MCA4A 4チャンネルMCA（マルチチャンネル・アナライザ ）

PRPHA（パルス波高分析）モードとMCS（マルチチャンネル・スケーラ）モ…

PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。 ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の４つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。 内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...

メーカー・取り扱い企業： 大栄無線電機株式会社

DSC（示差走査熱量分析）

試料の吸熱/発熱の度合いを観察！温度範囲は-90℃～550℃まで可能で…

『DSC（示差走査熱量分析）』は、試料の温度変化によって発生した 基準物質との温度差から、熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを 観察する分析手法です。 温度範囲は-90℃～550℃、必要サンプル量は5～...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

走査電子顕微鏡観察の受託サービス｜JTL

SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。

走査電子顕微鏡観察サービスでは、SEMやFE-SEMを使用して、試料の表面の高倍率形態観察を行います。 SEM観察では表面の凹凸状態だけでなく、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡（SEM）より高倍率での観察が可能で、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。また、SEM/FE-SEMに付属するEDXにて、元素分析を行うことも可能です。 J...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

［DSC］示差走査熱量測定

DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...熱流束型DSCは基準物質とサンプルを同時に加熱した時の温度差を連続的に...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するS...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

固体試料にイオンビームを照射すると二次電子が発生します。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じます。この像を走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope： SIM）像といいます。 電子線照射によってもこのようなコントラスト像が得られますが、イオンビームの方が顕著に現れます。 金属多結晶...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

走査電子顕微鏡-X線分析

試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

熱分析　示差熱重量・示差走査熱量分析

微量で熱・重量変化がみられます！

有機材料、薬品、セラミック、粉末冶金などの熱分解挙動の解析を通して材料の信頼性、不具合の原因解明等に役立つ情報が得られます。 ...【特徴】 ○試料の温度変化に伴う熱的変化、重量変化および熱容量の測定が可能 ○対象試料：金属、石炭、油、付着物等 ○試料量：１０ｍｇ～ ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

【測定事例集】熱分析

示差走査熱量分析をはじめ熱機械分析や動的粘弾性分析などの測定事例をご紹…

フィルム全体厚さ30ミクロンで各層がナイロン、PET、2種のLDPEの 「多層フィルム(4層)各部熱分析」や、測定温度範囲が-180～500℃、 昇温速度が1℃/分～100℃/分の「示差走査熱量分析」など様々な測定事例を 図や写真と共に詳しく掲載。 ぜひご一読ください。 【掲載事例(抜粋)】 ■示差走査熱量分析(DSC, MDSC) ■示差走査熱量分析(Chip DS...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本サーマル・コンサルティング

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

DSC（示差走査熱量分析）の測定事例

DSCで熱特性を⽐較！種類の判別、ポリマー分⼦鎖の状態から材料特性に与…

ポリエチレン（PE）はその側鎖分岐の長さや数によって、 幾つかの種類があり材料特性が異なります。 結晶性高分子であるポリエチレンの融解ピークから、 DSCにて融点及び結晶化度を測定しポリエチレンの種類ごとに比較しました。 長い側鎖が多く分子鎖が密になり難いLDPEは、 融点が低く結晶化度も低い結果となった一方、 分子鎖が密になりやすいHDPEは、融点・結晶化度共に高い値を示しま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

『フェーズドアレイ-UT（PAUT）法』

電子走査により、機械的走査が難しい箇所に対しても検査が可能！

搬方向や集束位置を 調査したい目的に合わせて設定する方法です。 受信された波形データは画像化されるため欠陥の有無を確認しやすく、 その寸法を精度よく測定できます。 【特長】 ■電子走査により、機械的走査が難しい箇所に対しても検査が可能 ■全ての探傷波形データを保存することにより、客観的且つ継続的な評価が可能 ■CAD図をPAUT画像に重ね合わせることで解釈の容易な結果を提供可...

メーカー・取り扱い企業： 住重アテックス株式会社

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。 ２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。 ３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け

光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較！メリット、デメリットを挙げて解…

試料の観察には光学顕微鏡とSEM（走査電子顕微鏡）がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている メリット、デメ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新…

雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力－組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光...

