Enovasense Field Sensor

PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました！

PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社

最大2100万画素 SWIRカメラ

高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…

最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。 【SWIRカメラ活用例】 ■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。 ■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

ED SCOPE Til　イーディー スコープ タイル

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。 ・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。 ・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ピストンリング株式会社

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属　堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

半導体部品の欠陥検出　「遠心定加速度試験装置」

高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コン…

「遠心定加速度試験装置」は、半導体部品の構造上・機械的欠陥の検出をします。 【特徴】 ローター室保護のために鋼鉄製の二重リング銅やスライドドアを採用 回転体のアンバランス検地に非接触の渦流センサーを採用 モーターの回転数が設定値より20%を超えると...

メーカー・取り扱い企業： エア・ブラウン株式会社 電子機器部

半導体欠陥検査装置産業の世界市場調査報告書2024

半導体欠陥検査装置の世界市場：メーカー、地域、タイプ、アプリケーション…

グローバル市場調査レポート出版社であるQYResearchは「世界の半導体欠陥検査装置の供給、需要、主要メーカー、2024 ～ 2030 年レポート」レポートには、世界市場、主要地域、主要国における半導体欠陥検査装置の販売量と販売収益を調査しています。同時に、半導体欠陥検査装...

メーカー・取り扱い企業： QY Research株式会社 QY Research

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

2500万画素、150fpsの高速カメラ

2500万画素、150fpsの高速フレームレートの小型CoaXPres…

ルシャッタ方式、CMOSセンサ ■センササイズ1.1インチでCマウント対応 ■CXP-12×4、CXP-12×1 ■映像出力DIN端子 ■FA用途に必要な機能を搭載 　外部トリガ、ROI、欠陥画素補正、シェーディング補正、ビニング（モノクロのみ）、黒レベル補正、ガンマ補正など ■ヒートシンク有/無を選択可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

VCC-SXCXP3M/R/NIR・VCC-2CXP2M

【SXGA/2M】小型・軽量・低価格！CoaxPressインターフェー…

VCC-2CXP2M)で85fpsでの出力が可能。（CXP3 時） ★FA用途に必要な機能を搭載 グローバルトリガ―シャッター動作、ROI機能により対象画像領域を選択可能、サブサンプリング、欠陥画素補正、シェーディング補正、PoCXP 等 ★コストインパクトを訴求したモデル...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

2100万画素 CoaXPress-over-Fiberカメラ

最大425fpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPres…

t)、342fps(10bit)、250fps(12bit) レンズマウント：TFL-IIマウント 外形寸法：80×80×140mm その他特徴：外部トリガ、ROI、水平反転、2×2ビニング、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ補正 その他詳細については弊社営業部までお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

2100万画素 CoaXPress-over-Fiberカメラ

最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPre…

fps(10bit)、250fps(12bit) (TBD) レンズマウント：TFL-IIマウント 外形寸法：80×80×150mm その他特徴：外部トリガ、ROI、水平反転、2×2ビニング、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ補正 その他詳細については弊社営業部までお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

サ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、ライン検査、計測、研究/解析、医療、アーカイブ、顕微鏡などの超高精度な撮像用途に好適です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

測定装置『SemiScope PLIS-TEC』

拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope

『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において 画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した 各スペクトルを同時に測定することができます。 また、線分をスペクト...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトンデザイン

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。 しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。 その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。 また、半導体のウェハーのみならず...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人