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14件 - メーカー・取り扱い企業
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13件 - カタログ
211件
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MCA4A 4チャンネルMCA(マルチチャンネル・アナライザ )
PRPHA(パルス波高分析)モードとMCS(マルチチャンネル・スケーラ)モ…
PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。 ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の4つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。 内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...
メーカー・取り扱い企業: 大栄無線電機株式会社
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材料自体の表面を除去して三次元的に形成する加工も実現!
レーザと言えばマーキングの印象が強いかもしれません。ガルバノミラーの角度を変えることによってレーザビームを高速に走査して材料表面に印字するのがレーザマーキングです。レーザックス では木材やアクリルなど特殊な材料へのマーキングはCO2レーザで行っています。このようなガルバノミラーを用いた加工技術を応用して、表面に付...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社レーザックス
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大型設備(6000mm カールツァイス製) 高精度を保証する測定
大型三次元測定器 3000x6000x2000mm(カールツァイス製)…
高精度三次元測定機 UA3P-4型(測定範囲:100×100×35mm、測定最大角度755度) →非球面レンズなどのナノ精度で最高0.01μmの高精度測定が可能 ○電子顕微鏡 SEM ・走査電子顕微鏡I(SEM) →光学顕微鏡では観察不可能な微笑な表面構造を鮮明に観察 ○光学式表面粗さ計 →接触・非接触測定に対応 ・Zygo社 New View 7200(非接触微小平面粗さ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クリスタル光学
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研究開発・品質保証のスピードアップに貢献!手間を惜しまないこだわりが、…
利な刃物を用いて材料から薄片を直接切り出す手法 ■高精度精密研磨:正確に試料を固定でき、角度補正、荷重コントロール、研磨盤の回転方向や速度等の幅広い設定が可能 <観察・測定> ■金属顕微鏡から走査電子顕微鏡まで、クラック・ボイドからウィスカやマイグレーションまで幅広く対応 ■プリント基板を中心に様々な試料を対象とした測定・測長も実施 <半導体パッケージの開封とIC特性チェック> ■ボン...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック
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半導体、MEMS、液晶ガラスなど!微小領域の断面加工やTEM試料の作製…
株式会社アイテスが保有する設備、集束イオンビーム「FIB」をご紹介します。 「FIB(集束イオンビーム)」は、Gaイオンを数μm以下に絞り、ビームを 走査させて試料表面の原子を弾き飛ばしながら微小領域を加工する装置です。 半導体、MEMS、液晶ガラス、ビルドアップ基板など、微小領域の断面加工や TEM試料の作製が可能です。 【保有設備】...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス
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薬品での表面腐食による、金属組織検査用の前処理を行います。
につきましては、ご相談下さい。 【各種試験から断面研磨・観察まで対応】 金属組織観察前の各種気象的・機械的環境試験にも対応。 試料カット⇒樹脂埋め⇒鏡面研磨仕上げ⇒エッチング⇒金属顕微鏡・走査電子顕微鏡等による観察まで承ります。...
メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
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ビーム加工・金属3Dプリンターを用いたマスクやコリメーターの提案
超微細スリットのマスク、高アスペクト比のコーデッドマスク、コリメーター…
短いレーザー(ピコ秒、フェムト秒等)を用いて微細加工する加工法。 熱影響が少なく、高品位な仕上がり。 集束イオンビーム装置(FIB) 数十ナノメートル程度に集束したイオンビームを試料表面で走査することで発生した2次電子などを検出して 顕微鏡像を観察したり試料表面を加工したりすることができます。 レーザーパウダーベット方式(粉末床溶融結合方式 Laser Powder Bed Fus...