メーカー・取り扱い企業： ハイドロラボ株式会社

【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度･ガラス転移温度調査

DSC（示差走査熱量）測定による熱物性評価

二液混合型のエポキシ樹脂について、DSC（示差走査熱量測定法）を用いて硬化温度及び耐熱性の指標となるガラス転移温度（Tg）を調査しました。硬化前の樹脂をDSC測定したところ、約103℃付近から急激な発熱反応が開始するのが確認されました（図1）。これ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】HAADF-STEM像とは

HAADF-STEM：高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法

■原理 HAADF-STEM( High-angle Annular Dark Field Scanning TEM)像は細く絞った電子線を試料に走査させながら当て、透過電子のうち高角に散乱したものを環状の検出器で検出することにより得られます。 ■特徴 Z2ρが大きな材料の方がより高角に散乱される ↓ 重い元素はSTEM像では暗く、H...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス

損傷を受けた部品を調査することで、損傷原因を明らかに！損傷原因を明らか…

す。IHI検査計測社では、機械製品、部品の損傷調査を実施しています。 【損傷調査の実施方法】 ■外観観察：損傷の発生状況、き裂の発生箇所、変形量の計測、腐食状況の確認 ■破面観察：破断面を走査電子顕微鏡(SEM)で観察し、損傷形態を明らかにする ■ミクロ・マクロ観察：金属的な組織を観察し、問題点を明らかにする ■材質調査：化学分析を実施し、材質の妥当性を確認する ■機械試験：部材の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

SCM/SNDMは、導電性の探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手 法です。 ・SCM：1015～1020cm-3, SNDM：1014～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ・半導体の極性（p型/n型）...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】

形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…

を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 形態観察手法について ・　 走査型電子顕微鏡（SEM）：原理、試料作製法、分析例 ・　 透過型電子顕微鏡（TEM）：原理、試料作製法、分析例 ・　球面収差補正走査透過型電子顕微鏡：原理、分析例 ・　三次...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

受託分析サービス『Mediator Scan』

マーカー探索・メカニズム解析向け！脂質メディエーターを走査するHMTの…

『Mediator Scan』は、脂質メディエーターを走査するHMTの受託分析サービスです。 脂質メディエーターの代表的な物質群であるオキシリピン類やリゾリン脂質類、 ステロイド類を含む、計400種の脂溶性代謝物を網羅的に解析します。 特に炎...

メーカー・取り扱い企業： ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社

形態観察サービス

有機・無機材料の局所分析はお任せください！

【主な機器】 ■Cs補正走査透過電子顕微鏡（Cs補正STEM） ■電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM） ■電界放射型走査透過電子顕微鏡（FE-STEM） ■高分解能透過電子顕微鏡（HR-TEM） ■エネルギー分散型...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社UBE科学分析センター 名古屋営業所

フェイズドアレイ超音波探傷検査

入射角が固定された従来の超音波探傷に比べ、最小限の走査範囲で検査が可能…

【その他装置の特長】 ■検査結果を画像化してデータ保存が可能 ■簡単な操作で誰でも正確に測定可能 ■狭空間でも作業しやすい携帯型装置 ■一方向走査の探傷で作業時間を短縮 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本工業試験所

技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【資料DL可：DSC】シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)

一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転…

物質によってはガラス転移、冷結晶化、融点が低温領域に存在することがあります 弊社ではその特性をDSC(示差走査熱量計)を用いて測定する技術があります その技術を活用して材料特性を把握していただければ幸いです この事例ではその技術の一例として 「シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)」 を紹...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

株式会社ウィズソル　技術資料

タンク目視検査ロボットや配管連続板厚測定装置などについて掲載！技術紹介…

貢献することを使命とします。 当資料では、各種鋼構造物を自動走行カメラロボットで安全に目視検査 するタンク目視検査ロボット「i-ROBO(アイロボ)」をはじめ、 配管連続板厚測定装置や手動走査式連続板厚測定装置などを掲載しています。 【掲載内容（一部）】 ■タンク目視検査ロボット「i-ROBO(アイロボ)」 ■配管連続板厚測定装置「UDP-48(ユーディーピー)」 ■タンク底...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ウィズソル 関西営業所

【資料DL可・DSC】米・麺類等でんぷんの糊化把握

DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます…

でんぷん加工食品においては、糊化(α 化 や、逆反応である老化 (β 化 の様子を把握がとても重要です。 弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術があります この事例ではその技術の一例として 「米・麺類等でんぷんの糊化把握」 を紹介しています また本技術の応用で老化度も測定可能です。 詳細はPDF...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定4(最適生成条件検証)

