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53件 - メーカー・取り扱い企業
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14件 - カタログ
83件
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PR独自開発のSCADAを中心とした作業と情報管理の総合的自動化・省人化
当社は株式会社日進製作所の代理店として 製造業界向けの工場DXソリューションをご紹介いたします。 本ソリューションは "Tier1部品メーカー"、"老舗工作機械メーカー"、"IoTシステムベンダー" という3つの顔を持つ日進製作所の深い現場理解に基づき開発されました。 SCADAシステム*を核にした総合的自動化・省人化というコンセプトのもと ・オーケストレーションによる工程間搬送のシステム提案...
メーカー・取り扱い企業： 三菱商事テクノス株式会社 本社
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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…
不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能です。 【...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…
当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・…
あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 各種サンプル形態に対応します。 Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－ IR-OBIRCH...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析
デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供
パワーデバイスは高電圧・大電流のスイッチとして電力/省エネの観点で注目されています。パワーデバイスでは、高電圧がかかるゆえの配線の不良や電気的な不良が生じます。また製品の信頼性向上のためには、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM（走査型顕微鏡法）で評価した事例をご紹介し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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多様な解析手法と適宜対応で製品の品質向上に役立つサービスをご紹介
当社では、他社の製品サンプルを含め、様々な不良に対する詳細な不良解析サービスを行っております。 広範囲に及ぶ多様な解析手法を用いて、不良の原因を詳細に調査します。 FTIR（フーリエ変換赤外分光法）などの専門的な材料解析技術を利用し、材料自体の問題や不具合を特定することも可能です。 また、必要に応じて工業試験所などの外部設備を利用し、社内設備で対応できない特殊な解析も可能です。 依...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所
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【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析
STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータル…
当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EM...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック
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共焦点を用いたラマン分光分析による非破壊調査が可能！ラマン分光分析装置…
当社では、塗膜内異物の非破壊分析＜顕微レーザーラマン分光分析＞を 行っております。 塗装不良のひとつとして仕上げ面に異物が混入し、突起状に観察される 「ブツ」があります。この原因としては塗料に起因する塗ブツの他に、 ほこり・繊維くず等が考えられます。 異物は塗膜内部に存在するため通常は破壊調査が行われますが、光が透過する 塗膜に対しては共焦点を用いたラマン分光分析による非破壊調...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ
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ロック剤の有無、硬化の度合いを推定！利用頻度の高いロック剤については硬…
当社では提供頂いた不具合ボルトのネジ部より残存物質を採取し、機器分析を 行うことにより、不具合原因の推定を行っています。 ネジロック剤の不具合原因は主にロック剤の塗布漏れ、ロック剤の塗布量不足、 異材混入による硬化不良です。 未硬化のネジロック剤（原液）、硬化後のネジロック剤について赤外分光分析を 行った例では、不具合ボルトのネジ部より回収した物質のスペクトルを照合する ことに...
メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社
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TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定
剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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材料由来の不具合の原因分析、材料開発。ナノレベルの構造／表面分析により…
故障や製造不良の原因が原子数個の大きさであっても、ユーロフィンFQLは それを追求します。 透過型電子顕微鏡をはじめ、原子数個の大きさを調べる分析装置と 材料そのものに対する知見をもとに、製品の品質向上を支援。 “製品や部品に付着した異物の正体を特定したいが、方法がわからない” などのお悩みがありましたら、是非お問い合わせください。 【特長】 ■故障や製造不良の原因が原子...
メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社
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TOF-SIMSにより表面付着物成分を同定します
粘着テープの残渣は、製造工程において密着不良・剥離の原因となります。不良の原因として残渣が疑われる場合、表面付着物の成分とその分布を調べることができるTOF-SIMSが有効です。 粘着テープをSiウエハ表面に張り、剥がした後のSiウエハ表面および粘着テープの表面をTOF-SIMSで測定した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めしま…
元素分析を行う際、まずはXRF分析を用いて非破壊で対象に含まれる元素を調べてから詳細な分析に移っていくことで、効率の良い評価計画を立てることができます。 本事例では、金属切断用の刃を対象としてXRF分析を行ったデータを紹介します。 mmオーダーの広範囲にて面分析を行うことで材料中の金属元素の分布をおおまかに調べ、特徴的な箇所のXRF点分析結果から元素組成を算出することで金属材料の推定を行いまし...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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微小領域の分布評価が可能です
回路の微細化にともない微小化する層間接続ビアの設計開発では、充填の良好性を把握することが求められます。TOF-SIMSは元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできることや、イメージ分析が可能なことから、出来ばえ評価に有効な手段です。 本資料では、Si基材に設けられた0.5μmφ程度のビアに、Cuを充填したサンプルを分析した事例を示します。正イオン分析結果より、CuおよびSiの分布が確認...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価で…
TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)は、最表面の有機物・無機物を感度よく評価可能な手法で、製品の様々な品質管理を行うときの分析手段として利用することができます。例えば、製品保管時の表面付着物の定期的な確認、製品に剥離・変色などの不具合品が発生した際の原因調査、製作条件を変えた前後での着目成分の変化などです。本資料では、付着成分として代表的なポリジメチルシロキサン（PDMS）について、...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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Slice＆Viewで特定したゲート破壊箇所で拡大観察やEDX分析が可…
裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについてSlice＆Viewを行い、破壊を確認した箇所で拡大観察とSEM-EDX分析を行いました。反射電子像で明るいコントラストが見られる場所では、SiやNiの偏析が確認されました。リークによる破壊に伴い、SiやNiなどが一部偏析しているものと考えられます。 測定法：Slice＆View・SEM-EDX・EMS 製品分野：パワーデバ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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液体試料中の陽イオン成分の分析が可能です
日常の様々な場所で電子機器が使われるようになり、製品の信頼性確保が重要となっています。 プリント基板は高温・高湿度の環境で、配線に用いられているCuがマイグレーションを起こして不良となることが考えられるため、マイグレーションを助長する成分を評価することが重要です。 本事例ではイオンクロマトグラフィー（IC)を用いて、プリント基板から溶出した陽イオン成分の定量分析を行った事例を紹介します。このよ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
密着不良などの不具合の原因を探るためには、ウエハやデバイスの表面の知見を得ることは重要です。今回、シリコンウエハ上に撥水箇所が確認されたため、TOF-SIMSで広域イメージングを実施しました。その結果、撥水箇所からはシリコーンオイル、CF系グリース、パラフィンオイルと推定される成分が確認されました。TOF-SIMSは通常500μm角までの測定視野となりますが、ステージを動かしながら測定することで、...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…
株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能
X線CT分析では、部品の構造や寸法を非破壊で比較・調査することが可能です。本資料では、真空装置に使用されているゴム製のOリングの測定事例を紹介します。ガスがリークしている長時間使用品を調査するため、Ｘ線CT分析および三次元画像解析を行い、新品のデータと比較しました。その結果、長時間使用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所が検出され、そこからリークが起きていることが示唆されました。 測定法...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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お客様の“こんなことで困っている”に対して、信頼性の高い解析データを提…
当社では、長年にわたって培った障害解析の経験、高度な解析評価技術を 駆使して、皆様の抱える様々な問題解決のお手伝いをさせて頂きたいと 考えています。 大きな特色として、お客様の“こんなことで困っている”に対して、 分析・解析、評価方法を当社の経験豊かな技術スタッフがコンサルティング。 信頼性の高い解析データを提供します。 【具体的な対応例（抜粋）】 ＜表面分析＞ ■金属表面...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社環境技研 本社
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複数手法の分析結果より、複合的に評価
