結晶 | イプロスものづくり

PRサブミクロンから塊状まで幅広くカスタマイズ可能なSiOパウダー。LiB…

当社は、リチウムイオン電池（LiB）負極材料などとして活用可能な『一酸化ケイ素（SiO）』を提供しています。粉末状（1～100μm）、粒状（1～5mm）、塊状（50～200mm）に対応し、サブミクロンレベルまでカスタマイズ可能です。 1μmの粉末でSiO純度99.8％、5μmの粉末でSiO純度99.9％などの製品事例があります。【特長】 ■製造方法：結晶化学気相成長法 ...

メーカー・取り扱い企業：日本NER株式会社

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】アルミ溶接部（スポット溶接）

溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できた解析例をご紹介！

て、アルミの溶接断面を断面方向から分析を行いましたので、ご紹介いたします。アルミケースにアルミ板をスポット溶接したサンプルについて、溶接部の断面を作製し、EBSD分析を実施。結晶粒サイズの分布では、母材部に比べ、溶接部は大きな結晶粒が多く分布していることが確認できました。【解析概要】 ■結晶粒の可視化・母材部に比べ、溶接部は結晶粒の形状や大きさが異なること...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターンの結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法です。金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。例えば、SEM中で試料を大...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【プロセスインフォマティクス導入事例】GaNの結晶加工最適化

後工程を省略できるほどの加工精度と、目標以上！AIと人間の協働の価値を…

パワー半導体GaNでは、ナノメートル（1mmの100万分の1）単位のごく微小な粗さも性能を左右するため、従来では円柱を作った後の結晶加工は必須でした。適切な実験条件を見つけるためには、まずは傾向を見るだけでも、1因子ごとに最低でも2通りの条件で実験をする必要があるため、5因子の場合だと、最低でも 32回の実験が必要...

メーカー・取り扱い企業：アイクリスタル株式会社

ウィスカ評価

検査員が逃さず観察！信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が逃...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【DL可/DSC】熱分析における事例集2

チョコレートを徹底的に科学分析し食感、溶け方の違いを探っています。製品…

当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。「チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）」をはじめ、「チョコレートのDSC測定2（製品間の比較）」や「チョコレートのDSC測定3（溶け方の違い）」などの目的や手法、結果など掲載。他にも、解析結果や考察、分析事例などご紹介...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

EMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 FI...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

固体、粉体プロセスのモデリングツール　『gFORMULATE』

プロセスモデルライブラリ（反応、結晶、湿式及び乾式粉砕、噴霧乾燥、湿式…

gPROMS Formulated Productsでは、反応、結晶、湿式及び乾式粉砕、噴霧乾燥、湿式及び乾式造粒、ブレンドおよび錠剤の打錠などの操作のためのプロセスモデルのライブラリを搭載しております。製薬プロセスに適用した事例では、原薬製造から製剤プロセ...

メーカー・取り扱い企業：シーメンス株式会社 gPROMS ポートフォリオ

【解析事例】フォトニック結晶の光導波路(電磁界解析)

有限要素法を使用して電磁波解析を実施！L字型の光導波路を考えた事例をご…

フォトニック結晶は複数の誘電体などを周期的に配置した光を制御できる構造体です。有限要素法を使用して電磁波解析を実施。光導波路は誘電体ロッドを周期的に配置したものになっており、誘電体ロッドがない部分を...

メーカー・取り扱い企業：株式会社フォトン

コンビナトリアル特性解析

電気的特性評価をはじめ、光学特性評価、結晶性評価、組成評価を実施！

せください。【サービス内容】 ■C-V、I-V、半導体特性などなどの電気的特性評価(室温～400℃） ■透過率測定、分光エリプソメトリなどの光学特性評価 ■マイクロビームXRDを用いた結晶性評価 ■マイクロビームXRF、XPS、Auger分光などによる組成評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社コメット

EPMAによる状態分析

標準スペクトルと比較することで結合状態を推定！EPMAによる状態分析を…

EPMAによる状態分析では、酸化物やケイ酸塩の化学結合状態（イオン価、結晶構造、配位数）の異なりから、特性X線ピーク波長に変化（シフトや波形）が生じることを利用し、標準スペクトルと比較することで結合状態を推定します。 2種類の銅酸化物の識別において、黒色CuOと...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-（D,S）間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の発光を検出。発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが認められました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

顕微ラマンによる金属腐食の分析

金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です！

鉄の腐食過程は腐食の進み具合により種々の化合物が混在しており、同じ鉄の酸化物、水酸化物でも、価数や結晶構造の差異によってスペクトルが異なります。ラマン分析により、ミクロンオーダーの微細な範囲での鉄の酸化状態が確認が可能です。【分析内容】 ■鉄表面に発生した錆の分析・FeOOHと...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】ウィスカ観察

信頼性試験から観察、3次元測長まで支援！輸送リスクを排除したウィスカ評…

鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

表面処理の特性予測ソリューション

複数の解析ソフトウェアを駆使した表面処理の特性予測ソリューションを提案…

の入射量やエネルギー、あるいは浸食/成膜速度の評価・物質の原子/分子データに基づきその材料特性を評価・入射粒子の表面反応予測・処理後の表面粗さ評価・処理前後の親水性の変化・処理後結晶の屈折率計算など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ウェーブフロント本社

