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44件 - メーカー・取り扱い企業
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PR難めっき樹脂・難接着樹脂へ「非粗化による直接めっき」や「接着剤レス直接…
弊社改質技術では、基材表面へ官能基を強固に結合して付与することで、 一般的なプラズマ表面処理（有機物除去、一時的な親水性の向上など）ではできない表面改質処理を提供できます。 【特長】 ○低誘電材および難めっき材への非粗化直接めっき技術 フッ素樹脂、LCP、COP、ポリイミド樹脂などへ非粗化でシード層が介在しない直接銅めっきが可能 ○難接着材の非粗化接着剤レス・直接接着技術 各種フッ素樹脂、...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社電子技研
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連続離型性乾性離型剤フロロサーフ 微細成型用 ナノインプリント
PR連続離型性が高く、ナノレベルの表面形状やナノインプリントにも対応「フロ…
焼き付けフッ素樹脂加工・シリコン離型剤を超える高性能フッ素系金型離型剤『フロロサーフ』をご紹介。 従来の離型剤では抜けない、連続離型性を向上させたい → そんな時に活躍します。 『フロロサーフ』はナノメータレベルの離型成分が母型表面に結合密着し、強力な非粘着性・潤滑性を金型表面に付与します。 精密複雑な形状の成形や粘着性の高い樹脂やエラストマー、割れやすい薄物の成形において、抜群の連続離型性を...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社フロロテクノロジー
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TOF-SIMSは軽元素、無機物から分子量の大きい有機物まで分析可能で…
■TOF-SIMS 3つの分析モード ・高分解能質量スペクトル ・深さ方向分析 ・表面の面分析...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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問題の対策や回避が可能！元素および結合状態分析で比較検証した事例をご紹…
色することが多いです。 変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じますが、 化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、 問題の対策や回避が可能となります。 当資料では、表面分析による元素および結合状態分析で 比較検証した事例をご紹介しています。 【掲載内容】 ■分析サンプル ■XPS（ESCA）による元素分析結果 ■XPS（ESCA）による結合状態分析結...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ラマン分光法による深さ方向への測定！多層膜の表面から各層の材料分析が可…
当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から 各層の材料分析が可能です。 顕微ラマン分光光度系の共焦点機能を用いて、ラマンレーザー光の焦点を 深さ方向に変化させることができます。 また、焦点位置を連続的に変化させれば、深さ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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試料表面の凹凸形状の3D測定や透明体越しの表面形状測定などが可能です！
ます。 408nmレーザーを用いて観察、計測を実施。測定結果は国家基準につながる トレーザビリティ体系に基づいており、測定機器として非破壊測定に活用できます。 レーザー顕微鏡では、試料表面の凹凸形状の3D測定ができ、透明体の膜厚形状や 透明体越しの表面形状測定が可能です。 【特長】 ■試料表面の凹凸形状の3D測定が可能 ■透明体の膜厚形状や透明体越しの表面形状測定が可能 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ガラス、ITOなどの透明素材に！各透明樹脂・紫外線照射前後の測定評価も…
【関連サービス】 ■熱、湿度負荷の信頼性試験 ■試験前後の表面観察、表面粗度分析 ■試験前後の表面／定性化学分析 ■試験前後の分子量分析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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真実を探求！通信が悪くなった場合はコネクタ端子の不具合を疑ってみてもい…
したためと思われます。 【コネクタめっき断面概要】 ■断面の作製はトリプルイオンミリングポリッシャー（通称CP ）を使用 ■スジ箇所のめっき状態をSEMにて観察 ■結果 ・スジなし：表面Auめっきの厚さが均一（約350um） ・スジA：表面Auめっきの厚さが不均一（約490nm/約350nm） ・スジB：表面Auめっきの厚さが不均一（約130nm/約650nm） ※詳...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現…
当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。 「形状測定（タッピングモード）」では、周期的に振動させた プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。 ま...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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機能材料の性能評価、品質管理において重要な分析項目！不織布シートや膜材…
不織布シートの最大孔径、細孔分布を、バブルポイント法を用いて 評価した例を紹介します。 試料を薬液に浸漬し空気圧を加えます。圧力を加え、シートに染み込んだ薬液の 表面張力に打ち勝ち、気泡の出現が生じたときの圧力をバブルポイントといいます。 最大孔径は、バブルポイントの圧力、薬液の表面張力を基に計算することが 可能です。 【計算式】 ■d＝Cy/P...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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観察対象は液晶パネルにCOG実装方式で接続されたICチップ！回路面を明…
