• 一酸化ケイ素(SiO)塊・粉末 製品画像

    一酸化ケイ素(SiO)塊・粉末

    PRサブミクロンから塊状まで幅広くカスタマイズ可能なSiOパウダー。LiB…

    当社は、リチウムイオン電池(LiB)負極材料などとして活用可能な 『一酸化ケイ素(SiO)』を提供しています。 粉末状(1~100μm)、粒状(1~5mm)、塊状(50~200mm)に対応し、 サブミクロンレベルまでカスタマイズ可能です。 1μmの粉末でSiO純度99.8%、5μmの粉末でSiO純度99.9%などの製品事例があります。 【特長】 ■製造方法:結晶化学気相成長法 ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本NER株式会社

  • ドライアイスペレット 製品画像

    ドライアイスペレット

    PR自社製造の円筒状で小さい粒(Φ3mm)状のドライアイス

    『ドライアイスペレット』は、円筒状で小さい粒(Φ3mm)のドライアイスです。 弊社では本社工場に製造装置(ペレタイザー)を導入しています。 ドライアイスブラスト(洗浄装置)の普及により需要も増えています。 小粒の形状なので冷熱を効率よく商品に与えることが可能。 角型のスライスタイプに比べ、必要量の調整が簡単。 角がなく、丸みのある形状のため、商品が傷つきません。 ドライアイ...

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    メーカー・取り扱い企業: 宮原酸素株式会社

  • 【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価 製品画像

    【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶の評価

    任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察

    質と結晶の関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶について電子回折を測定しました。これにより、電気的性質と結晶・結晶界の関係がより一層、明らかになりました。STEM観察および電子回折測定を行うことにより、特定箇所の結晶について局所的な情報を得...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 製品画像

    【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶観察

    金属多結晶の結晶の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

    走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価 製品画像

    【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶評価

    SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

    薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流(EBIC)を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法 製品画像

    [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

    TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

    電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation Mapping)-TEM法とも呼ばれます。 結晶径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶径観察が可能 ・双晶界(対応界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶の回転角の測定が可能 ・透過法により10...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像

    [SIM]走査イオン顕微鏡法

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析 製品画像

    【分析事例】透過EBSD法による30nm以下の結晶解析

    EBSD:電子後方散乱回折法

    薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価 製品画像

    【分析事例】二次電池 負極子表面の分布評価

    の粉体表面に分布する成分の評価が可能

    リチウムイオン二次電池で使用される黒鉛負極子を塗布したシートを、TOF-SIMSにて分析した事例をご紹介します。一の粉体の表面にグラファイトとPVDFが分布している様子が確認できました。 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • お米の品種鑑定 製品画像

    お米の品種鑑定

    お米の品種気になりませんか?DNAを用いてお米の品種鑑定を致します

    の品種鑑定』は、サンプリングしたお米をDNA抽出して、お米の品種 鑑定をする検査です。 到着から検査までは最短で1日で対応可能。 定性試験にて異品種の混入の有無を判別し、定量試験にて1ずつの検査を 20実施。±5%の精度で混入米の品種も判別することが可能です。 【特長】 ■DNA抽出 ■異品種の混入の有無を判別 ■±5%の精度で判別可能 ■検査終了まで最短1日 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社兵庫分析センター

  • 【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析 製品画像

    【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析

    像シミュレーションを併用した結晶形の評価

    高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶について、EBSD法で得た結晶方位の情報からSTEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介! 製品画像

    電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介!

    ワンストップサービスできめ細かく対応!

    ン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減に寄与します。 【秘密保持】完全独立資本ですので、外部へは洩れません。 【受託例】 ■培養組織の観察による再生組織の確認 ■ナノオーダーの粉体の子測定 ■澱粉の状態比較観察による  機能性食品の証明 ■ネガティブ染色による  エマルジョンの形状観察 ■歯の超薄切による結晶解析   etc‥ ※詳しくはカタログのダウンロード...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

  • 圧縮空気の清浄度測定 製品画像

    圧縮空気の清浄度測定

    品質管理の一環として、圧縮空気の清浄度測定を推奨します。 是非、当社…

    )は、医薬品・半導体・食品などの様々な産業において、幅広く利用されております。その中でも製品に直接あるいは間接的に触れる箇所では【高い等級の清浄度】が求められています。 圧縮空気には、ダスト(子)、水分、オイル、微生物といった様々な汚染物質が含まれています。 弊社では、設備の新設時や定期の測定のほかに、汚染原因を目的とした起源調査にも取り組んでいます。 <圧縮空気の清浄度を把...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社分析センター 第一技術研究所

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法と機械研磨法で作製した断面の反射電子像観察を行いました。 IP法ではCu結晶が明瞭に観察され、研磨キズもありません。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 米品種判別検査 ~DNA検査で安心の強化、ブランド保護~ 製品画像

    米品種判別検査 ~DNA検査で安心の強化、ブランド保護~

    最新品種を含む「全658品種」のDNAデータベースを用いた検査の他、品…

    指定した品種とその他の品種の割合をご報告いたします。ご報告形式は「○○(品種名)□% その他の品種△%」です。 ≪品種特定検査≫ 品種が不明の検体について、品種の特定を行います。葉1枚、米1など、1個体ずつの分析となります。定量検査、ブレンド米検査で、表示以外の品種が確認された場合の混入異品種の特定や圃場に発生した異形の調査などにご利用いただけます。 ★独自品種の解析やデータベー...

