MCA4A 4チャンネルMCA（マルチチャンネル・アナライザ ）

PRPHA（パルス波高分析）モードとMCS（マルチチャンネル・スケーラ）モ…

PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。 ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の４つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。 内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...

メーカー・取り扱い企業： 大栄無線電機株式会社

DSC（示差走査熱量分析）

試料の吸熱/発熱の度合いを観察！温度範囲は-90℃～550℃まで可能で…

『DSC（示差走査熱量分析）』は、試料の温度変化によって発生した 基準物質との温度差から、熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを 観察する分析手法です。 温度範囲は-90℃～550℃、必要サンプル量は5～...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

［DSC］示差走査熱量測定

DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。 ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...熱流束型DSCは基準物質とサンプルを同時に加熱した時の温度差を連続的に...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するS...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

固体試料にイオンビームを照射すると二次電子が発生します。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じます。この像を走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope： SIM）像といいます。 電子線照射によってもこのようなコントラスト像が得られますが、イオンビームの方が顕著に現れます。 金属多結晶...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

走査電子顕微鏡-X線分析

試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。 ２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。 ３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】光学顕微鏡とSEMの使い分け

光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較！メリット、デメリットを挙げて解…

試料の観察には光学顕微鏡とSEM（走査電子顕微鏡）がよく用いられますが、 それぞれ特長があるので目的に応じた装置を選択する事が大切です。 当資料では、光学顕微鏡とSEMを同じサンプルで比較し一般的に言われている メリット、デメ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

『空気非接触環境での受託分析サービス』※分析サンプル資料進呈

Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新…

雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力－組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光...

メーカー・取り扱い企業： ハイドロラボ株式会社

【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度･ガラス転移温度調査

DSC（示差走査熱量）測定による熱物性評価

二液混合型のエポキシ樹脂について、DSC（示差走査熱量測定法）を用いて硬化温度及び耐熱性の指標となるガラス転移温度（Tg）を調査しました。硬化前の樹脂をDSC測定したところ、約103℃付近から急激な発熱反応が開始するのが確認されました（図1）。これ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】HAADF-STEM像とは

HAADF-STEM：高角散乱環状暗視野走査透過顕微鏡法

■原理 HAADF-STEM( High-angle Annular Dark Field Scanning TEM)像は細く絞った電子線を試料に走査させながら当て、透過電子のうち高角に散乱したものを環状の検出器で検出することにより得られます。 ■特徴 Z2ρが大きな材料の方がより高角に散乱される ↓ 重い元素はSTEM像では暗く、H...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

SCM/SNDMは、導電性の探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手 法です。 ・SCM：1015～1020cm-3, SNDM：1014～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある ・半導体の極性（p型/n型）...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】

形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…

を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 形態観察手法について ・　 走査型電子顕微鏡（SEM）：原理、試料作製法、分析例 ・　 透過型電子顕微鏡（TEM）：原理、試料作製法、分析例 ・　球面収差補正走査透過型電子顕微鏡：原理、分析例 ・　三次...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

受託分析サービス『Mediator Scan』

マーカー探索・メカニズム解析向け！脂質メディエーターを走査するHMTの…

『Mediator Scan』は、脂質メディエーターを走査するHMTの受託分析サービスです。 脂質メディエーターの代表的な物質群であるオキシリピン類やリゾリン脂質類、 ステロイド類を含む、計400種の脂溶性代謝物を網羅的に解析します。 特に炎...

メーカー・取り扱い企業： ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社

技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【資料DL可：DSC】シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)

一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転…

物質によってはガラス転移、冷結晶化、融点が低温領域に存在することがあります 弊社ではその特性をDSC(示差走査熱量計)を用いて測定する技術があります その技術を活用して材料特性を把握していただければ幸いです この事例ではその技術の一例として 「シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)」 を紹...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可・DSC】米・麺類等でんぷんの糊化把握

DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます…

でんぷん加工食品においては、糊化(α 化 や、逆反応である老化 (β 化 の様子を把握がとても重要です。 弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術があります この事例ではその技術の一例として 「米・麺類等でんぷんの糊化把握」 を紹介しています また本技術の応用で老化度も測定可能です。 詳細はPDF...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定4(最適生成条件検証)

チョコレートのテンパリング工程（ココアバターの6種類の結晶形の内V型の…

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）

DSC測定でチョコレートの主成分であるココアバターの融解挙動の把握が可…

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。 この事例で...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/DSC】熱分析における事例集2

チョコレートを徹底的に科学分析し食感、溶け方の違いを探っています。製品…

【掲載内容詳細（抜粋）】 ■チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定） 　・目的：チョコレートの融解挙動を測定する 　・手法：示差走査熱量計（DSC）による測定 　・結果：ピーク位置から結晶型を推定できた ■チョコレートのDSC測定2（製品間の比較） 　・目的：チョコレートの融解挙動を測定する 　・手法：示差走査熱量計（D...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

析法 ICP-MS　誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS　X線光電子分光法 UPS　紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES　オージェ電子分光法 SEM　走査電子顕微鏡法 EBIC　電子線誘起電流法 ほか ○振動分光 FT-IR　フーリエ変換赤外分光法 Raman　ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD　X線回折法 SAXS　X線小角散乱法...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

AFM（原子間力顕微鏡）

微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現…

当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの 構造解析を実現いたします。 「形状測定（タッピングモード）」では、周期的に振動させた プローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。 また、「位相イメージン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

