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食品製造で異物混入対策にお悩みの方、FOOMAのアラムブースへ!
PR金属検出機やX線検査機で、検出可能な異物対策用ゴム・プラスチック製品を…
アラム株式会社は、2024年6月4日~7日に東京ビッグサイトで開催されます 日本で最大級の食に関する展示会「FOOMA JAPAN 2024」に出展いたします。 当社は、食品設備や食品工場での異物混入リスクを軽減する目的で開発した 金属検出機やマグネットトラップ、X線検査機等で検出することができる 異物対策用ゴム・プラスチック製品『MPフーズ』シリーズを展示いたします。 『MPフ...
メーカー・取り扱い企業: アラム株式会社
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【総合カタログ】靴底洗浄機やエアシャワーなど クリーン環境機器
PR総合カタログお送りします!簡単設置で工場の掃除をラクに&クリーンルーム…
パイオニア風力機では、ご希望の方にエアシャワーや靴底洗浄機、空気清浄機など満載の総合カタログをお届けします! 弊社製品を使用することにより、クリーンルームへの異物混入対策に役立 つのはもちろん、工場に設置するだけで日々の清掃の手間を削減します。 =====【オススメ製品】:靴底洗浄機『エアー吸着マット』===== マットの上を歩くだけ!強力エアーとブラシが土や靴底のホコリを取り...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社パイオニア風力機
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半導体ICパッケージ検査のオールラウンダー 車載製品 実績NO.1
3D検査:コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高 等 〇高精度欠陥検査 高画素カメラ・マルチアングル照明を搭載し、表・裏・側面の高精細な欠陥検査を実現します。 【検出欠陥モード】 異物付着、キズ、カケ、剥離、端子欠損、マーク不良 等 〇その他特徴 ・JEDECトレイ対応 ・多彩なオプションラインナップ 側面検査機能、テーピング収納機能、異物除去機能 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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異物・欠陥検査や多目的3次元寸法計測検査など!検査環境のご提供から装置…
株式会社安永では、画像検査評価サービス『AI GAKEN LABO』として、 お客様のご要望に応じた検査環境、アルゴリズム開発、新鋭の技術をご提案しています。 異物・欠陥検査では、ヒストグラム手法や絶対輝度手法などを用いて、 欠け、傷、ボイド(空洞)、汚れ、変色、ムラ、異物、凹凸などの各種欠落検査を実施。 多目的3次元寸法計測検査では、 2平面の傾き...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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狙った欠陥を確実にキャッチ!パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で…
、パワーダイオード用チップ:3×3mm~20×20mm ■対象トレイ:2インチ/4インチ チップトレイ ■サイクルタイム:0.9sec/pcs(2sec/pcs) ■上面検査:クラック、バリ、異物付着、キズ、スクラッチ、変色、シミ、汚れ等 ■下面検査:クラック、バリ、異物付着、キズ、スクラッチ、変色、シミ、汚れ等 ■ユーティリティ ・供給電源:3Phase AC200V±10% 4K...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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リードフレーム&ダイボンドチップ自動外観検査装置『FV100L』
クリーン仕様!リードフレーム・ダイボンドチップの自動外観検査を実現!
査視野:□23mm(検査対象により変更可能) ■分解能:4.5μm/pix(検査視野□23mm、25Mpixカメラ使用の場合) ■検査項目:ダイボンドチップの外観検査 ・ボンディングパッド上異物 ・チップ表面へのハンダ飛散 ■検査項目:リードフレームの外観検査 ・異物付着 ・リード欠陥 ・リードバリ ・エッチング不良 ・メッキ不良 ・メッキズレ ・キズ/欠...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット
み時間 最速50msec以下!装置タクトに影響を与えません! 〇欠陥検査機能の特徴 汎用画像検査ユニットと違い、半導体ICの欠陥検出設定が容易に行えるよう設計されています。 【特長】 ■異物付着、キズ、打痕、バリ等 の検出に対応します。 ■照明を複数切り替え、欠陥モードにあった照明条件を追加可能です。 ■良品バラツキに追従し欠陥検出を行う検査ツールなど、様々なツールが標準搭載されて...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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非接・高速・高精度・定量管理の破断面検査装置
検査◇ (1)顕微鏡検査測定値との相関も確認済みで、破断面形状を正確に取得することができます。 (2)表面面積や破断面を重ね合わせた時の空間面積も出力可能です。 (3)破断面に咬みこんだ切粉や異物付着も検出します。 ◇定量管理◇ (1)破断面の良品条件を数値管理し、加工条件を決めることが可能となります。 (2)断面形状を3Dグラフィックにより可視化することもできます。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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ダイシングフレームモデル!10msec/イメージの高速取り込みにより高…
『CI200D/CI300D』は、パワーデバイス、フォトデバイス、光学フィルタ LED他のウエハダイシング後に発生する欠け・クラック・キズ・異物等の 欠陥を外観検査する装置です。 ダイシングフレーム上の個片化されたチップを自動認識し、個片毎に 高精度な欠陥検査を実施。 結果に基づき、良品・不良品の判定をし、マップデータとして...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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表面及び裏面の両面検査に対応!高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を…
『FV203CR』は、パワーデバイス用個片セラミックス基板の表/裏面に 存在するバリや欠け、クラック、キズ、汚れ、変色、ろう材はみ出し、 異物、膨れ/凹み欠陥等の外観検査を行う装置です。 セラミックス基板が収納されたマガジンやトレイ等をセットする事で、 セラミックス基板表/裏面の外観検査を行い、検査結果に基づいて 良品/不良品に...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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積層セラミックス用グリーンシート3D外観検査装置『FV53C』
グリーンシートに印刷された電極パターン不良を3Dスキャンで高精度に検出…
電極パターンの凹凸、厚み不良の他、パターンの太り、細り、シミ、異物不良を検出します。 またパターンの位置度検査が可能であり、グリーンシートの積層管理にご使用いただけます。 積層品質向上、歩留まり向上にぜひご検討ください。 【特長】 ■パターン高さやパタ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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省スペースで検査の自動化を実現!高精度2次元&3次元寸法計測が可能な検…
『LI700E』は、ICパッケージの端子曲がり等の寸法検査、及びキズ・異物等の欠 陥検査を実施する外観検査装置です。 省スペースで検査の自動化を実現。製品下面より、モールド面や端子面の検査を 実施し良否判定/選別をします。 【特長】 ■高精度2次元&3次元寸法計測 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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ROM書き後の品質保証に最適 IC外観検査装置『LI700E』
余分な空トレイ不要で自動外観検査が可能! 基本機能に特化し、省スペース…
『LI700E』は、ICパッケージの端子平坦度、端子曲がり等の規定寸法検査、及び異物付着等の欠陥検査を行い、良品と不良品に分類収納します。 【特長】 ■受入検査/ロム書き後の品質保証に最適 ■検査項目はJEITA規定寸法測定方法に準拠 ■小型・省スペース&作業は全て...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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LI900W後継機として車載ICパッケージ対応高機能モデルをリリース
・ICパッケージの規定寸法、捺印、異物付着などの外観不良を高精度に検査します ・全6面(上面・下面・側面)欠陥検査に対応可能なフルスペックモデルです ・車載用途など高い出荷品質が求められるICパッケージの外観検査に全てお応えします ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減&歩留まり向上…
『CIシリーズ』は、チップトレイに収納された個片ベアチップの外観品質検査を行い、 良品/不良品に分類する装置です。 検出事例・・・エッジクラック、欠け、傷、異物付着、変色等 <特長> ■マルチアングル照明により多様な欠陥にアジャスト ■小型・省スペース設計&作業は全てフロント面から ■イントレイ検査でベアチップへの接触をミニマム化 ■画像...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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組立工程における工程能力管理の課題を解決!数値による解析と定量化を実現…
管理と延命化を実現。金型交換サイクルの 最大化(金型コスト削減)が可能です。 【活用事例1】 ■統計データグラフから金型異常を早期発見 ■特定リードの曲がり異常を発見 ■原因:成形金型異物付着による成形異常→工程へフィードバック ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社安永 本社
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