精密平面研磨を応用してガラス基板配線や導電粒子を削り取り、ダメージの 少ない状態でICチップ回路を観察した事例を紹介いたします。 ガラス基板側から慎重に平面研磨を行い、ICチップの数μm手前までの 部材を削り落とし、回路面の観察を実施。ICチップ回路面は明瞭に確認でき、 高倍率の詳細観察も可能になりました。 当事例のように平面研磨で詳細観察が可能になったサンプルや、FIB加工や ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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CISアダプター SC-200は、ソラメンテ-iSのセンサー部を取り換…
CIS薄膜パネル点検で、PVケーブルを取り外してチェックする煩わしさが なくなりました。発電中にパネル表面から高速チェック、CIS点検の効率が飛躍的に向上します。 ソラメンテ-iS SI-200のセンサー部を取り換えるだけ ソラメンテCiSアダプター（オプション）SC-200は、すでに太陽光パネ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」「表面実装…
当資料では、当社で行ったX線透視やCT検査装置のさまざまな解析事例をご紹介しております。X線透視観察や斜めCT観察の「BGAはんだクラック解析事例」をはじめ、「表面実装LED」や「チップ抵抗の観察事例」などを掲載。 【掲載内容（抜粋）】 ■BGAはんだクラック解析事例（X線透視観察） ■表面実装LED ■チップ抵抗の観察事例 ■リフローシュミレー...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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試料の観察や元素分析が可能！半導体、電子部品分野のみならず、ライフサイ…
■半導体、電子部品などの導電性のある試料は主に通常/導電体モードで SEM観察がお勧め ■プラスチック、紙、ゴム、セラミックスなど導電性のない試料や 水分・油分を含む生物、などの観察は表面・通常/帯電防止モードでの SEM観察がお勧め ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます…
液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能です。 【解析内容】 ■初期解析 ・現状確認(点灯試験)、...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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移動・保管のリスクを低減！信頼性試験から観察まで一貫したサービスをご提…
当社では、試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約し、移動・保管の リスクを低減、ウィスカが脱落・消失しない環境を整えております。 また、信頼性試験前後のマイグレーション観察やはんだ表面観察も 承っておりますので、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■信頼性試験から観察まで一貫したサービス ■試験槽と保管庫、観察場所を1フロアに集約 ■移動・保管のリスクを低減 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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【動画あり】親知らず(第三大臼歯)のX線CT像(直交CT)をご紹介しま…
親知らず(第三大臼歯)をX線CTで観察した事例をご紹介します。 10年以上前、撮影者の抜歯した親知らずをX線CTで観察。 X線透視像に比べ、歯の最表面にあるエナメル質とその下の象牙質が 明瞭に観察できました。 【親知らずの観察事例】 ■X線透視像に比べ、歯の最表面にあるエナメル質と その下の象牙質が明瞭に観察可能 ※詳しくはP...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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広範囲の分析が可能！EPMAのガイドネットマップ法を用いた分析例をご紹…
【分析例】 ＜錠剤表面の元素分析＞ ■2×2や3×3など任意に測定範囲を分割し、測定することによって、広範囲の測定が可能になる ■高低差があるため、SEM-EDXでの測定は局所的になってしまい、錠剤表面の元素分布の把...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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太陽光パネルをもっと点検してほしいから
ングを判別します。 eZ-10のストリング測定で異常のあるストリングを検出したら、eZ-10に電流センサー eA-10を接続して故障パネルの特定を行います。 eA-10は、発電中のパネル表面にセンサーをあて、クラスタ故障*が発見できる点検装置です。インターコネクタに流れる発電電流をセンサーで感知し、音で発電していないクラスタをお知らせします。 （*クラスタ故障は、初期不良、経年劣化、...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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高温状態での動作が要求されるデバイスに！高温でのラッチアップ試験をご紹…
による加熱 （フィクスチャボード上のソケット･デバイス等を熱風発生器で加温） ■制御方法： デバイス付近にセンサーを設置し温度調節器で制御（温度センサ：Pt100） 事前確認としてデバイス表面温度を測定し、ヒーターの出力値を調整 ■試験装置： ESD／ラッチアップテスタ M7000A-512EL ■装置仕様： VCC電源搭載数4台（VCC1：100V／0.5A、VCC2～VCC4：5...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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粒径、粒子径分布を求める！水媒体中のシリカ粒子、アルミナ粒子の粒径測定…