製造装置や部品に付着した異物は、製造品の不良や装置動作の不具合などに影響する場合があります。 異物を適切に分析・評価することで発生原因を究明し、不具合を改善することができます。本資料では、Siウエハ表面に付着した汚染をICP-MSとSWA-GC/MS※で複合的に分析した事例をご紹介します。 ※SWA（シリコンウエハアナライザー）-GC/MSとは、ウエハごと電気炉で加熱して有機物をガス化し、GC...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】リチウムイオン電池電解液中のフッ化物イオン濃度評価
NMRを用いてフッ化物イオンの定量分析が可能です。
リチウムイオン電池の電解液主成分であるLiPF6（六フッ化リン酸リチウム）は、水分との反応で加水分解を起こし、フッ化物イオンを発生させることが知られています。本資料では、対象化合物の標品を用いずに絶対定量が可能な19F-NMRを用いて、電解液（1M LiPF6 , EC:EMC = 3:7 v/v)の大気曝露によって生成したフッ化物イオン濃度を評価した事例を示します。 測定法：NMR 製品分野...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します
シリコーン製品からアウトガスとして発生するシロキサンは、揮発しやすく基板等に付着しやすい成分です。シロキサンが付着すると、光学系レンズの曇り、膜の剥離や密着不良、リレー回路の接点障害などの悪影響が出ることが知られており、シロキサンのアウトガス量を調査しておくことは重要です。 本資料では、シリコンチューブを200℃で加熱した際の環状ジメチルシロキサンの発生量を調査した事例を紹介します。。...詳し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GC/MSによる液体成分のノンターゲット分析が可能です
スマートフォンケースに液体を入れた商品が販売されていますが、この液体が漏れて化学火傷等の皮膚障害事故や、異臭により体調不良を訴える事故が発生しています。これを受けて2016年4月に国民生活センターから注意喚起がなされ、場合によっては成分を変更した液体が使用されています。 ここでは注意喚起がなされる前に市販されたケース内の液体についてGC/MSでノンターゲット分析を行いどのような成分が入っているか...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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Ni/Auめっきの昇温脱離ガス分析（TDS）
めっき膜にガスが含有されている場合、はがれや膨れ、膜中の気泡など不良の原因となる場合があります。めっき膜に含有されているガスについて調査するには、高真空中で試料を昇温させて脱離したガスを測定できるTDSが有効です。 SUS部材上にNi/Auめっきを施した試料について、TDS分析を行った結果を示します。めっき膜からH2, HCN, H2S, HClの脱離が確認できました。また、定量値の算出を行いま...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
キャリアライフタイムとは、電子デバイスの動作の際に生じる過剰キャリアの内、少数キャリアが1/eになるまでの時間です。これを適切に制御することがデバイスの電気特性をコントロールする上で重要です。 一方、発光寿命とは試料からの発光強度が1/eになるまでの時間を示し、発光減衰曲線から算出可能です。少数キャリアの一部は再結合時に発光するため、発光寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました
深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSによる拭き取り残渣の可視化
医療機器のパンフレット等に洗浄方法を記載する際には、その洗浄方法の妥当性を確認する必要があります。今回は医療機器の拭き取り方法の検証実験として、血液モデル薬物のウシ血清アルブミン（BSA）をアセチルセルロース（TAC）のシート・SUS製メス・ガラスにそれぞれ塗布し、拭き取り前後の成分残渣評価をTOF-SIMSで行いました。その結果、BSAの拭き取りには水よりもエタノールの方が適していることや、基質...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。
半導体を多く使う電子機器では各部品をはんだ付けにより実装しています。このはんだ接合部に不良が生じると電子機器に不具合が生じます。その為はんだに関して濡れ性を評価することは部品の信頼性を評価するうえで重要です。今回は疑似的に試料を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。 測定法：恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験 製品分野：パ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】CFRP炭素繊維強化プラスチック内部の繊維配向解析
X線CTによるCFRPの解析事例
CFRP(炭素繊維強化プラスチック)は炭素繊維を強化材として用いた樹脂材料であり、軽量かつ高い強度や剛性を持つことが特長です。 CFRP内部の繊維構造についてX線CTを用いて観察しました。その結果、直径約7μmの炭素繊維の集まりを観察することができ、また繊維の配向性解析を行いました。 測定法：C-SAM 製品分野：酸化物半導体・パワーデバイス・LSI・メモリ 分析目的：形状評価・故障解析・...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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手袋由来の汚染の評価
半導体デバイス製造において汚染工程を調べるため、不良の原因となる薄い付着物が何に起因するかを調べる必要があります。EDXでCが検出され、XPSで定量を行った付着物について、TOF-SIMSで分析を行いました。各工程で使用している標準試料の手袋と比較をしたところ、手袋A, Bと似た傾向が見られました。更に、標準試料の手袋をSiウエハに付着させて検証をしました。その結果、手袋Aに類似していることがわか...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捕らえることが可能
アルミニウム電極表面のOHやフッ化物は電極の腐食原因の一つであり、アルミニウム表面の状態を調査することは不良原因の調査に欠かせません。TOF-SIMSは最表面での深さ方向分解能に優れ、無機物の状態をモニターしながら高感度に深さ方向分布を測定することが可能です。OHと併せて深さ方向分布を評価することで、酸化膜厚の変化を伴わずにOHが増加していた現象を見出しました。このようにTOF-SIMSでは元素分...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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微小領域を狙った測定が可能
製造装置や部品に付着した異物は、製造品の不良や装置動作の不具合などに影響する場合があります。異物を適切に分析・評価することで、発生原因を究明し、不具合を改善することができます。 本資料では、金属部材上に付着した異物の成分をRaman分析により評価した結果をご紹介します。 Ramanは約1μmの微小領域の測定が可能であり、狙った箇所の分子構造や結晶構造に関する情報を得られることから、まばらに存在...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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<PDF資料DL可＞【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
ポリイミドフィルムの表面が疎水性になるという不良が発生しましたが、SEM/EDX分析では得られる情報深さが深いため、最表面に存在する特異な元素は検出できませんでした。 そこで表面に敏感な手法であるX線光電子分光分析(XPS)による表面分析を実施しました。 この事例では「XPSによるポリイミド表面汚染分析」を紹介いたします。 ぜひPDF資料をご一読ください。 また、弊社では本WP...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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デジタル化でお客さまの「業務の効率化」「コスト削減」「生産性向上」に貢…
本サービスはドローンとソフトウエアを活用し、点検業務をデジタル化することで、お客さまのOPEX縮減および発電収益向上をサポートします。 ＜サービスの特長＞ ■ドローンによる効率的な検査／作業コスト低減による生産性の向上 オペレーターがサーモカメラを使い検査する従来方式では、1日1MWpが限界だったのに対し、 ドローンを活用することによって、1日最大15MWpの撮影が可能に。 ま...
メーカー・取り扱い企業： オリックス・リニューアブルエナジー・マネジメント株式会社
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SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析
SEM像の3D化でリークパスを確認
裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice＆Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice＆Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法：Slice＆View・EMS 製品分野：パワーデバ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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内部解析、不良検査など幅広く対応。1点から対応可能。デモ施設も新オープ…
当社では、電子部品や自動車部品、3Dプリント品、バッテリーなどの X線CT測定・解析を行う『産業用CTスキャン受託サービス』を提供しています。 樹脂や複合材、金属、セラミック、新素材など材質を問わず、 最少1点からご要望に合った測定をご提案。 試作品の完成度チェックや不良品の検査、リバースエンジニアリング用の計測、 高解像度の断面図・3D画像の提供、各種解析など多種多様なニーズに...
メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社 ＆ GEエナジー・ジャパン株式会社
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官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です
耐薬品性や電気絶縁性などに優れている樹脂は、様々な電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤として利用されています。FT-IR分析は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。 一例として、UV硬化樹脂（紫外線硬化樹脂）の硬化度を評価した事例をご紹介します。 接着剤における紫外線照射時間の検討や、製品に剥離が発生した際の硬化状態の評価に有効です。...詳しいデータはカタ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査
X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有…
X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケルめっき)の変色調査」を紹介します。 ニッケルめっきの変色という不良に対してXPSによる表面分析で変色の理由を探りました。 ぜひPDF資料を...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価
STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…
STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1
金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察…
当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材（ばね材）の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材（ばね材）の金属組織観察 ■2相ステンレス...
メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社
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顧客満足に繋がる製品品質を実現する仕組み作りをサポートいたします！
設計不良や部品不具合流出によるリコール、製造工程での問題多発、 部材調達問題による製品出荷遅延等、品質問題のニュースが後を絶ちません。 当社では、製造プロセスを確認し、品質保証体制の運用状況や仕組みの 問題点の検出、問題解決のための支援（改善支援）によって、お客様の 製品品質確保をお手伝いします。 さらに、「なぜなぜ分析」等の問題解決のための教育実施（人材教育） により、継続...
メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社
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GC-MS分析やICP-AES分析など！化学分析により比較解析した事例…
液晶パネルに表示不良が発生した場合、再発防止のためその原因を解明する 必要があります。 本資料では、温度負荷によって表示ムラが発生したパネルAと表示不良が 確認されていないパネルBについて、化学分析により比較解析した事例を ご紹介。 アイテスは、観察などの初期解析にて原因が見当たらない場合、 液晶内部の化学分析から原因を探る事ができ、ここで挙げた手法以外にも 試料や目的に応じ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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めっきの剥がれ、密着不良をTOF-SIMS分析で原因調査
リン青銅上のニッケルめっきに発生した剥がれの不具合を調査するため、TOF-SIMS分析を行いました。 剥がれの部分を強制剥離させ、TOF-SIMSで定性分析を行ったところ、剥離面からはシロキサンやカリウム化合物(塩化カリウムや硫酸カリウム)などが検出されました。これらの成分が剥がれの原因であると考えられます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価
SiCパワーデバイスは、電力損失を抑え、小型で大電力を扱える電力変換素子として期待されています。 デバイスを製造する上で必要になるSiC基板の品質評価が課題になっています。SiC基板を結晶方位、面内欠陥分布、表面凹凸および不純物についての評価し、数値化・可視化する方法を提案いたします。 測定法：XRD・AFM・PL・SIMS 製品分野：パワーデバイス・照明 分析目的：微量濃度評価・構造評価...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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官能基の変化を捉えることで樹脂のイミド化率を評価することが可能です
耐薬品性や電気絶縁性などに優れている樹脂は、様々な電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤として利用されています。FT-IR分析は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。一例として、ポリイミドのイミド基から、イミド化率を評価した事例をご紹介します。 デバイス上の絶縁膜におけるイミド化率と、耐水性・耐熱性等のデータを比較してのプロセス確認に有効です。チップ、ウエハのい...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSを用いた最表面の汚染源の特定
TOF-SIMSでは分子に由来する二次イオンを検出し、その分布を可視化します。異常箇所から検出されたイオン種から由来成分を推定することで、異常がどのプロセスで発生したかを調査することができます。 ウェハや製品上に異常箇所（変色・付着）が見つかったとき、TOF-SIMS測定を行うことで、洗浄・乾燥に起因するウォーターマークか、母材の変質物か、別工程での付着物かを切り分けることができ、不良原因追求に...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料冷却により塗料の基材への塗布状態を評価
塗料は、対象材料の表面に塗布することにより、着色する・保護する・機能を付与するなど、様々な目的で用いられています。いずれの場合も、対象材料に塗料を付着不良なく塗布することが求められます。 本資料では、ステンレスと有機フィルムの２種類の基材上に導電性塗料を塗布し、クライオSEMにより塗料と基材界面の状態を観察しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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『産業用CTスキャン受託サービス』ウェイゲート・テクノロジーズ
内部解析、不良検査など幅広く対応。1点から対応可能。デモ施設も新オープ…
当社では、電子部品や自動車部品、3Dプリント品、バッテリーなどの X線CT測定・解析を行う『産業用CTスキャン受託サービス』を提供しています。 樹脂や金属、セラミック、複合材、新素材など材質を問わず、 最少1点からご要望に合った測定をご提案。 試作品の完成度チェックや不良品の検査、リバースエンジニアリング用の計測、 高解像度の断面図・3D画像の提供、各種解析など多種多様なニーズに...
メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社 ＆ GEエナジー・ジャパン株式会社
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官能基の変化を捉えることで樹脂の硬化度を評価することが可能です
耐薬品性や電気絶縁性などに優れている樹脂は、様々な電子部品の絶縁体、コーティング剤、接着剤として利用されています。FT-IR分析は、樹脂の硬化度等の不良原因を調査することが可能で、製品開発に有効です。 一例として、エポキシ樹脂の硬化度を評価した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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