チョコレートのテンパリング工程（ココアバターの6種類の結晶形の内V型の…

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）

DSC測定でチョコレートの主成分であるココアバターの融解挙動の把握が可…

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。 この事例で...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/DSC】熱分析における事例集2

チョコレートを徹底的に科学分析し食感、溶け方の違いを探っています。製品…

【掲載内容詳細（抜粋）】 ■チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定） 　・目的：チョコレートの融解挙動を測定する 　・手法：示差走査熱量計（DSC）による測定 　・結果：ピーク位置から結晶型を推定できた ■チョコレートのDSC測定2（製品間の比較） 　・目的：チョコレートの融解挙動を測定する 　・手法：示差走査熱量計（D...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

析法 ICP-MS　誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS　X線光電子分光法 UPS　紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES　オージェ電子分光法 SEM　走査電子顕微鏡法 EBIC　電子線誘起電流法 ほか ○振動分光 FT-IR　フーリエ変換赤外分光法 Raman　ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD　X線回折法 SAXS　X線小角散乱法...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

AFM（原子間力顕微鏡）

微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現…

当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。 「形状測定（タッピングモード）」では、周期的に振動させた プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。 また、「位相イメージン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

金属組織観察

⾦属材料の組織観察は、その材料の特性に⼤きく影響するとても重要な要素の…

鋳造、圧延、熱処理など 全般に関連しており､材料の品質管理だけでなく、開発実験、基礎研究、 事故調査等に多⽤されております。 その内容は、肉眼によるマクロ組織観察から、数十万倍にも及ぶ 走査電子顕微鏡によるミクロ組織観察まで広範囲にわたります。 【マクロ組織観察概要】 ■巨視的な組織の確認 ■加工品や破損品等の断面形状確認 ■ボイド・非金属介在物等の材料欠陥の有無の確認 ...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

微小異物の断面観察

高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得…

　FIB（集束イオンビーム） は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。 　FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社巴川コーポレーション

CFRP非破壊検査【超音波探傷検査】

カーボンファイバー複合材料（CFRP）積層板の超音波探傷検査をお請けし…

探傷器スペック メーカー：KJTD（旧クラウトクレーマー） 型式：HIS3-μSDS 探傷方式：水浸式 プローブ情報：一振動子・垂直探触子 走査サイズ：X310 x Y350 x Z50 mm 各軸分解能：X:0.002（スキャン最小ピッチ） 　　　　　　 Y:0.002（インデックス最小ピッチ） 　　　　　　 Z:0.001 mm ...

メーカー・取り扱い企業： ティーシーエム合同会社 三芳工場

【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察

Csコレクタ付STEMによる高分解能STEM観察

ABF-STEM像（走査透過環状明視野像）により軽元素の原子位置を直接観察することができます。 HAADF-STEM像との同時取得で、より詳細な構造解析が可能となりました。 本事例では、チタン酸ストロンチウムSrTiO...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流（EBIC）を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電流の分布と結晶粒との対応をとりました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】AFMデータ集

AFM :原子間力顕微鏡法

AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】クライオSEMについて

クライオ加工冷却SEM： 走査電子顕微鏡法

液状試料の構造を観察するには、試料本来の構造を維持した状態で一連の分析をする必要があります。クライオSEMでは、試料を急速凍結して割断面を作製することで、試料構造を観察することができます。 さらにFIB加工による断面作製技術を組み合わせることで、より詳細な内部構造の情報を得ることが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か？」 はんだ内部に潜む問題…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析 ・実装部などの微小部における残留応力の評価（約50μｍでの解析事例あり） 本事例では ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

初心者向けオンライン講座(e-learning)【材料物性】

材料物性を基礎から学びたい方向きの講座です。材料物性・力学物性評価、材…

・材料物性評価:主な物性値と測定方法 ・力学物性評価の基礎 ・材料試験（引張試験）：装置、何がわかるか、測定方法、測定例 ・熱分析とは ・示差走査熱量計（DSC）：原理、何がわかるか ・熱重量測定（TG）：原理、適用例 ・物性測定の難しさ 受講特典として「講座内容に対する質問回答サービス」がついており、「分析手法の原...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［Slice&View］三次元SEM観察法

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

ope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、走査イオンSIM(Scanning Ion Microscope)の観察が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST