• BF3バードネットオールステンレス25/50 製品画像

    BF3バードネットオールステンレス25/50

    PR高級×高耐久性×高品質!抜群の耐久性と美観性に優れた防鳥専用ネット

    当社で取り扱う『BF3バードネットオールステンレス25/50』について ご紹介いたします。 当製品は、7本ヨリ線のステンレスワイヤーを独自の十字型止め具で固定し、 圧倒的な耐久性と強度を可能にし、耐食性を高めるために腐食に強いと いわれるSUS316を採用。 ステンレスならではの張りのある質感と高い機能性で、様々な美しい空間を創出。 機能美を追求した鳥害対策製品です。 【特長】 ■不燃防鳥ネ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジナガ

  • 2線式レーダーレベル計 Pulsar『REFLECT』 製品画像

    2線式レーダーレベル計 Pulsar『REFLECT』

    PR上下水・河川のレベル計測、及び潮位計測に好適。 ※御手頃価格です。

    ■電波計(マイクロ波式、技適認証番号:209-J00487) ■計測レンジ:8m、20mの2機種 ■周波数:63GHz ■ビーム角度:6° ■外径寸法:135mm(高さ) x 102mm(直径) ■重量(センサ本体):1kg ■精度:2mm ■起動時間:ウォームブート5秒、コールドブート10秒 ■IOT接続に好適(河川レベル計測等) ■大気圧稼働温度:-40 °C ~ +80 ...

    メーカー・取り扱い企業: デレーコ・ジャパン株式会社

  • 技術情報誌 201904-03 線膨張係数の実測値 製品画像

    技術情報誌 201904-03 膨張係数の実測値

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    ーションに用いるパラメータが使用する材料のものと相違していることが考えられる。本稿では、近年注目の新素材であるセルロースナノファイバー(CNF)を用いた複合材料について、CNFの配向および複合材料の膨張係数を、実測値とシミュレーションによる推測値の比較検討を行った。さらに、シミュレーションに用いるパラメータの影響評価を行った結果について紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.試料 3....

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 破面分析に 走査型電子線マイクロアナライザ 製品画像

    破面分析に 走査型電子マイクロアナライザ

    分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡

    い!」など、そんな時には日本カタンがお役に立ちます。 当社は各種の試験設備・分析機器を大型の横型引張荷重試験機や疲労強度試験機などの試験設備をはじめとし、金属元素の分析機器、国内最大規模の産業用XCTスキャン装置、金属摩耗試験機など、多種多様な試験設備を取り揃えております。 様々な分野のお客様にご利用頂くために、受託試験・分析業務を承っております。 【広帯域振動試験機のご紹介】 一般構...

    メーカー・取り扱い企業: 日本カタン株式会社

  • 【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面 製品画像

    【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

    各元素の分布を2次元的に見ることが可能!多層状の試料の分析の際にも有効…

    Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性Xの強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能です。 また分析では、SEM画像で指定した状の各...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • [EBIC]電子線誘起電流 製品画像

    [EBIC]電子誘起電流

    試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手…

    SEM装置内で電子を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部に...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【機器の健康診断】機器の状態監視で故障の予知保全を確認しませんか 製品画像

    【機器の健康診断】機器の状態監視で故障の予知保全を確認しませんか

    インバーターの突然の故障原因を事前にキャッチ!急な設備トラブルを回避し…

    【測定項目(抜粋)】 ■モータ部   ●回転軸・軸受・据付    ●巻の絶縁・振動   ●軸受・ハウジングの損傷  ●エアギャップ付均一 ■負荷部  ●軸受損傷・異物付着    ●カップリング異常・軸バランス  ●回転軸異常・バルブ摩耗  ●歯車・ベルト系損傷...

    メーカー・取り扱い企業: 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

  • 故障劣化予知診断 高調波を使用して電気設備の不具合箇所を特定! 製品画像

    故障劣化予知診断 高調波を使用して電気設備の不具合箇所を特定!

    2次から40次までの高調波を使用して診断! モーター、機械、インバータ…

    断(KS-2000)により、モーター、機械、インバーター、 電力用変圧器、コンデンサーを異常・劣化が診断できます。 【測定項目(抜粋)】 ■モータ部   ●回転軸・軸受・据付    ●巻の絶縁・振動   ●軸受・ハウジングの損傷  ●エアギャップ付均一 ■負荷部  ●軸受損傷・異物付着    ●カップリング異常・軸バランス  ●回転軸異常・バルブ摩耗  ●歯車・ベルト系損傷...

    メーカー・取り扱い企業: 日本メカトロン株式会社 大阪事業所

  • [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 製品画像

    [TEM-EDX]エネルギー分散型X分光法(TEM)

    EDXは、分析対象領域に電子照射した際に発生する特性Xの、エネルギ…

    EDXは、分析対象領域に電子照射した際に発生する特性Xの、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 ...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 放射線測定サービス 製品画像

    放射測定サービス

    工業製品・大気中・水・食品など、放射の測定はおまかせください

    製品の出荷前検査や輸出品など、放射量を測定し報告書を作成いたします。英文の報告書も作成可能です。 検体ごとに適切な測定機器をもちいて測定を行います! 【輸出コンテナや製品からの放射量率を確認】 【食品の放射能を測定】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X分光法(EDS)

    特性Xを検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    『エネルギー分散X分光法(EDSまたはEDX)』は、電子顕微鏡(SEMやTEM)に 取り付けられた検出器で電子照射により発生する特性Xを検出し、 試料や異物の元素情報を得る手法です。 物質に電子を照射...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • RoHS/ELVスクリーニング分析の受託サービス|JTL 製品画像

    RoHS/ELVスクリーニング分析の受託サービス|JTL

    ED-XRFによるRoHS/ELVスクリーニング分析を実施します。

    【特徴】 ●各種材質ごとの内部検量選択 同じ濃度の元素でも共存元素(特に主成分元素)の影響をうけて蛍光X強度が変わります。 ED-XRFは各種材質の検量を内蔵しているため、標準試料不要で分析することができます。 ●しき...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • ドイツ サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5 製品画像

    ドイツ サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5

    熱膨張率が低い花崗岩ステージ!2種類の検出器が搭載可能な高出力 X

    diondo d5 は、性能、サイズ、機器の互換性を必要とするお客様向けに特別に設計されています。 高出力 X 源と高解像度検出器を最大 9 軸の精密機械システムの組み合わせで、柔軟性とパフォーマンスの革新的な飛躍が可能になります。 ▪ さまざまな組み合わせが可能 特定の試験ニーズを満たすために最大 ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • 電子顕微鏡による形態観察・成分分析のご案内 製品画像

    電子顕微鏡による形態観察・成分分析のご案内

    試料領域での点分析、分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分…

    【特長】 ■手間と時間のかかる前処理なしで観察ができる ■形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察もできる ■試料中の測定したい2点間の距離計測も可能 ■試料領域での点分析、分析、マッピングなどの分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人東海技術センター

  • サンプル分析・デモンストレーション 製品画像

    サンプル分析・デモンストレーション

    装置のご購入検討を目的とされている場合は無償にて対応しております!

    散性評価> ■粒子径分布、及び、粒子形状 ■粒子径分布 ■スラリー分散性 <比表面積・細孔分布・ガス吸着量、真密度、触媒評価> ■比表面積測定 ■比表面積/細孔分布測定 ■ガス吸着等温測定 ■高圧ガス吸着等温測定 ■破過曲測定 ■昇温分析測定 ■金属分散度測定 ■真密度測定 ■細孔分布測定(水銀ポロシメーター) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽に...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロトラック・ベル株式会社

  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    するお問い合わせ・お申し込みはお電話やお問い合わせより、受け付けております。 【受託分析データ例】 ○TEM分析 原子レベルまで観察 ○SIMS分析 不純物の濃度を評価 ○XRD分析 Xで結晶を特定 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ナノフォーカス・マイクロフォーカスX線CTスキャンサービス 製品画像

    ナノフォーカス・マイクロフォーカスXCTスキャンサービス

    形状のぼやけが極めて少ない高解像度画像を提供いたします

    デュアル源を備えており、簡単に切り替え可能なナノ(180kV)/マイクロ(300kV)フォーカスX源を備え、各種撮影手法(ヘリカル、IMR、リミテッドアングル、ディテクターシフト等)や独自の散乱補正(Sc...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社光佐株式会社

  • 3D希薄流体解析ソフトウェア『DSMC-Neutrals』 製品画像

    3D希薄流体解析ソフトウェア『DSMC-Neutrals』

    低圧条件のガス流れの解析ができる 希薄気体(希薄流体)にも対応した解…

    が可能 ◆さまざまな事例に対応◆ ・真空チャンバー内の希薄なガス流れシミュレーション ・半導体製造における薄膜生成のシミュレーション ・化学蒸着 (CVD)、有機EL (OLED)、分子エピタキシー (MBE ) ・CVD のような化学反応を含む成膜シミュレーション などの半導体製造における薄膜生成のシミュレーション ◆さまざまな計算結果を出力◆ ・化学反応の計算...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