ます。このゆらぎを観測、 解析することで、粒径、粒子径分布を求めることができます。 【アルミナ測定結果・考察】 ■アルミナは、強アルカリ条件から中性に近づくにつれ、等電点に近づく ■粒子表面の電荷が小さくなる ■粒子間の反発が小さくなる ■粒子の凝集が起こっていることが窺える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です！
同じ鉄の酸化物、水酸化物でも、価数や結晶構造の差異によってスペクトルが異なります。 ラマン分析により、ミクロンオーダーの微細な範囲での鉄の酸化状態が確認が可能です。 【分析内容】 ■鉄表面に発生した錆の分析 ・FeOOHとFe2O3が入り混じっている ・FeOOH、Fe3O4、Fe2O3が入り混じっている ■鉄錆び成分のラマンスペクトル ※詳しくはPDF資料をご覧いただく...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプ…
■多層膜中異物の特殊サンプリング技術 ・基板上金属膜に埋もれた異物 金属膜エッチング⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ・多層薄膜中の異物 表面層の切り取り⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ミクロトーム/FIB 薄片化⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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平面方向と断面方向から導電粒子の様子を観察！変形具合を確認した事例
COG実装の導電粒⼦形状観察についてご紹介します。 ICと液晶パネルはACF(異⽅性導電フィルム)を⽤いたCOG⽅式により実装。 核に樹脂ボールを使⽤し、その表面に導電のための⾦属層(ニッケルや⾦など) が成膜されており、接続時に粒⼦が適度に変形し、ICとパネルを電気的に接続。 粒⼦の変形具合や接続状態を確認するため、断面観察を⾏ったところ、 粒⼦...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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輸送時の温度ストレスを再現！加熱処理で剥離やクラックなどの有無を評価
当社では、表面実装部品(SMD)のはんだ実装工程における耐熱性を評価する、 『はんだ耐熱性試験(SMD)』を行っております。 実装までの吸湿を加湿処理で再現し､はんだ実装時の熱ストレスに相当する 加熱処...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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物体色を数値化することが可能！色の違いを数値化した試験結果をご紹介しま…
当資料では、物体色を数値化する色差計をご紹介しています。 光を物体に照射すると、物体の表面や内部で光学的な現象が起こり、 その散乱光を検出することで物体色を数値化することが可能となります。 例として、水性塗料に対して紫外線（UV）を照射した条件とUV未処理の 条件で色の違いを数...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ソーラーパネルチェッカー SI-200は、発電中に故障パネルを簡単に発…
ソーラーパネルチェッカー ソラメンテ-iS SI-200は、発電中のパネル表面にセンサーをあて、クラスタ故障*が発見できる点検装置です。インターコネクタに流れる発電電流をセンサーで感知し音階とLEDレベルで表示、発電していないクラスタを瞬時に判別します。 （*クラスタ故障は...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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奥方向と表面から化合物の状態を観察！加⼯、前処理、観察⼿法や組み合わせ…
観察試料の処理方法により、得られる情報が異なることがあります。 はんだの接合部を断面から2次元で観察することがあるかと思いますが、 3次元的に化合物がどのように成長しているか疑問に思われたことは ありませんか。 当資料では、Cuパッドとはんだの接合部の観察例をご紹介。 「断面観察」と「平面観察」を掲載しております。 【掲載内容】 ■断面観察 ・エッチング処理前 ・...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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【化学反応機構研究所】製造過程の材料特性に悩んでいる方必見！
表面のこの変色の理由は？なぜこんな所にヒビが入っているの？等の課題は、…
製品の製造過程、および使⽤時において、たくさんの不具合が発⽣します。その中でも材料特性に関わるような課題で、「おそらく材料が原因なんだろうけど、何をどうすればよいのかなあ」、とお悩みの方々には、電子、原子、分子、および化学反応メカニズムの視点で適しているソリューションを提案いたします。 ■課題例 ・なにかしら、この変⾊はどうしてなの？ ・なぜすぐにヒビが入ったの？ ・引張試験をすると、...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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装置による見え方の違いやサンプル角度による見え方の違いや光源などをご紹…
ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、 平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。 観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。 当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による 見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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実装基板上の電子部品のはんだ接合状態、部品の内部構造を詳細に観察するこ…
当社では『表面実装電子部品の断面観察』を行っております。 機械研磨後の断面観察により、実装基板上の電子部品のはんだ接合状態 （クラックやボイド有無）、部品の内部構造を詳細に観察することが可能。 「S...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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金属酸化物などの無機化合物の分析も可能！銅張積層板表面の黒点分析をご紹…
銅張積層板表面に発生した変色部をラマンにて分析した事例をご紹介します。 当社のラマン分光分析は、有機物だけでなく、金属酸化物などの 無機化合物の分析も可能です。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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表面分析・異物分析・有機組成分析を行っております
アイテスでは有機・無機物の分析、異物、表面分析等、目的・試料に適した 受託分析メニューをご提案・実施いたします。 この部門では、高度なサンプリング技術を用いて微小異物の成分分析を行う 微小異物分析や、試料中の不純物分析等、有機・無...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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CISアダプター SC-200は、ソラメンテ-iSのセンサー部を取り換…
CIS薄膜パネル点検で、PVケーブルを取り外してチェックする煩わしさが なくなりました。発電中にパネル表面から高速チェック、CIS点検の効率が飛躍的に向上します。 ソラメンテ-iS SI-200のセンサー部を取り換えるだけ ソラメンテCiSアダプター（オプション）SC-200は、すでに太陽光パ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします
Chip表面の配線(Al)について、EBSDによる解析例を紹介いたします。 パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封し、EBSDによるチップ表面の Alパターンの解析を実施。 その結果、Al配線に配...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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【X線透視・CT検査装置】LED不良観察事例(X線透視観察)
【動画あり】不良発生の瞬間を捉えました！LEDのX線観察事例をご紹介し…
表面実装型のLEDが過負荷で損傷する瞬間をX線透視観察で捉えた事例を ご紹介します。 表面実装型のLEDを通電した状態で、電圧、電流を定格値から徐々に 上昇させ、過負荷により不点灯となった過程を撮影しました。 また、動画でも不点灯となった過程をご覧いただけます。 【LED不良観察事例】 ■不点灯後 ・溶融、断線 ・ワイヤーのループ形状変化 ・蛍光体の剥離 ・ボイドの形状、...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ネジ(Cu2Zn)について、EBSDによる解析例をご紹介致します。
EBSD法により結晶サイズの分布や、結晶方位の配向性を確認する ことができます。 今回はネジの谷部分の方位差が大きいことがわかり、残留応力が 大きいことが推測されます。 また、ネジ表面には粒径の小さい結晶粒が分布している様子も 観察されました。 【概要】 ■解析方法 ・EBSDにて結晶構造を観察 ■結果 ・ネジの谷部分の方位差が大きいことがわかった ・残留応力が...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ソーラーパネルチェッカー SI-200は、発電中に故障パネルを簡単に発…
ソーラーパネルチェッカー ソラメンテ-iS SI-200は、発電中のパネル表面にセンサーをあて、クラスタ故障*が発見できる点検装置です。インターコネクタに流れる発電電流をセンサーで感知し音階とLEDレベルで表示、発電していないクラスタを瞬時に判別します。 （*クラスタ故障...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能！分析事例もご紹介いたし…
り、光電子の 検出深さを変えることが可能。 これより得られたデータをシミュレーションにより数値的に解析し、 深さ方向のプロファイルに変換します。 通常のイオンエッチング法では測定が困難な表面付近nmオーダーの、 均一な薄膜の深さ方向分析を実現します。 HDD磁気面の深さ方向を分析した事例もございます。 【特長】 ■非破壊でnmオーダーの薄膜の深さ方向分析が可能 ■均一な薄...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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立体的に観察ができるため解析に有効なCT観察！チップ抵抗の観察事例をご…
X線透視・CT検査装置によるチップ抵抗の観察事例をご紹介します。 チップ抵抗は、セラミックスの表面に薄膜状の金属膜(抵抗体)が形成された構造で、 X線像で見られるL字状の線は抵抗値を調整するために施されたトリミング痕です。 CT観察では、所望の断層図を見れて立体的に観察できるため、解析に...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…
当資料では、ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて、 機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶粒と結晶粒界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス
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