メーカー・取り扱い企業: 東レ・プレシジョン株式会社
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高精度な加工後は、十分な測定を実施!■業界:自動車(試作)/半導体/ロ…
ど、測定が重要になってきます。 まず測定環境をご覧頂き、 ものづくりのレベルをお確かめ下さい。 ・ツアイス 3次元測定器 ・高精度形状粗さ測定器 ・テーラーホブソン 真円度測定器 ・走査電子顕微鏡(SEM) ・マール 測長器 ・3Dレーザー顕微鏡 ・デジタルマイクロスコープ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 大羽精研株式会社
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数ミクロン以下のナノオーダーの加工技術!極低加速電圧による低ダメージ加…
PRポイント】 ○φ1um以下の超微細穴加工が可能 ○微細な構造加工が可能 ...etc 【集束イオンビーム(FIB)加工の原理】 数十ナノメートル程度に集束したイオンビームを試料表面で走査する事で発生した2次電子を検出し 顕微鏡像の観察、試料表面の加工が可能。FIBのイオン源にはガリウムイオンを使用しており、その イオンビームを試料の表面に照射すると、 試料表面から2次電子が発...
メーカー・取り扱い企業: 東レ・プレシジョン株式会社
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異物混入をなるべく防ぎたい電子部品、化粧品等の原料乾燥に最適なクリーン…
後の製品だけでなく、加工途中の品質管理も徹底しております。 ■分析例( https://www.nc-ind.com/analyzer/ ) ✓異物確認 マイクロスコープ、走査電子顕微鏡、FT-IR ✓含有元素確認 X線回折、ICP発行分析装置、蛍光X線装置 ✓粒度分布 粒度分布測定装置(※湿式、乾式測定可能) 等々、原料・...
メーカー・取り扱い企業: 日本カラー工業株式会社
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レーザービームを細かく揺さぶる“ウォブリング動作”による新しいレーザー…
である”ギャップによる溶接不良”を克服することに成功しました。 レーザー溶接はギャップ(僅かな隙間)があると溶接不能と思われてませんか。 レーザービームで極小の「8」や「の」を描きながら走査する“ウォブリング動作”により、レーザービームが影響する範囲が広がります。そうすることでギャップを拡散しながらビームが推進するのでギャップがあってもレーザー溶接ができるようになりました。 <レ...
メーカー・取り扱い企業: 倉敷レーザー株式会社
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当日・すぐに分析可能:噴霧乾燥後の粉末(電池材料、化粧品原料等)
スプレードライ(噴霧乾燥)加工後の乾燥粉末、当日中に水分率、粒径等の物…
工後、 お客様がいち早く知りたい「粉末の粒形、粒度分布、水分率、嵩密度」を その日・すぐに分析することができる分析機器を取り揃えております。 【噴霧乾燥後の粉末 分析項目例】 ■粒形:走査電子顕微鏡(SEM) 10万倍まで観察可能 ■粒度分布(粒径):粒度分布測定装置 乾燥粉体をそのまま乾式測定可能 ■水分率:赤外線水分計 ■嵩密度:嵩比重測定機 当社に...
メーカー・取り扱い企業: 日本カラー工業株式会社
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【レーザー微細加工事例】ステンレスのメッシュ加工、真鍮へのディンプル加…
ュ構造を作りました。穴数は80,000穴以上です。加工速度は0.25sec/穴です。写真のようなグリッド配置ではなく千鳥配置にも可能です。また、より大面積のメッシュ加工もできます。レーザースポットを走査して穴加工しているため、丸穴だけではなく、長穴・四角穴・三角穴など様々な形状の穴を実現できます。 ■真鍮へのディンプル加工 直径Φ30µm, 深さ15µmの止り穴を40µmピッチで配置した加...
メーカー・取り扱い企業: 光株式会社
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100mm幅のレーザー焼き入れでコストダウン!納期短縮!
【従来の困りごと】 レーザー焼き入れにおけるデメリットの一つとして、広い幅の焼入れが出来ないために、広い面積の焼入れは数ライン走査しなければならず、レーザー焼き入れのコストUPの要因となっていた。 【レーザー焼き入れのメリット】 12KW半導体レーザーと最大幅100mmの光学系(2020年3月導入) を利用し、100m...
メーカー・取り扱い企業: 富士高周波工業株式会社
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