走査 | イプロスものづくり

PRPHA（パルス波高分析）モードとMCS（マルチチャンネル・スケーラ）モ…

PHAモードでは、16ビットADCを8nsごとに4チャンネル連続して収集し、32kの分解能を実現しています。ポールゼロ・フィルタと台形波シェーピングを備え、典型的なプリアンプ信号も処理できます。 MCSモードでは、右側の４つのBNCコネクタを用いて、Start, Stop1, Stop2, CHADVの各入力信号を処理します。内部メモリに、最大16Mbinのスペクトルを蓄積することが...

メーカー・取り扱い企業：大栄無線電機株式会社

DSC（示差走査熱量分析）

試料の吸熱/発熱の度合いを観察！温度範囲は-90℃～550℃まで可能で…

『DSC（示差走査熱量分析）』は、試料の温度変化によって発生した基準物質との温度差から、熱量差を求め、試料の吸熱/発熱の度合いを観察する分析手法です。温度範囲は-90℃～550℃、必要サンプル量は5～...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

［DSC］示差走査熱量測定

DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます。・融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。・結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。・氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...熱流束型DSCは基準物質とサンプルを同時に加熱した時の温度差を連続的に...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するS...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

固体試料にイオンビームを照射すると二次電子が発生します。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じます。この像を走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope： SIM）像といいます。電子線照射によってもこのようなコントラスト像が得られますが、イオンビームの方が顕著に現れます。金属多結晶...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

熱分析　示差熱重量・示差走査熱量分析

微量で熱・重量変化がみられます！

有機材料、薬品、セラミック、粉末冶金などの熱分解挙動の解析を通して材料の信頼性、不具合の原因解明等に役立つ情報が得られます。 ...【特徴】 ○試料の温度変化に伴う熱的変化、重量変化および熱容量の測定が可能 ○対象試料：金属、石炭、油、付着物等 ○試料量：１０ｍｇ～ ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ＩＨＩ検査計測

【測定事例集】熱分析

示差走査熱量分析をはじめ熱機械分析や動的粘弾性分析などの測定事例をご紹…

フィルム全体厚さ30ミクロンで各層がナイロン、PET、2種のLDPEの「多層フィルム(4層)各部熱分析」や、測定温度範囲が-180～500℃、昇温速度が1℃/分～100℃/分の「示差走査熱量分析」など様々な測定事例を図や写真と共に詳しく掲載。ぜひご一読ください。【掲載事例(抜粋)】 ■示差走査熱量分析(DSC, MDSC) ■示差走査熱量分析(Chip DS...

メーカー・取り扱い企業：株式会社日本サーマル・コンサルティング

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能・オプション機能を組み合わせること...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

DSC（示差走査熱量分析）の測定事例

DSCで熱特性を⽐較！種類の判別、ポリマー分⼦鎖の状態から材料特性に与…

ポリエチレン（PE）はその側鎖分岐の長さや数によって、幾つかの種類があり材料特性が異なります。結晶性高分子であるポリエチレンの融解ピークから、 DSCにて融点及び結晶化度を測定しポリエチレンの種類ごとに比較しました。長い側鎖が多く分子鎖が密になり難いLDPEは、融点が低く結晶化度も低い結果となった一方、分子鎖が密になりやすいHDPEは、融点・結晶化度共に高い値を示しま...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

『フェーズドアレイ-UT（PAUT）法』

電子走査により、機械的走査が難しい箇所に対しても検査が可能！

搬方向や集束位置を調査したい目的に合わせて設定する方法です。受信された波形データは画像化されるため欠陥の有無を確認しやすく、その寸法を精度よく測定できます。【特長】 ■電子走査により、機械的走査が難しい箇所に対しても検査が可能 ■全ての探傷波形データを保存することにより、客観的且つ継続的な評価が可能 ■CAD図をPAUT画像に重ね合わせることで解釈の容易な結果を提供可...

メーカー・取り扱い企業：住重アテックス株式会社

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

１.レーザを被観察領域に走査する。レーザ照射された配線部位は温度が上昇し、抵抗が変化する。２.レーザの走査に同期して電流値（または電圧値）を読み取る。３.ボイド・析出物等の欠陥は配線正常部とTCRが異なるため、抵抗変化...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

機械製品、部品の損傷調査・原因究明サービス

損傷を受けた部品を調査することで、損傷原因を明らかに！損傷原因を明らか…

す。IHI検査計測社では、機械製品、部品の損傷調査を実施しています。【損傷調査の実施方法】 ■外観観察：損傷の発生状況、き裂の発生箇所、変形量の計測、腐食状況の確認 ■破面観察：破断面を走査電子顕微鏡(SEM)で観察し、損傷形態を明らかにする ■ミクロ・マクロ観察：金属的な組織を観察し、問題点を明らかにする ■材質調査：化学分析を実施し、材質の妥当性を確認する ■機械試験：部材の...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ＩＨＩ検査計測

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

SCM/SNDMは、導電性の探針を用いて半導体表面を走査し、キャリア分布を二次元的に可視化する手法です。・SCM：1015～1020cm-3, SNDM：1014～1020cm-3程度のキャリア濃度に感度がある・半導体の極性（p型/n型）...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定4(最適生成条件検証)

チョコレートのテンパリング工程（ココアバターの6種類の結晶形の内V型の…

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙動を測...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

研究開発を強力サポート　「受託分析サービス」

お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

析法 ICP-MS　誘導結合プラズマ質量分析法ほか ○光電子分光法 XPS　X線光電子分光法 UPS　紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES　オージェ電子分光法 SEM　走査電子顕微鏡法 EBIC　電子線誘起電流法ほか ○振動分光 FT-IR　フーリエ変換赤外分光法 Raman　ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD　X線回折法 SAXS　X線小角散乱法...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

AFM（原子間力顕微鏡）

微小プローブによる高分解能でのイメージング！ナノレベルの構造解析を実現…

当社では、試料表面を微小プローブで走査し、ナノレベルの構造解析を実現いたします。「形状測定（タッピングモード）」では、周期的に振動させたプローブで試料表面を軽くタッピングし、表面形状を計測。また、「位相イメージン...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

金属組織観察

⾦属材料の組織観察は、その材料の特性に⼤きく影響するとても重要な要素の…

鋳造、圧延、熱処理など全般に関連しており､材料の品質管理だけでなく、開発実験、基礎研究、事故調査等に多⽤されております。その内容は、肉眼によるマクロ組織観察から、数十万倍にも及ぶ走査電子顕微鏡によるミクロ組織観察まで広範囲にわたります。【マクロ組織観察概要】 ■巨視的な組織の確認 ■加工品や破損品等の断面形状確認 ■ボイド・非金属介在物等の材料欠陥の有無の確認 ...

メーカー・取り扱い企業：川重テクノロジー株式会社

微小異物の断面観察

高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得…

　FIB（集束イオンビーム）は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。　FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。　...

メーカー・取り扱い企業：株式会社巴川コーポレーション

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

SSRMは、バイアスが印加された試料の表面を導電性探針で走査し、抵抗値の分布を二次元的に計測することで探針直下の広がり抵抗を可視化する手法です。シリコン半導体素子を計測した場合、空間分解能に依存しますが、キャリア濃度1016個/cm3以上に感度があります...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か？」はんだ内部に潜む問題…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です・微小領域での結晶粒径、相構造に関する分析・実装部などの微小部における残留応力の評価（約50μｍでの解析事例あり）本事例では ...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

［Slice&View］三次元SEM観察法

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

ope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、走査イオンSIM(Scanning Ion Microscope)の観察が可能...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

Scanning Microwave Microscopy

SMM は、導電性プローブを用いて計測試料を走査し、その凹凸形状を観察します。同時に、マイクロ波を探針から試料に照射して、その反射応答を計測することで、特に半導体の場合にはキャリア濃度に相関した信号を得ることができる手法です。SMM 信号の強度は...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Cr...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

関西エックス線株式会社　サービス紹介『非破壊検査・熱処理等』

信頼に応える「検査力」。非破壊検査・熱処理のプロフェッショナル企業

○連続板厚測定装置「UDP-48」「UDP-8」 ○タンク底板連続板厚測定装置「UDT-48」 ○配管連続板厚測定装置「UDP-24」 ○側板、屋根板、煙突への適用「UDP-24」 ○手動走査式連続板厚測定装置「UDP-M1」「UDP-M2」 ○配管架台接触部減肉検査装置「U-ラック」 ○高速水浸式超音波肉厚測定装置「UTIS」 ○水浸式超音波肉厚測定装置「IRIS」 ○TOFD...

メーカー・取り扱い企業：株式会社ウィズソル長崎営業所

【TG-DTA】熱重量測定によるゴム内のカーボンブラックの定量

＜資料はDL可＞TG-DTAでゴム中のカーボンブラックの定量を行えます…

い弊社はTG-DTAの他、DSC、TMAの各種熱分析も強みとしております https://www.seiko-sfc.co.jp/service/thermal.html ●DSC(示差走査熱量計)：試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます ●TG-DTA(熱重量・示差熱同時測定)：試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可：DSC】熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析

DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデ…

とが大切です •エポキシ樹脂の硬化反応速度式としては、Kamalのモデル式(Kamak Model)が広く用いられています •Kamalのモデル式(Kamak Model)の係数は、DSC(示差走査熱量計)の非等温硬化挙動から求めることができますこの事例ではDSCを用いた「熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析」を紹介しますぜひPDF資料をご一読ください弊社はDSC...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

【資料DL可/EBSD】線材の内部歪み測定

EBSDで金属組織の形状変化確認と内部歪み測定を行うことで板バネ、ひげ…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です・断面形成後の結晶方位解析・金属組織の形状変化と内部歪み分布の確認本事例では EBSDによる「線材の内部歪み測定」を紹介してい...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定2（製品間の比較）

チョコレートを徹底的に科学分析することで各社製品の比較が行えます

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。この事例で...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/EBSD】線材(ばね材)の金属組織観察

EBSDで金属組織を観察することで材料選定や材料変更の検討がスムーズに…

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です・結晶系の異なる相の分離・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析本事例では EBSDによる「線材(ばね材)の金属組織観察」を紹介し...

メーカー・取り扱い企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社