欠陥 | イプロスものづくり

PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社

SONY製センサ採用　InGaAsカメラシリーズ

PR400～1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(イン…

2021年6月より大幅なプライスダウンを実現！ UVC・カメラリンク接続タイプも新登場！大好評販売中です！【用途】 ◆シリコンウェハー観察 ◆製品パッケージなどの欠陥検査 ◆樹脂透過による内部の検査 ◆水分の検出 ◆美術品の検査 ◆異種材料の識別 ◆近赤外線ビームの観察、検査 ◆太陽光パネルのEL発光検査【特長】 ◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タイプと32万画素(640×...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アートレイ

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能なバルク内欠陥・界面準位測定装置です。「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。高感...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

ED SCOPE Til　イーディースコープタイル

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマ...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属　堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

半導体欠陥検査装置産業の世界市場調査報告書2024

半導体欠陥検査装置の世界市場：メーカー、地域、タイプ、アプリケーション…

グローバル市場調査レポート出版社であるQYResearchは「世界の半導体欠陥検査装置の供給、需要、主要メーカー、2024 ～ 2030 年レポート」レポートには、世界市場、主要地域、主要国における半導体欠陥検査装置の販売量と販売収益を調査しています。同時に、半導体欠陥検査装...

メーカー・取り扱い企業： QY Research株式会社 QY Research

結晶欠陥測定装置　(光散乱断層撮影式)

シリコンウェハーの結晶欠陥が高速測定可能。...

メーカー・取り扱い企業：日本セミラボ株式会社新横浜本社

測定装置『SemiScope PLIS-TEC』

拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope

『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した各スペクトルを同時に測定することができます。また、線分をスペクト...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フォトンデザイン

Prestige エッチング加工製品、半導体外観検査装置カタログ

半導体の欠陥、ムラ、シミの検査を同一の検査工程で一度に行うことが可能。…

半導体の各製造工程、成膜、レジスト塗布、リソグラフィー、エッチング、CMPなど、ウェア上の各ダイに均一な製造工程を行いたいもの。しかし、現実には異物混入、パターン欠陥や膜厚などのばらつきにより、ウェハー上にムラが発生します。その各工程に自動化した検査装置を入れることにより、各工程の半導体工程作業の微調整を可能にします。また、半導体のウェハーのみならず...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

最大2100万画素 SWIRカメラ

高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…

最大21Mの高解像度とSWIR波長にて検査を行うことで、通常検知できない欠陥を捉え、生産の効率化に貢献します。【SWIRカメラ活用例】 ■ウエハ検査で、可視光下では見えないキズを発見。 ■基板のスルーホールを目立たせて見ることができ、穴の位置や大きさの検査を平易...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

半導体部品の欠陥検出　「遠心定加速度試験装置」

高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コン…

「遠心定加速度試験装置」は、半導体部品の構造上・機械的欠陥の検出をします。【特徴】ローター室保護のために鋼鉄製の二重リング銅やスライドドアを採用回転体のアンバランス検地に非接触の渦流センサーを採用モーターの回転数が設定値より20%を超えると...

メーカー・取り扱い企業：エア・ブラウン株式会社電子機器部

パワーモジュール用ベアチップ外観検査装置『CIシリーズ』

実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減＆歩留まり向上…

個片ベアチップの外観品質検査を行い、良品/不良品に分類する装置です。検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等標準搭載されたマルチアングル照明を使い、製品に現れる様々な欠陥モードを捉える照明条件が設定可能。半導体ベアチップ製造メーカ様・受託メーカ様の出荷前検査に最適な装置です。対象製品例）パワーデバイス、IC、イメージセンサ、各種センサ用ウエーハチップ ...

メーカー・取り扱い企業：日精株式会社本社

ASMPT社製 AOI検査装置　Skyhawkシリーズ

自動光学検査可能装置を取り扱っております

イヤーボンディング後のワイヤー高さやボールなど　最大33項目の検査が可能・先進の2Dおよび3Dオールインワンビジョンシステムを搭載・2つの独立した検査システムを備えたデュアルヘッド・欠陥のあるダイのリジェクトや欠陥のあるワイヤーをカットする機能付　き・ディープラーニング及びAI機能・オートフォーカス機能〇その他ASMPT製取扱い装置・マルチレーザーダイシング...

メーカー・取り扱い企業：兼松ＰＷＳ株式会社

「低価格版」ウエハ・チップ外観検査装置

ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が…

WF-A2000」は、高画素カラーカメラを搭載することにより、優れた検出能力を持ち、ウエハやダイシング後にチップの外観を高速で検査できる外観検査装置です。ウエハ工程、ダイシング工程で発生する外観欠陥を、高速かつ高精度で検査が可能で、多様なパターンのチップの検査が可能です。【特長】 ■多様なパターンのチップ検査が可能です。 ■不良項目毎に画像処理によって特徴を捉え、不良の分類分けを行...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン

SiC半導体評価装置「SemiScope」

フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

るPLイメージング装置です。試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。 SiCウェハの結晶欠陥を可視化。非接触・非破壊検査がPLイメージング法で短時間測定可能です。【特徴】 ○SiC半導体評価装置 ○SiCウェハの結晶欠陥を可視化 ○非接触、非破壊検査 ○PLイメージング法の...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フォトンデザイン

モジュール検査装置　CM2030（カメラモジュール）

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、…

対応することが可能。昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査までさまざまな欠陥を検査することが可能な製品です。...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

外観検査装置　Prestige V

８インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモ…

度仕様7μm、高スループット仕様38μmの画素分解能を用意、幅広い検査に対応 ● 照明にRGB 3色LEDを採用、パターンに応じた最適照明 ● カメラアングルを評価時に設定、装置を小型化 ● 欠陥検査とムラ検査が同時処理 ● 6/8インチ対応...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

自動テーピング装置　AT468

半導体、ダイ、パッケージソーター。チューブ、トレイ、テーピング/リール…

● チューブ、JEDECトレー、ボールフィーダー、テーピング/リール対応 ● 対応パッケージ：SOIC,QFN、TSSOP、MEMS等 ● 検査項目　〇銅などがむき出しになっているリード欠陥　〇マーキング、外観欠陥検査　〇 2台のカメラによる５面、２D/3Dリード、パッド検査　〇表裏外観検査　〇装置内８か所のテストサイト...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

自動テーピング装置　Hexa EVO+

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面を検査し、テーピン…

Hexa EVO+は半導体ICのパッケージの表裏側面やボールアレイ、リードなどの３Dの外観欠陥も検査し、自動梱包するダイ、ICソータ、ハンドラ外観検査装置になります。多様な検査項目と様々なパッケージに対応することが可能です。【特長】 ● 100mm以下のパッケージの外観検査 ...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

2100万画素 CoaXPress-over-Fiberカメラ

最大100Gbpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPre…

fps(10bit)、250fps(12bit) (TBD) レンズマウント：TFL-IIマウント外形寸法：80×80×150mm その他特徴：外部トリガ、ROI、水平反転、2×2ビニング、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ補正その他詳細については弊社営業部までお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

X線TV検査装置『SFXシリーズ』

高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現！コンパクトなX線TV検査装置

超微小焦点X線源と、高感度軟X線I.I.カメラとのカップリングにより、高倍率・高解像度・高濃度分解能を実現したコンパクトな検査装置です。 BGAやCSP、電子デバイス等の試料内部の微小欠陥や、プラスチックパッケージのボイド、クラック等をリアルタイムで、より鮮明に描画する能力を備えております。高倍率は開放管タイプ、高濃度分解能は封入管タイプと、試料と目的に合わせてお選び...

メーカー・取り扱い企業：ソフテックス株式会社営業本部

2100万画素 CoaXPress-over-Fiberカメラ

最大425fpsでの画像伝送に対応した2100万画素のCoaXPres…

t)、342fps(10bit)、250fps(12bit) レンズマウント：TFL-IIマウント外形寸法：80×80×140mm その他特徴：外部トリガ、ROI、水平反転、2×2ビニング、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ補正その他詳細については弊社営業部までお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

サ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、ライン検査、計測、研究/解析、医療、アーカイブ、顕微鏡などの超高精度な撮像用途に好適です。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

X線検査装置『アドオン型CTユニット』

画像再合成時間が約10秒！標準型X線装置内部に組込可能な3次元CTユニ…

『アドオン型CTユニット』は、標準型X線装置内部に組み込み可能な 3次元CTユニットです。 CT画像の再合成とレンダリングソフト（3次元表現）を一体化、欠陥など3次元立体画像として表示できます。フォーカシング機能により、回転軸キャリブレーションが不要です。【特長】 ■演算処理高速化・画像高品質化を実現 ■画像再合成が約10秒＜500×5...

メーカー・取り扱い企業：ソフテックス株式会社営業本部

VCC-SXCXP3M / R / NIR・VCC-2CXP2M

【SXGA/2M】小型・軽量・低価格！CoaxPressインターフェー…

VCC-2CXP2M)で85fpsでの出力が可能。（CXP3 時） ★FA用途に必要な機能を搭載グローバルトリガ―シャッター動作、ROI機能により対象画像領域を選択可能、サブサンプリング、欠陥画素補正、シェーディング補正、PoCXP 等 ★コストインパクトを訴求したモデル...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

〇特集〇小型・高速・長距離伝送が可能な高画素カメラシリーズ

基板・外観検査装置などのFA用途に最適。小型・高画素・低価格で高速フレ…

XP6。 ★長距離伝送100ｍ ★映像出力BNCコネクター。 ★ケーブル1本で高速フレームレート・長距離伝送が可能。(電源供給：PoCXP） ★FA用途に必要な機能を搭載外部トリガー、ROI機能、欠陥画素補正 PoCXP対応等機能搭載 ●モノクロ(M)・カラーモデル(R)をラインナップ　5CXP3はNIRモデルもございます...

メーカー・取り扱い企業：株式会社シーアイエス

【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

を反映したコントラスト像）が取得できます。加えて以下の特長もあります。・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察・観察対象が結晶質であるかの判断・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得本事例では「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」を紹介しています。本事例は問題なしの結果でしたが、異常検出も可能です。ぜひPDF資料をご一...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2…

更なしで使用することが可能。 ★２台のカメラを同時に使用することにより検査工程のタクトタイムが半減。 ★３D検査によりWLCSPパッケージなどに使用されるバンプのコプラナリティを検査。 ★自動欠陥レビュー機能 ★Waferのミスアライメントを自動補正...

メーカー・取り扱い企業： CCTECH Japan CCTECH Japan（株）- 　日本法人

フォトマスク用CD-SEM『Zシリーズ』

ナノパターンの高速・高精度計測が可能なフォトマスク用CD-SEM

【特長】 ■収差補正技術をさらに改良し、高SNRイメージを取得 ■低真空技術によるチャージフリーSEM画像を取得、高精度計測が可能 ■多彩なアプリケーション（多点計測・輪郭抽出・2D測定・欠陥レビュー・3D表示） ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ホロン

赤外線顕微鏡　「ＩＲ−1300」

傷や異物の寸法計測も可能！シリコンチップの内部観察に適しています！

デバイスの界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです！！～特徴～ ●反射/透過照明での不鮮明画像をエンハンサソフトで鮮明な画像を入手。 ●デバイス界面のボイド・傷・異物の欠陥画像観察、保存が可能。 ●画面上での寸法計測、面積計測が可能。 ※詳細はカタログをダウンロードして下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業：ディスク・テック株式会社本社

ナノ・ソルテック株式会社　事業紹介

お客様の立場に立って、優れた製品、サービスを適正な価格で提供します。

→輸送搬入据付 ○遊休設備買取 →不要な遊休設備の買取りまたは委託販売 ○KLA保守部品販売 →部品販売：新古品(未使用品)や中古整備パーツでコスト削減が可能 →保守サービス ○表面欠陥検査ソリューション →中古装置を利用した安価でタイムリーな装置サポート体制を提供 ○段差測定装置 →高品質の中古段差測定装置を新品価格の半額以下で提供 ○検査装置レンタル →短期使用をご希...

メーカー・取り扱い企業：ナノ・ソルテック株式会社

ED SCOPE　イーディースコープ

見えない、見にくいナノサイズの欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化する新感覚…

・目視検査が困難なウエハ内外部の欠陥を誰でも簡単に定量的に短時間で検査・評価することが可能。・特殊光学系技術と特殊画像処理技術のコラボにより欠陥を鮮明に浮き上がらせ可視化。・深さ（Ｚ方向）はナノレベル、視野範囲（ＸＹ方向）はマ...

メーカー・取り扱い企業：日本ピストンリング株式会社

PV-Cell外観検査システム

独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出可能！

PV-Cell外観検査システムは、PVセルを高画素のカラーカメラを使って撮像し、不良品を検出してNG信号を出します。独自の技術により、多結晶の模様をキャンセルして微細な欠陥を検出する事が可能です。印刷パターン、Crack、欠け、寸法などの検査が可能で、インライン検査にも対応可能です。用途に応じて高画素2次元カメラとラインセンサーを選択して使用します。また、自社開発の検...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ヒューブレイン