• 【新着資料】新人でもすぐ分かる幾何公差その1~真円度・円筒度編~ 製品画像

    【新着資料】新人でもすぐ分かる幾何公差その1~真円度・円筒度編~

    PR顧客の求める製品を正確に加工する。山岸製作所の技能士が分かりやすく解説

    当資料は、幾何公差(真円度・円筒度)について、山岸製作所の技能士が 現場目線で解りやすくご紹介しております。 「公差の知識」や「寸法公差と幾何公差」、「測定方法」などについて掲載。 この資料を読むと、新入社員でもマシニングセンタ・フライス旋盤加工に 特化した幾何公差のイメージができ、測定が可能になります。 【掲載内容(一部)】 ■公差の知識  ・寸法公差と幾何公差 ■幾...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社山岸製作所

  • 法令違反にならない磁界測定器【新JIS規格に適合】 製品画像

    法令違反にならない磁界測定器【新JIS規格に適合】

    PRボタン1つで簡単に電力設備周りの磁界を高精度で測定でき、軽量かつ片手で…

    3次元磁界測定器TMM-3は、電力設備等から発生する磁界の強度を計測できるポータブル測定器です。電気設備に関する技術基準を定める省令では、JISに適合した測定器で測定することを要求しています。そのJIS規格が、2017年にJIS C 1910-1に置き換えられたこと受け、新JISに対応するTMM-3を開発しました。2024年内に販売予定です。 このような方にオススメです! ・電気設備を法令...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社電力テクノシステムズ

  • 透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス 製品画像

    透明素材の曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス

    ガラス、ITOなどの透明素材に!各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…

    当社では、透明素材(透明フィルム/シート、ガラス、ITOなど)の 『曇価(ヘーズ)測定、全光/拡散透過率測定サービス』を行っております。 曇り度合いや光の拡散度合いを測定するヘーズメーター装置を使用。 平行成分P.Tと拡散成分全てを含めた全光線透過率T.Tと平行成分を除い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】高温GPC(SEC)による樹脂の分子量測定 製品画像

    【資料】高温GPC(SEC)による樹脂の分子量測定

    分析装置でもポリマーの分析評価にご対応!高温SECの装置構成と原理など…

    数の分子量で 構成されています。 この分子量および分布を把握することで樹脂の特性や劣化などメカニズム理論の 理解に繋がります。 当資料では、常温で溶剤に溶解しにくいポリオレフィン系の測定に相応しい 高温GPC装置にて、ポリプロピレン樹脂(PP)で紫外線(UV)照射有無の 試料を測定しデータ解析を行った事例をご紹介いたします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 超微⼩硬度計による材料評価 製品画像

    超微⼩硬度計による材料評価

    経年の品質管理にも役⽴つ!⾦属・⾼分⼦・セラミックス等の材料の超微⼩硬…

    当社の「超微⼩硬度計による材料評価」では、⾦属・⾼分⼦・ プラスチック・セラミックス等の材料の超微⼩硬度測定を行えます。 また、硬さを数値化できるため、経年の品質管理にも役⽴ちます。 圧⼦に荷重をかけている状態で、くぼみの押し込み深さを直読し、 硬さを求めます。回復挙動における特性値を求める...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EBSDによる解析例】シリコンウエハ 製品画像

    【EBSDによる解析例】シリコンウエハ

    測定したシリコンウエハは単結晶!IPFマップ、極点図、逆極点図は比較的…

    EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこと から単結晶であることが確認できます。 測定したシリコンウエハは単結晶であるため、IPFマップ、極点図、 逆極点図は比較的...

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  • イオンクロマト分析 製品画像

    イオンクロマト分析

    固体試料は、イオン性成分を純水に溶出!水溶液中の微量なイオン性成分を高…

    『イオンクロマト分析』は、水溶液中の微量なイオン性成分の 定性分析・定量分析が可能です。 イオン交換樹脂を充填したカラムを用いて分離を行い、電気伝導度を 測定することで、水溶液中の微量なイオン性成分を高感度に検出可能。 固体試料は、イオン性成分を純水に溶出させ、測定いたします。 【主なスペック】 ■陰イオン:Cl- Br- NO2- NO3...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EELS分析手法による膜質評価 製品画像

    EELS分析手法による膜質評価

    元素同定を行うEELS分析により、物質の結合状態の比較が可能です!

    との比較】 <EELS> ■分析に使用するパラメータ:エネルギー損失電子 ■エネルギー分解能:1eV以下 ■長所:状態分析軽元素分析(Li,B) ■短所:広範囲の元素を同時分析が困難 ■測定時間:5s ■TEM試料厚:約50nm以下 <EDS> ■分析に使用するパラメータ:特性X線 ■エネルギー分解能:100eV前後 ■長所:全元素についての分析 ■短所:近接するエネルギー...

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  • 電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します! 製品画像

    電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します!

    過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

    アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード:■パワー半導...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EPMAによる状態分析 製品画像

    EPMAによる状態分析

    標準スペクトルと比較することで結合状態を推定!EPMAによる状態分析を…

    識別において、黒色CuOと赤色Cu2Oの色彩による識別が 困難な場合、特に電子顕微鏡が必要なミクロな対象物に対して、EPMAによる 酸化状態の把握が可能です。 また、Al表面の薄い酸化層の測定には最表面分析手法のXPSが有効ですが、 異物等の微小物や塊状物、バルク、複合材等に対して、EPMAによる酸化状態の 把握ができます。 【装置仕様】 ■日本電子(株)製 Jeol-820...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶中の微量金属元素分析 製品画像

    液晶中の微量金属元素分析

    パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可…

    信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • LEDの故障解析 製品画像

    LEDの故障解析

    高度な試料作製技術と半導体用の故障解析装置を応用!不点灯や輝度劣化の原…

    ),(b)点灯観察、 (c)樹脂越しのチップの光学観察を行いました。 この他にも「電気的正常」、「オープン、高抵抗」などがございます。 【LEDパッケージの初期診断項目】 ■電気特性測定 ■外観観察 ■レンズ研磨/パッケージ内部光学観察 ■点灯試験(輝度分布観察) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 信頼性のトータルサポートサービス 製品画像

    信頼性のトータルサポートサービス

    環境試験をはじめ、非破壊観察や電気特性測定などを行っております

    電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験 などがございます。 【環境試験】 ■高度寿命加速試験 ■恒温恒湿試験 ■冷熱衝撃試験 ■液槽冷熱衝撃試験 ■In-Situ常時測定信頼性評価試験サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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  • 【資料】EBSDによるウイスカ解析 製品画像

    【資料】EBSDによるウイスカ解析

    ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

    カについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽...

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