• SDカード/MicroSDカード ~仕様一覧・課題解決事例進呈~ 製品画像

    SDカード/MicroSDカード ~仕様一覧・課題解決事例進呈~

    PR自社F/Wと高い解析能力を活用し高品質を維持しています。お客様に好適な…

    『GT02/GT04シリーズ』は高い解析能力と高品質を維持した「SDカード/MicroSDカード」です。 [GT02] 従来の製品と比較し、速度を遥かに向上させた製品で、ラズベリーパイ・車載機器・産業機器分野などで多数の採用実績があります。 →従来品と比較し、2倍以上にする事により、速度の下げ幅を軽減させています。 製品ラインナップ:16GB~256GB U1/U3 [GT04]...

    メーカー・取り扱い企業: GTS株式会社

  • 圧力容器 保守・保全サービス(メンテナンス) 製品画像

    圧力容器 保守・保全サービス(メンテナンス)

    PR皆様の大切な設備・機器保全のため出頭します!もしくは引き取って工場で補…

    長年に渡り各種圧力容器製造で蓄積した知見・技術で石油精製・石油化学プラント用圧力容器向けに保守・保全サービス(メンテナンス)を提供しております。 石油精製用圧力容器の製造から60年、保守・保全サービスの提供開始から50年、国内に留まらず世界各国の多種規格の機器において製造・補修・改造・検査実績があります。 【保守・保全サービスの 特徴】 ◆各種国内/国際規格に対応 ◆現地検査&コン...

    • 画像2.jpg
    • 画像3.jpg
    • 1111.JPG

    メーカー・取り扱い企業: 日本製鋼所M&E株式会社 営業本部

  • 【資料DL可:AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集 製品画像

    【資料DL可:AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

    構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分…

    当事例集では、『AFM:走査型プローブ顕微鏡』における分析事例をご紹介します。 【掲載内容】 ●「食品(そうめん)の構造解析および弾性率測定」手法、結果 ●「真空中AFM導電性測定」の特長や分析事例 ●「AFMによる材料表面の導電性評価」の特長や分析事例 ●「高分子材料のAFM観察(ミクロトームによる平滑化)」 ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査 製品画像

    【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査

    X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有…

    X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケルめっき)の変色調査」を紹介します。 ニッケルめっきの変色という不良に対してXPSによる表面分析で変色の理由を探りました。 ぜひ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1 製品画像

    【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1

    Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…

    基板の洗浄評価(GD-OES測定)」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 (ラマン分光分析)」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価(GD-OES測定) ■XPSによる表面汚染分析 ■酸化銅の状態解析(XP...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • <PDF資料DL可>【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析 製品画像

    <PDF資料DL可>【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析

    X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…

    ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色 の分析、表面処理の評価に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析 製品画像

    【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析

    X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…

    XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。 接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。 この事例では「XPSによる撥水膜の分析」を紹介します ぜひPDF資料をご...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

1〜5 件 / 全 5 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 0527_iij_300_300_2111588.jpg
  • 4校_0513_tsubakimoto_300_300_226979.jpg

PR