  • リートベルト解析(Rietveld analysis)とは 製品画像

    リートベルト解析(Rietveld analysis)とは

    XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます

    リートベルト解析とはXRD(X回折法)や中性子回折法の測定データを解析する手法の一種です。既存手法による格子定数・空間群などの同定に加え、試料の結晶構造モデル(候補)がある場合は単位格子内部の原子配置など、より詳細な結晶構造情...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    [SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    SEMは、電子を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(Se...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ドイツ 大型高出力 工業CTシステム diondo d4 製品画像

    ドイツ 大型高出力 工業CTシステム diondo d4

    高密度の中大型部品向けのコンパクトなコンピュータ断層撮影検査システム

    スペースが小さいため、既存の生産環境や研究室環境への統合が容易になり、プラグ アンド プレイの原理により、システムは設置後すぐに使用できるようになります。 ▪ 最大 600kV の高性能 X 管  吸収性の高いサンプルでも十分な浸透力を発揮 ▪ コンパクトな設計  周辺機器も一体化してコンパクトなシステムを実現 ▪ 安定的な 3K 検出器  短い測定時間でより詳細な検出機能を実...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像

    [AES]オージェ電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量が...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始 製品画像

    Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

    最大8インチMEMSラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

    実績:  MEMSセンサ(圧力センサ、加速度センサ、流量センサ、赤外センサ、音響センサ など)  MEMSアクチュエータ(マイクロミラー、RF MEMS など)  各種半導体(IC、パワーデバイス など)  光学素子(アパーチャ、レンズ など)  機...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • [UPS]紫外光電子分光法 製品画像

    [UPS]紫外光電子分光法

    試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

    測定試料の仕事関数値よりも高いエネルギーを持つ紫外光を照射することで、試料表面から電子が放出されます。(紫外光:He I21.22eV) 放出された電子の運動エネルギー分布(右図)から試料の価電子状態を得、更にスペクトル幅より仕事関数は以下の表式を用いて求めます。...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1 製品画像

    ドイツコンパクトマイクロナノ工業CTシステム diondo d1

    最小および中サイズの分析と測定に最適 高性能透過型X源の採用により…

    diondo d1 は、小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された高解像度マイクロ・ナノ CT システムです。 従来のシステムと比較して、d1 は高出力透過 X 源を使用することで、同じ測定時間で最大 4 倍の分解能を達成でき、同じ分解能で測定時間を 1/4 に短縮できます。 非常に高い送信出力により、新エネルギー電池などの新エネルギー車両用途における困難な...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • 酸化物系全固体電池の故障解析事例 製品画像

    酸化物系全固体電池の故障解析事例

    高い安全性を持ち、様々な環境下で使用できる!一貫した解析が可能です

    信頼性試験によって破壊した酸化物系全固体電池に対して、故障箇所 特定~断面観察までの一連の解析を実施した事例をご紹介します。 発熱解析により側面で発熱が強い傾向が認められ、X透過観察では、 X透過像で発熱が認められた境界付近に白い状のコントラスト異常 が見られました。白部で何らかの異常が発生している可能性が疑われます。 異常が見えていた箇所に対して、CP...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減 製品画像

    【分析事例】AI技術を用いたCT画像のアーチファクト低減

    AI技術でCT画像のメタルアーチファクトを低減し画像解析精度を向上!

    XCT測定ではサンプルの三次元構造を非破壊で観察することが可能です。 しかし、Xビームを使用する性質上、金属を多く含むサンプルの測定においてはメタルアーチファクトと呼ばれる暗い状の虚像が発生する...

    • C0653_PDFスクショ.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【事例】『DSMC-Neutrals』真空排気シミュレーション 製品画像

    【事例】『DSMC-Neutrals』真空排気シミュレーション

    真空排気シミュレーションなど 低圧条件のガス流れの解析ができる 希…

    が可能 ◆さまざまな事例に対応◆ ・真空チャンバー内の希薄なガス流れシミュレーション ・半導体製造における薄膜生成のシミュレーション ・化学蒸着 (CVD)、有機EL (OLED)、分子エピタキシー (MBE ) ・CVD のような化学反応を含む成膜シミュレーション などの半導体製造における薄膜生成のシミュレーション ◆さまざまな計算結果を出力◆ ・化学反応の計算...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

  • 【分析事例】SiGe中不純物の高精度定量評価 製品画像

    【分析事例】SiGe中不純物の高精度定量評価

    SIMS:二次イオン質量分析法

    タリングレートが異なる事が知られている。組成が深さごとに異なる試料においては、深さごとにスパッタリングレートが変化する。 MSTでは、標準試料の整備により高精度な組成分析が可能です。また、検量を用いることでSiGe各組成における不純物分析およびスパッタリングレート補正が可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価 製品画像

    【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

    SEMによる電子誘起電流法・結晶方位解析

    CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流(EBIC)を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより...

    • SEM.png
    • EBIC.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別 製品画像

    【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別

    TEM-EELSにより、微小領域の元素同定・化学状態分析が可能です

    電子材料・触媒材料・紫外吸収剤・光触媒などに用いられる酸化チタン(TiO2)には組成が同じで結晶構造の異なるアナターゼ型とルチル型が存在します。Si基板上に成膜した厚さ20nmの多結晶TiO2試料(写真1)について電子プ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ドイツ 万能型サブマイクロフォーカス工業CT diondo d2 製品画像

    ドイツ 万能型サブマイクロフォーカス工業CT diondo d2

    小型および中型部品の分析および測定用に特別に設計された万能型サブマイク…

    打ち立てています。 ▪ 高解像度 3D 解析 低密度材料から完全なアセンブリまでの 3D 解析 ▪ オプションのデュアルチューブ構成 最大 300kV のマイクロおよびナノ焦点 X 管の組み合わせにより、優れた透過性と高精度の解像度を実現 ▪ 多軸花崗岩機械システム 光焦点と検出器の間の距離を自由に調整して、最適な解像度のイメージングを実現できます。 ▪ さまざ...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法 製品画像

    [FT-IR]フーリエ変換赤外分光法

    数十μm角程度の領域の測定が可能

    赤外分光法は、分子の振動による赤外吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。 ・非破壊での測定が可能 ・真空下での測定により、大気成分であるCO2やH2Oの影響を除去することが可能 ・顕微測定により、数十μm角程...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ドイツdiondo工業CT測定サービス-文化財と考古学 製品画像

    ドイツdiondo工業CT測定サービス-文化財と考古学

    考古学研究に新しい視点と方法を提供する

    質に関する分析データ。 ● 文化遺物の 3D モデル データを取得し、文化遺物の 3D デジタル ファイルを確立します。 diondo の産業用 CT 検査システムを通じて、従来の X 透過による画像の重ね合わせによって引き起こされる画像の混乱を回避するだけでなく、文化財の内部および外部構造の 3D モデルを取得し、3D 仮想展示モデルを確立できます。文化財のラピッドプロトタイピン...

    メーカー・取り扱い企業: ND GROUP 日本支社

  • 燃料電池の性能評価試験 製品画像

    燃料電池の性能評価試験

    自動車およびその周辺分野を含めた様々なニーズにお応えし、委託試験・研究…

    面波遮蔽率(MIL-STD-285):70kHz以上~30MHz以下,電界60dB以上                         30MHz以上~6GHz以下,平面波60dB以上  ・電源遮蔽率(MIL-STD-220C):150kHz以上~18GHz以下,100dB以上 ■計測機器類  ・磁界測定器,電磁界測定器,EMFスキャナー,直流・交流電源,電子負荷,電力計,オシロスコー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人日本自動車研究所

  • 【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 製品画像

    【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析

    金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こ…

    電子後方散乱回折法EBSD(Electron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 浸水シミュレーションの受託(水理解析・流出解析業務) 製品画像

    浸水シミュレーションの受託(水理解析・流出解析業務)

    柔軟かつ現実的な治水対策が可能!調査からサポートまで、一貫して対応可能…

    調節池基本検討委託 ■狭間川排水区浸水対策検討業務 ■可部ほか4排水区浸水対策検討業務27-1 ■公共下水道排水機能調査委託 ■狭間川改修基本設計業務 ■雨水調整池基本設計委託(川栗駒井野) ■栄処理区飯島地区浸水対策基本検討業務委託 ■浸水(内水)想定区域図作成業務29-1 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本インシーク 大阪本社