【実験できない範囲も解析が可能】表面処理の特性予測ソリューション

専門知識を持った技術者がサポート！各種解析ソフトを組み合わせる事で、表…

の入射量やエネルギー、あるいは浸食/成膜速度の評価 ■物質の原子/分子データに基づきその材料特性を評価 ■入射粒子の表面反応予測 ■処理後の表面粗さ評価 ■処理前後の親水性の変化 ■処理後結晶の屈折率計算など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ウェーブフロント本社

レポート　アプリケーションプロセッサのロジック詳細構造解析

Mediatek MT6592 オクタコア(8コア)の詳細構造解析です…

(7 Cu、1 Al)構造、high-kメタルゲート(HKMG)、ゲート長 28nmのTSMCによるHPM CMOSプロセスを使用して製造されています。【特徴】 ○トランジスタのチャネルの結晶方向 <110> ○酸化ハフニウム(HfO2)素材のゲート絶縁膜 ○デュアルワークファンクションメタルゲート ○nMOS(NiSi)およびpMOS(NiSiGe)ソース/ドレイン領域、およ...

メーカー・取り扱い企業：テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）

シミュレーションプラットフォーム『ModelBuilder』

化学プロセス等の各種数理モデル式を自由に入力し実験結果と照合して反応速…

、手間がかかると同時に、繰り返し演算型のソルバの場合、計算収束が難しく、同時に、モデルのヴァリデーションも困難な場合がありますが、ｇPROMSの高度なモデリンング機能により、CFDに複雑な触媒反応や結晶成長のモデルを組み込み、大規模シミュレーションが可能です。  gO:CFD （Fluent, STAR-CD等CFDとの連成）  gO:Run （gPROMSランタイム・モジュール）  ...

メーカー・取り扱い企業：シーメンス株式会社 gPROMS ポートフォリオ

【導入事例】GaN製造装置のガスノズルの設計最適化

計算時間を大幅に短縮！プロセスインフォマティクス導入事例をご紹介！

期待されている、パワー半導体です。薄切りの円盤のウエハとして使われるのが一般的ですが、最初に製造する状態は円柱形です。 GaNの円柱は、下から空いた穴からGaNの原料となるガスを噴出し、結晶を成長させます。実際の穴は100個以上で、無限の組み合わせがあります。シミュレーションをすると、それにかかるのは1条件なんと6時間。1000通りやると 6000時間=250日とかなりの...

メーカー・取り扱い企業：アイクリスタル株式会社

【EBSDによる結晶解析】はんだ接合部における金属間化合物

はんだ接合部における金属間化合物の結晶解析例をご紹介いたします

SEM像、Phaseマップ、結晶粒ごとにHigh lightするCu6Sn5のIQマップ、粒界の回転角をHigh lightするCu6Sn5のIQマップを用いて、 EBSD法による結晶を解析しました。 Cuパッド/はん...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる結晶解析】BGA

EBSD法により、結晶状態や残留応力の推測が可能！BGAの解析例をご紹…

BGA(Ball Grid Array)の解析例をご紹介いたします。顕微鏡による観察では、光学顕微鏡とSEMを使用。 EBSD法による結晶解析では、Phaseマップ、SnのGrainマップ、 SnのIPFマップ、SnのGRODマップを使用し、結晶状態や残留応力の推測が可能です。【概要】 ■EBSD法による結晶解析・...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】鉄板

グラフに現れた特長を可視化！結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認…

鉄板(Fe)について、EBSDによる解析例を紹介致します。ヒストグラムのグラデーションと対応する結晶粒分布 map、 IPF map、結晶粒分布などを用いて、EBSDにて結晶構造を観察。 EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認でき、マップにHigh lightするこ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】ネジ

ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。

EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認することができます。今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が大きいことが推測されます。また、ネジ表面には粒径の小さい結...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】高融点はんだ

EBSDにて結晶構造を観察！それぞれの金属で各データの取得ができます

高融点はんだ(Snを少量含むPb基はんだ)について、EBSDによる解析例を紹介致します。 EBSD法により結晶粒分布や、残留応力を推測することが可能。また、結晶構造が異なる金属については同時に解析できるものがあり、それぞれの金属で各データの取得ができます。【特長】 ■結晶粒分布や、残留...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】カニカン

長期の使用により破損したカニカンの破断部に関する解析例をご紹介！

長期の使用により破損したカニカンの破断部について、観察、元素分析、EBSDによる解析を行いましたので紹介致します。 EDXによる元素分析では、マッピング分析の結果、Pb結晶の粒界にSbの分布が見られました。また、EBSD法により結晶粒の配向性や方位差を確認できました。【解析概要】 ■EDXによる元素分析・マッピング分析の結果、Pb結晶の粒界に...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】ビア

EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することができます

積層基板で形成されるビア(Cu)について、EBSDによる解析例を紹介致します。 EBSD法により結晶サイズの分布や、残留応力を推測することが可能。また、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を可視化できます。【概要】 ■EBSDにて結晶構造を観察・...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

EBSDによる解析例（セラミック）

「観察/元素分析」や「EBSDによる解析」など！EBSDによる解析例を…

紹介致します。「観察/元素分析」では、EDXによる元素分析からAl2O3と判断され、マップよりSiが点在している様子が観察されました。「EBSDによる解析」では、EBSD法により結晶サイズの分布や配向性を確認でき、マップにHigh lightすることにより、グラフに現れた特長を可視化できます。【解析概要】 ■観察/元素分析・SEMによる観察とEDXによる元...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【資料】EBSDによるウイスカ解析

ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

、機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。ぜひご一読ください。【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス