• 【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA&QC 製品画像

    【事例集】レーザー干渉式リニア変位センサによるQA&QC

    PRナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大5…

    attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決めシステムのフィードバックシグナルとして利用できます。 回転の振れ測定、振動測定、工作機械の校正など、高度な...

    • attocube_ids_550sq.png

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 半導体製造装置用サファイアカスタム品のご提案【技術データ進呈】 製品画像

    半導体製造装置用サファイアカスタム品のご提案【技術データ進呈】

    PRどんな複雑なサファイア加工依頼にも挑戦します。1個からでもお気軽にお問…

    創業77年の老舗サファイア製造メーカーです。 サファイアの大型結晶を自社で育成しているため、1mm以下の微細な製品から 写真のような300mm程度の大型窓の製作も可能です。 設計段階からお客様のご要求に寄り添い、品質的/コスト的に最適なカスタム製品を共に作り上げていくことが得意です。 1個からのお問い合わせも歓迎しておりますので、ご遠慮なくお問い合わせください。 切断、研削、研磨といった基本的...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社信光社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径タイプ』

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSRA 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:φ20~30mm 回転数:15,000rpm 有効測定長:~L40mm サ...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • Enovasense Field Sensor 製品画像

    Enovasense Field Sensor

    高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

    フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約11万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長  ・非接触で下記が測定できます。    ☆不透明体の厚みマッピング...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 周波数チューナブルテラヘルツ光源 製品画像

    周波数チューナブルテラヘルツ光源

    最大2.7THzまでのテラヘルツ周波数をチューナブルで利用可能!欲しい…

    トプティカ社の『TeraScan』チューナブルテラヘルツ光源は半導体レーザーを持ちいた周波数ドメイン発生方式により、0.1THzから最大2.7THzまでの周波数レンジにおいて、欲しい周波数のみをピンポイントで取得できる画期的なテラヘルツ光源です。 ・0.1~2....

    メーカー・取り扱い企業: トプティカフォトニクス株式会社 営業部

  • FA/マシンビジョンフィルター 製品画像

    FA/マシンビジョンフィルター

    光源とカメラの特性に合わせた適切なフィルターを提供。 白黒/カラー両…

    大きな入射角による波長シフトを抑えた「Stable Edge」を採用、LEDや半導体レーザーなどの光源とカメラの特性に合わせたクリアな画像を得られます。 高い透過率を保持しながら、従来の干渉フィルターに比べてより丈夫で薄型、様々なマウントでのお届けが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エムスクェア 東京営業所

  • 結晶欠陥検出装置 フォトルミネッセンスイメージング装置 製品画像

    結晶欠陥検出装置 フォトルミネッセンスイメージング装置

    ウエハの全面測定での欠陥検出に

    フォトルミネッセンス画像と分光情報の同時取得可能な画期的な製品...フォトルミネッセンス法 (Photo Luminescence)とは分光測定法の一種で、検査対象に光やレーザー等を照射したときに、検査対象が光子(Photon)を吸収した後に再発光する現象を観察する手法です。 フォトルミネッセンスイメージング装置は、高い解像度でフォトルミネッセンス画像(PL画像)を取得するだけではなく、分光情報も...

    メーカー・取り扱い企業: 西華デジタルイメージ株式会社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー NEO』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー NEO』

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC-6-203 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ8mm~ 回転数:18,000rpm(従来比20%up) 有効測定長:20...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径用ワーク回転タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 外径用ワーク回転タイプ』

    レーザー光で円筒形状の外壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSGB 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:回折光、直接光 対象口径:制限なし 回転数:制限なし 有効測定長:制限なし サンプリング周波...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

  • レーザー傷検査装置『穴ライザー 極細タイプ』 製品画像

    レーザー傷検査装置『穴ライザー 極細タイプ』

    レーザー光で円筒形状の内壁のキズ、打痕、巣穴などを自動検出する外観検査…

    【基本仕様】 型式:SG-LSDC 方式:光学スキャニング方式 光源:赤色半導体レーザー(波長635nm~670nm 最大40mW) レーザークラス:クラス2~3B 検出成分:直接光 対象口径:Φ4mm~ 回転数:10,000rpm 有効測定長:50mm サンプリング...

    メーカー・取り扱い企業: ANALYZER株式会社

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