  • 分析サービス『異物混入検査』 製品画像

    分析サービス『異物混入検査』

    かび・ガラス片・金属タワシなど、迅速かつ適切な調査・報告を行います

    【設備】 ■外観・形状観察  ・光学顕微鏡  ・走査型電子顕微鏡(SEM) ■無機成分分析  ・電子マイクロアナライザー(EPMA)  ・熱分析(TG/DTA)  ・X回折装置(XRD) ■有機成分分析  ・赤外分光分析装置(IR)  ・ガスクロマトグラフ質量分析(GC/MS) ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社分析センター 第一技術研究所

  • [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法 製品画像

    [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

    TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

    電子プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Autom...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】半導体のイオン化ポテンシャル評価 製品画像

    【分析事例】半導体のイオン化ポテンシャル評価

    UPS:紫外光電子分光法

    ポテンシャルを求めることが可能です。 表面有機汚染除去程度のArイオンスパッタクリーニング後に測定を行っています。 ■価電子帯立ち上がり位置(VBM)の決定 価電子帯頂点近傍のスペクトルを直で外挿し、バックグラウンドとの交点を求めます。 ■イオン化ポテンシャルの算出 イオン化ポテンシャル(I.P.)= hν-W hν:照射紫外のエネルギー(He I21.22eV) W:...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 202201-02 fsLA-ICP-MS 製品画像

    技術情報誌 202201-02 fsLA-ICP-MS

    フェムト秒レーザーアブレーション-誘導結合プラズマ質量分析法は生体組織…

    2 fsLA-ICP-MSの構成 表1 fsLA-ICP-MS, NanoSIMS, TOF-SIMSの比較 図3 マウスがん組織のBNCT用ホウ素薬剤分布像 図4 FeおよびZnの脊髄用検量 図5 マウス脊髄(腰髄)中のFe, Zn定量イメージング結果(n=3)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201906-02 多周波/高温ESR装置 製品画像

    技術情報誌 201906-02 多周波/高温ESR装置

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    ペクトル(空気中加熱) 図3 O-リングのESRスペクトル(空気中加熱) 図4 ETFEからの発生ガスのFT-IRスペクトル(空気中加熱) 図5 ダイヤモンド粉末のESRスペクトル 図6 γ照射したホウ素含有シリカガラスのESRスペクトル 図7 Eu2+発光体粉末のESRスペクトル...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈 製品画像

    『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

    Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新…

    その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X回折(XRD) 圧力-組成等温(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただ...

    メーカー・取り扱い企業: ハイドロラボ株式会社

  • 技術資料『油分分析の基礎』 製品画像

    技術資料『油分分析の基礎』

    赤外分光光度計を用いた吸光度法による油分定量分析を紹介した技術資料

    ■はじめに ■赤外分光光度計を用いた油分の定量分析の原理  ・主な油分の定量分析例  ・油分定量の分析例 ■赤外分光光度計を用いた油分定量分析の手順  ・抽出溶媒の選択  ・標準油の検量作成  ・抽出方法の選択  ・溶媒の濃縮及び定容  ・赤外分光光度計による吸光度の測定  ・測定した吸光度から油分量の算出 ■赤外分光光度計を用いた油分定量分析の注意事項 ■おわりに ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ユニケミー

  • 形状計測 製品画像

    形状計測

    設計寸法通りの形状か測定ができ、健全品と不具合品の比較計測も可能!

    【計測手法】 ■プロファイル計測 ■体積・面積計測 ■粗さ測定 ■面粗さ測定 ■平均段差計測 ■平面計測 ■比較計測 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アサヒテクノリサーチ

  • 【資料DL可:EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定 製品画像

    【資料DL可:EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定

    SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による…

    電子後方散乱回折法EBSD(Electron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで材料の結晶方位分布を把握できます 本事例では...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【技術資料】-異物分析-無機材料に内包された異物の分析 製品画像

    【技術資料】-異物分析-無機材料に内包された異物の分析

    無機材料の微小異物を露出し、EPMAで分析した事例などをわかりやすくご…

    に内包された異物の分析』について 掲載しています。 異物分析の中でも、材料内部に内包された異物の分析には高度な試料前処理 技術が必要です。 無機材料の微小異物を露出し、EPMA(電子マイクロアナライザ)で 分析した事例を、試料・分析手法、写真などを交え紹介します。 【掲載内容】 ■概要 ■試料・分析手法 ■分析手法 ■分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東ソー分析センター

1〜45 件 / 全 52 件
表示件数
45件