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PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…
フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約11万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 ・非接触で下記が測定できます。 ☆不透明体の厚みマッピング...
メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社
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PRナノメートル精度で変位・変形・振動を計測。超高真空・高磁場対応。最大5…
attocube(アトキューブ)社のレーザー干渉式変位センサは、物体のリニア運動の変動量を測定する装置です。 さまざまな材料や形状をもつ対象物の変位を、数ミリメートルから数メートルまでの広い範囲で測定できます。 小型モジュール式で、3軸まで構成可能です。 位置信号はクローズドループ位置決めシステムのフィードバックシグナルとして利用できます。 回転の振れ測定、振動測定、工作機械の校正など、高度な...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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【※デモ機有】HydraHarp400は TCSPC 。ピコ秒イベ…
◀HydraHarp400▶ 【主な特長】 ○より短いチャンネル時間幅(1ps)を複数のチャンネルで実現 Time Digital Converterを独立。 ○多チャンネルで幅広い測定が可能。 最大65536チャンネルを複数のチャンネルでリアルタイム測定 65ns~2.19s(時間幅に拠る)の測定が可能 ○FCSやFLIMに最適 Time-Tagged Time-Re...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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スーパーコンティニューム光源 390~2400nmシングルモード
390~2400nmの波長全域で、高輝度の回折限界光を出力。波長可変レ…
ー並みの高いビーム品質(ガウシアン、M2<1.1) ■波長可変フィルタオプション追加でチューナブルな波長掃引が可能 ■白色光源や広帯域・多波長光源と置き換え可能 ■パルス駆動のため、時間分解の測定が可能 ■PCで直感的に操作でき、電源を切らずにパラメータ変更が可能 (※製品の詳細はカタログをダウンロードしてご覧ください) シリーズ製品も揃っており、産業用途向け、小型タイプなどが選べ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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高性能TCSPCモジュール搭載の高性能Fluorescence Mic…
【主な特長】 ○高性能TCSPCモジュールを搭載 ○Time-TaggedモードによるFLIM、FCS、FCCSなどの測定可能 ○Laser Scaning Microscopeへのアップグレードシステム化 →所有の顕微鏡に、光学系、ディテクター、TCSPCモジュールを組合わせにより実現可能。 蛍光寿命イメー...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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多波長が同期可能な為、PIE(Pulse Interleaved Ex…
パルス駆動、時間分解測定が可能 。多波長同期が可能な為、PIE(Pulse Interleaved Excitation)等の複雑な励起が可能。 多数のダイオードレーザーヘッドをコンバイナにより結合、マルチチャンネルドライ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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コンパクトでコストパフォーマンスが良い、簡易原子間力顕微鏡(AFM)で…
■コストパフォーマンス 業界で最低価格の原子間力顕微鏡(AFM) ■高信頼性 特許取得のコアテクノロジーより高いイメージングを実現。 ■コンパクト AFM測定ヘッド本体は110mm角サイズと、非常にコンパクトです。 ◆ソフトウェアも完備! ※PDF総合カタログがダウンロードいただけます。詳しくはお問い合わせください。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さ兼ね備え、自動…
◆最も信頼性の高い品質と精度 同じ顕微鏡でガルバノスキャン (最大速度) と対物スキャン (最大光子検出効率)を搭載。 ◆時間を短縮しサンプル解析に集中可能 直感的なワークフローで効率的で最小限のユーザー操作でデータ取得が可能。 ◆高度な柔軟性 ワンクリックで観察範囲を調整可能。ソフトウェア経由でオプトメカニクスコンポーネントにアクセス可能。 ※詳細はお問い合わせください。 ...※詳細は...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM
マッピングを実現。FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得可能です。最速 100 ミリ秒 / 1点でPiF IR スペクトルを掃引が可能。短時間で測定ができます。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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8インチ(200mm)ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-…
高空間分解能のケミカルイメージングのほか、ナノスケールIR分光により、ナノ異物分析にも対応します。IRライブラリにも対応。8インチウエハだけでなく、152mmのフォトマスクサンプルにも対応...詳細はお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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