微小異物の断面観察

高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得…

　FIB（集束イオンビーム） は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。 　FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。 　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社巴川コーポレーション

【分析事例】チタン酸ストロンチウムSrTiO3の原子カラム観察

Csコレクタ付STEMによる高分解能STEM観察

ABF-STEM像（走査透過環状明視野像）により軽元素の原子位置を直接観察することができます。 HAADF-STEM像との同時取得で、より詳細な構造解析が可能となりました。 本事例では、チタン酸ストロンチウムSrTiO...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流（EBIC）を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電流の分布と結晶粒との対応をとりました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】AFMデータ集

AFM :原子間力顕微鏡法

AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】クライオSEMについて

クライオ加工冷却SEM： 走査電子顕微鏡法

液状試料の構造を観察するには、試料本来の構造を維持した状態で一連の分析をする必要があります。クライオSEMでは、試料を急速凍結して割断面を作製することで、試料構造を観察することができます。 さらにFIB加工による断面作製技術を組み合わせることで、より詳細な内部構造の情報を得ることが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。 シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

初心者向けオンライン講座(e-learning)【材料物性】

材料物性を基礎から学びたい方向きの講座です。材料物性・力学物性評価、材…

・材料物性評価:主な物性値と測定方法 ・力学物性評価の基礎 ・材料試験（引張試験）：装置、何がわかるか、測定方法、測定例 ・熱分析とは ・示差走査熱量計（DSC）：原理、何がわかるか ・熱重量測定（TG）：原理、適用例 ・物性測定の難しさ 受講特典として「講座内容に対する質問回答サービス」がついており、「分析手法の原...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［Slice&View］三次元SEM観察法

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

ope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、走査イオンSIM(Scanning Ion Microscope)の観察が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析

金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こ…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では 【EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析 を...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 加えて以下の特...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

Scanning Microwave Microscopy

SMM は、導電性プローブを用いて計測試料を走査し、その凹凸形状を観察します。同時に、マイクロ波を探針から試料に照射して、その反射応答を計測することで、特に半導体の場合にはキャリア濃度に相関した信号を得ることができる手法です。SMM 信号の強度は...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SEM-ECCI法による転位観察

金属材料中の転位の観察にはTEMが用いられてきましたが、SEMを用いた…

金属材料の変形や破壊のプロセスの本質的な理解には、転位の状態を可視化することが重要となっています。従来、金属材料中の転位の観察にはTEM（透過電子顕微鏡法）が用いられてきましたが、近年ではSEM（走査電子顕微鏡法）による観察も試みられていました。今回、当社でもこのSEMを用いた転位の観察ができるようになりました。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

受託分析評価サービス

長年培ってきたノウハウを活かし好適な分析手法をご提案します！

【装置原理】 ■構造解析 　・集束イオンビーム装置 　・集束イオンビーム加工観察装置 　・走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分析 　・透過電子顕微鏡 ■表面解析 　・表面分析の種類と特徴 　・オージェ電子分光法 　・X線光電子分光分析法 　・飛行時間型二次イオン質量分析法 　...

メーカー・取り扱い企業： メルコセミコンダクタエンジニアリング株式会社

EBSDによる軟窒化化合物層の評価

軟窒化化合物層の相分布 の評価が可能です。

EBSD (Electron BackScatter Diffraction) は、 走査電子顕微鏡を用いた分析手法のひとつであり、 結晶試料に電子線を照射した際に発生する EBSD パターンを解析することで、結晶構造, 結晶方位, 塑性歪みなどの分布評価が可能です。耐摩耗性などを向上さ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Cr...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SNDMおよびSMMによる拡散層評価

SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

あり、SiCデバイスへの応用展開も進められています。一方、SiCデバイスのドーパント活性化率には課題があり、出来栄え評価が重要となります。今回、SiC Trench MOSFETに関して、SNDM（走査 型非線形誘電率顕微鏡）にてキャリア極性判定をSMM（走査型マイクロ波顕微鏡法）にてキャリア濃度分布を評価した事例をご紹介します。　...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】雰囲気制御&冷却下でのSEM分析

雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 SEM： 走査電子顕微…

大気に暴露すると変質してしまうリチウムイオン二次電池材料や、加工・観察時の熱で変質する有機系材料等の試料は、TEM・SEMを用いて本来の構造を観察することが困難でした。 大気暴露することなく（雰囲気制御）FIB付き高分解能SEM装置で観察することで、粒子や電解質等の本来の状態を知ることが出来ます。また冷却にも対応しており、熱による変質も抑えることが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧くだ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DSC】温度変調DSC法の紹介(高分子材料の評価)

温度変調DSCはIS法による比熱測定で、困難とされていた高温領域での比…

として 「PETを評価した事例」 を紹介しています 詳細はぜひPDF資料をご覧ください また、弊社はDSCの他、TG-DTA、TMAの各種熱分析も強みとしております ●DSC(示差走査熱量計)： 試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用可能 ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)： 試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可：DSC/TG-DTA】熱分析における事例集1

高分子材料などの材料の実体に触れたい方へ硬化度測定や融解測定などDSC…

手法：空気雰囲気、窒素雰囲気におけるTG-DTA測定 ■ココアバターの融解測定（ピーク分離機能の紹介） 　・目的：結晶多形をとるココアバター（食用油脂）の融解ピークの解析を行う 　・手法：示差走査熱量計（DSC）のピーク分離機能による推定 　・結果：結晶形毎の単一ピークに分離し、各結晶形の比率を推定した ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社