• VRは社員教育システムに活用できるのか? 製品画像

    VRは社員教育システムに活用できるのか?

    PRVRシステムを導入したけれど成果が見えない、運用が面倒で活用していない…

    弊社はVR黎明期よりVRシステム開発を行なってきておりVRのデメリットを補うシステムを研究しております。 VRを使った教育システムに対するコンサルタントやお客様のご希望に沿ったシステム開発を弊社は得意としております。...HMDを使ったVR教育でのデメリット ・ 同時に複数人体験させられない(有線型HMD) ・ システム費用、コンテンツ制作費が高額で費用対効果が...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィリット 

  • フッ素樹脂関連サービス 製品画像

    フッ素樹脂関連サービス

    PR特殊鋼・金型製作・金型設計で培ってきたノウハウを今注目のフッ素樹脂関連…

    当社では、フッ素樹脂関連事業を展開しております。 高強度金型製作の知見を活かし、長寿命化及び成形調整をご提案。 高精度設備・環境を整えております。 【特長】 ■フッ素樹脂専用射出成型機、高性能検査機を常設 ■PFA等 難可塑性樹脂対応金型・治工具の設計製作~TRY射出の一貫管理 ■耐腐食性に優れた特殊溶接被覆した金型・部品のご提案 ■半導体・医療等様々な分野に貢献 ...

    メーカー・取り扱い企業: 南海モルディ株式会社(旧:南海鋼材株式会社)

  • 試料に生じる反りやうねり、粗さの分析および測定 製品画像

    試料に生じる反りやうねり、粗さの分析および測定

    試料全体の変化を観察する技術や知見を集積!安全に駆動することが求められ…

    当社では、試料に生じる「反り」や「うねり」の様子を分析し、評価する 体制を、愛知県豊明市の"名古屋品質技術センター"と、大阪本社に整えました。 -60〜350℃の温度下において、μmスケールでの反り計測が可能な 「TDM COMPACT3」、常温で試料全体をスキャンし、3D画像として 表示する「VR-5000」を用いています。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価) 製品画像

    パワーサイクル試験(パワーモジュールの信頼性評価)

    パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

    チップの自己発熱と冷却を、短時間で繰り返す熱ストレスへの耐久性を 評価するために、「パワーサイクル試験」の重要性が増しています。 当社では、試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で 実施しています。 また試験サービスだけではなく、試験装置の開発・販売も 行っておりますので、ご用命の際はお気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■複数のサンプルを同時に試験できる...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ウィスカ・マイグレーション検査/プリント基板の品質評価 製品画像

    ウィスカ・マイグレーション検査/プリント基板の品質評価

    開発スピードアップに貢献!各種分析装置も取り揃えております!

    「手間暇のかかる作業に時間を取られる」「検査や評価の精度に疑問を 持っている」などのお悩みはござませんか? クオルテックにお任せ下さい。開発スピードアップに貢献します。 観察・分析装置は、実体顕微鏡・デジタルマイクロスコープ・蛍光顕微鏡を 保有。この他、レーザー顕微鏡、3D測定マクロスコープ、AFM、FE-SEM、 EDX、FT-IR GC-MS、XRF等、 各種分析装置も取り...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術 製品画像

    ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術

    ワイヤーボンディング部の接合面を平面から観察!数値による評価が可能とな…

    IC等におけるワイヤーボンディング部の接合状態を正しく評価するためには、 接合面での金属間化合物の生成状態を観察する必要があります。 金属間化合物の面積が大きければ、接合面がそれだけ広い事になり、 ボンディングOKと評価できます。 一般的な断面観察では、金属間化合物の生成状態をある1点でしか確認できず、 評価の裏付けとしては弱さの残るものでした。 クオルテックでは、ボンディ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非破壊解析技術 3D-CSAM 製品画像

    非破壊解析技術 3D-CSAM

    現象を把握し、解析精度を向上!高さ情報を確認し不具合箇所の詳細を確認

    当社で行っている「非破壊解析技術 3D-CSAM」についてご紹介いたします。 周波数分解機能および3D-CSAM機能により、現象を把握し、解析精度を向上。 超音波による解析は、広めにゲート範囲を設定して、波形および平面画像を取得。 また、深さ情報可視化と3D化として、全点波形取り込みデータから3D画像を 作成し従来の時間軸映像では検出しにくい部位を立体映像構築します。 【特長...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 平滑剤種による引張物性評価 製品画像

    平滑剤種による引張物性評価

    めっき皮膜物性が不十分、ピットが見られる、平滑剤種の検討などに!

    当社では、「平滑剤種による引張物性評価」を行っております。 ハーリングセル(浴量3L) 含リン銅陽極、電流密度 2A/dm2、90min、 室温(約25℃)、Airバブリングといった平滑剤種を検討。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■めっき皮膜物性が不十分(引張伸びが不足) ■ピットが見られる ■平滑剤種の検討 ■界面活性剤種の検討 ※詳しく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 車載電子機器の環境試験 製品画像

    車載電子機器の環境試験

    お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

    近年の車載環境は、温度、湿度、振動などの条件が過酷にも関わらず、 高電圧・大電流をより微細化(軽量化)されたデバイスでコントロール しなければいけません。 クオルテックでは、車載環境を忠実に再現した信頼性試験を提供するだけでなく、 JNLAの登録試験所として、お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法の ご提案や、正確なデータをご提供しています。 【特長】 ■温度条件への対...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D) 製品画像

    非破壊解析技術 C-SAM(2D~3D)

    2次元像が標準的ですが、より視覚的・立体的に状態を捉えるために3次元化…

    非破壊解析技術である「C-SAM(2D~3D)」についてご紹介いたします。 超音波顕微鏡では、主にA-Scanデータを基にして、外観上では確認できない 内部領域の空隙やクラック等の有無を評価しています。 検出データを選択的に用いて画像化できるため、対象の界面情報のみを抽出 できる点がメリット。取得した異物質界面での反射波(A-Scanデータ)を 時間分離することで任意界面の空隙や...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 【故障解析事例】静電気破壊の再現実験 製品画像

    【故障解析事例】静電気破壊の再現実験

    プラズマFIB装置を用いて断面を観察!広く破壊されている様子が確認され…

    RC-IGBT(Reverse-Conducting IGBT)を用いた、故障解析事例をご紹介します。 今回はシステムレベルの規格として広く用いられるIEC61000-4-2に倣って、 人体からの放電を模擬したESD破壊の再現実験を行いました。 チップ表面の観察後に、ロックイン発熱解析を行い、微小な故障箇所を特定。 プラズマFIB装置を用いて断面を観察した結果、表面のクレーター...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • X線透過観察(不良箇所の早期発見) 製品画像

    X線透過観察(不良箇所の早期発見)

    不良箇所を推測しながら的を絞って観察!素早く結果を報告し課題の早期解決…

    当社で行う、X線透過観察(不良箇所の早期発見)をご紹介いたします。 当社で使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、460mm×410mmまでの 試料の観察が可能。 大きなサイズのプリント基板も一度に検査する事が出来ます。 また、X線検出器を傾斜でき、焦点寸法が微小なため多層パッケージ基板 内で重なり合い、上面からは見づらいボンディングワイヤーの状態を、 一本一本はっきりと観察でき...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • ディスプレイ製品 トータル・クオリティ・ソリューション 製品画像

    ディスプレイ製品 トータル・クオリティ・ソリューション

    パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析などをトータル…

    当社では、ディスプレイ製品のトータル・クオリティ・ソリューションを ご提供しております。 信頼性評価のための駆動回路、パネル特性の評価回路を設計し、 海外から調達したパネルの品質不良を解析・分析。 また、パネルモジュールからディスプレイ全般にわたって EMCコンサルティングを行なっております。 【サービス内容】 ■ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験 ■EM...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 短絡耐量試験の概要および特長 製品画像

    短絡耐量試験の概要および特長

    パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

    「短絡耐量試験」は、負荷短絡の状態でデバイスをオン状態にし、 破壊に至るまでの時間Tscを測定する試験です。 破壊の過程で、パッケージが大音響で破裂する場合もあり、 危険を伴います。 パワー半導体を使った機器を設計する場合に負荷短絡状態になっても デバイスが破壊することが無い様に、保護回路を設ける必要があり、 Tscより十分短い時間で、保護回路が動作するように設計します。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • パワーサイクル受託試験のご案内 製品画像

    パワーサイクル受託試験のご案内

    ご希望の条件に沿った形でパワーサイクル試験機をカスタマイズ!お求めのデ…

    「パワーサイクル試験」は、チップの自己発熱と冷却を、短時間で繰り返す 熱ストレスへの耐久性を評価するために、重要性が増しています。 例えば"異なるTj(ΔTj)で同時に試験がしたい""異なる印加電流で同時に試験したい" など、このようなご要望に対し、クオルテックでは、試験機を一から作製し試験を実施。 試験機をカスタマイズする事により、既存の試験機では対応できないきめ細かな ご要望...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

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    アルミ電解コンデンサ充放電、リップル試験

    ご要望に応じて、カスタマイズした試験を実施!実環境に応じた部品評価試験

    当社では、「アルミ電解コンデンサ充放電、リップル試験」を 行っております。 アルミニウム電解コンデンサは、充放電の繰り返しにより特性の劣化が 加速。劣化速度はメーカーによって大きく異なり、カタログからでは 解らない事があります。 また、使用環境によっても左右され、例えば、充放電電圧が高く、 放電抵抗が小さいほど条件は厳しく、充放電サイクルが短く、周囲温度が 高いほど劣化は加速...

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