない。 ■新たに実装工法を開発したい。 【試作サービス】 ■原理試作・エンジニアリングサ...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロモジュールテクノロジー株式会社

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    パッケージ型コンプレッサー防音BOX『CTSシリーズ』

    PR屋外設置が可能!パッケージ型コンプレッサー防音BOX

    『CTSシリーズ』は、コンプレッサー室が不要で屋外設置が可能な防音BOXです。 通常点検とメンテナンスの出来る扉及び、オーバーホールに対応。 換気扇・給排気サイレンサーを付属しております。 【特長】 ■コンプレッサー室が不要で経済的 ■防音室内は温度上昇を抑えるため充分な換気風量を確保 ■屋外設置が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 太陽技研工業株式会社

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    半導体パッケージ開封技術(Cuワイヤ・Auワイヤ)

    薬液ダメージ低減、高い加工位置精度!IC等のパッケージ開封サービスをご…

    評価を行うことが可能。 また、レーザ開封設備に関しては薬液ダメージ低減だけでなく、高い加工位置 精度を有しておりますので、微小ICの高精度加工も可能となっています。 【Auワイヤ・パッケージの薬液開封】 1.サンプル前準備 2.薬液準備 3.薬品浸漬 4.洗浄 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介 製品画像

    超音波顕微鏡(原理と特長)のご紹介

    超音波の性質を顕微鏡の観点から言えば、分解能の良い計測が可能なことを意…

    射型を用いる場合が多いです。 【観察の特長】 ■試料の光学的な性質に左右されず、試料表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能 ■空気中の界面での反射が大きいことから、パッケージなどの空隙やクラックを高感度で観察できます。  また、異常箇所(空隙など)の判定は、各箇所における超音波の反射波の形状から判定 ■X線透視顕微鏡では確認できない有機物の観察が可能 ※詳...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【分析】新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス) 製品画像

    【分析】新しい半導体開封技術(Agワイヤ・パワーデバイス)

    事例あり。車載向けパワーデバイス開発の活発化に伴い、デバイスの故障解析…

    ■パワーデバイスへの対応 パワーデバイスは、通常の半導体パッケージよりも信頼性が高い樹脂を使う傾向があり、 そのため開封の難易度も高くなっています。 ここでは、弊社で実施したIGBT開封の事例を紹介しています。 ■Agワイヤを使用した半導体パッケージ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    短絡耐量試験の概要および特長

    パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

    「短絡耐量試験」は、負荷短絡の状態でデバイスをオン状態にし、 破壊に至るまでの時間Tscを測定する試験です。 破壊の過程で、パッケージが大音響で破裂する場合もあり、 危険を伴います。 パワー半導体を使った機器を設計する場合に負荷短絡状態になっても デバイスが破壊することが無い様に、保護回路を設ける必要があり、 Ts...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 断面研磨 製品画像

    断面研磨

    研究開発・品質保証のスピードアップに貢献!手間を惜しまないこだわりが、…

    <観察・測定> ■金属顕微鏡から走査電子顕微鏡まで、クラック・ボイドからウィスカやマイグレーションまで幅広く対応 ■プリント基板を中心に様々な試料を対象とした測定・測長も実施 <半導体パッケージの開封とIC特性チェック> ■ボンディングワイヤーの接合状況やチップ内の配線状態を観察 ■IC表面の保護膜の除去も可能 ■開封後のワイヤーボンディングの密着テストやシェア・プル強度、半導体...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル受託試験のご案内 製品画像

    パワーサイクル受託試験のご案内

    希望の条件に沿った形で試験機をカスタマイズ!お客様が求めるデータを提供

    ■AQG-324 QL-02:パワーサイクル(長時間) ■AEC-Q101 PTC:パワー温度サイクル試験(参照規格 JESD22A-105) ■JESD51-14:一次元放熱経路を持つパッケージのRth j_c測定法 ■JEITA ED4701-601:パワーサイクル試験(樹脂封止タイプ) ■JEITA ED4701-602:パワーサイクル試験(ケースタイプ/短時間) ■JEIT...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線透過観察(不良箇所の早期発見) 製品画像

    X線透過観察(不良箇所の早期発見)

    不良箇所を推測しながら的を絞って観察!素早く結果を報告し課題の早期解決…

    線顕微鏡は、重さ5kg、460mm×410mmまでの 試料の観察が可能。 大きなサイズのプリント基板も一度に検査する事が出来ます。 また、X線検出器を傾斜でき、焦点寸法が微小なため多層パッケージ基板 内で重なり合い、上面からは見づらいボンディングワイヤーの状態を、 一本一本はっきりと観察できます。 【特長】 ■BGAの接合面の状態、ボイドの有無、配線パターンの確認も可能 ...

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