    メーカー・取り扱い企業: ビジョンバイオ株式会社

  • 米品種判別検査~リーズナブルな料金で高精度なDNA検査~ 製品画像

    米品種判別検査~リーズナブルな料金で高精度なDNA検査~

    定性検査12,000円/税別~。国内随一の相互識別力で、主要品種から新…

    ≪定量検査≫ 単一品種の玄米、精米、炊飯米などについて、指定した品種とその他の品種の割合をご報告いたします。 ≪品種特定検査≫ 品種が不明の検体について、品種の特定を行います。葉1枚、米1など、1個体ずつの分析となります。定量検査で表示以外の品種が確認された場合の混入異品種の特定や、圃場に発生した異形の調査などにご利用いただけます。 ★ビジョンバイオの米品種判別検査★ 200...

    メーカー・取り扱い企業: ビジョンバイオ株式会社

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    数十μm)のデポジション薄膜形成が可能(C・W・Ptの成膜) ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM(Scanning Ion Microscope)像観察が可能 ・SIM像で金属結晶(Al, Cu等)の観察が可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SUS316製伝熱管損傷調査 製品画像

    【分析事例】SUS316製伝熱管損傷調査

    不具合原因調査!電気炉ダスト還元設備の熱交換装置部品の調査事例をご紹介

    当社で行った、電気炉ダスト還元設備の熱交換装置部品のSUS316製伝熱管 管板損傷調査事例をご紹介いたします。 管板溶接ビード周辺に見られる割れ、典型的な貫型応力腐食割れの特長を 有するミクロ組織が観察されました。 付着ダストの湿式化学成分から15%の塩素分、8~9%の水分含有が判明。 SUS316を使用する場合は、応力除去焼きなましによる残...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 金属組織観察 製品画像

    金属組織観察

    ⾦属材料の組織観察は、その材料の特性に⼤きく影響するとても重要な要素の…

    腐食損傷部の組織確認による腐食要因推定 ・摩耗損傷部などの微小き裂観察 など ■SUMP(スンプ)法によるミクロ組織観察 ・大型部材の金属組織確認 ・ボイラ部材等の過熱組織の有無の確認 ・界/内析出物の大きさや分布測定(画像解析)および  クリープボイド確認によるクリープ損傷評価 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 川重テクノロジー株式会社

  • 卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察 製品画像

    卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

    微細なクラックが見やすい!導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ま…

    性がある微小なクラックもSEM観察では 明確に確認することが可能です。 しかも卓上SEMなら、導電処理が不要で、すばやく詳細な観察が出来ます。 【特長】 ■蒸着不要 ■簡易的に結晶が見える ■微細なクラックが見えやすい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 受託試験『残留応力測定サービス』 製品画像

    受託試験『残留応力測定サービス』

    種々の素材・プロセスを評価でき、高信頼性のサービスを提供!

    、自由度が高い ○時間分解能が高く、急速な加熱冷却ならびに衝撃負荷などの動的挙動を評価できる [欠点] ○回折現象を利用しているため、結晶構造を持たない素材には対応できない ○集合組織や粗大組織を含む素材は、データ数が少なく応力解析が安定しない →完全な集合組織や単結晶であれば、それに適した応力モデルが使えるため安定する ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして...

    メーカー・取り扱い企業: 橋本鉄工株式会社 臨海第一工場

  • 受託解析コンサルティング 製品画像

    受託解析コンサルティング

    経験豊富な技術力+コミュニケーションカでお客様の業務改善に貢献いたしま…

    【アプリケーション】 ■溶接 ・FLOW-3Dの流体による溶接、積層造形、溶接による熱応力・変形、結晶成長予測など ■インクジェット ・バブル、ピエゾ(圧電素子)、供給系、吸着など ■コーティング ・スロット、スライド、カーテン、スピン、ロール、ディップなど ■マイクロフルイディクス ・...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ポセイドンCAE

  • 硬さ試験機による受託サービス|JTL 製品画像

    硬さ試験機による受託サービス|JTL

    硬さ試験機を用いて試料の材質・構造に合わせた硬度測定を行います。

    ご対応】 マイクロビッカース硬さ試験機は試験力を0.4903mNから19610mNまで任意で選択することが可能なため、コーティングやメッキのような薄い膜や、ICのボンディングパッドや金属組織の結晶のような小さな面の測定が可能です。 【切断・研磨などの試料調整も実施】 硬度測定を正確に行うには、試料調整により試料を成形し、測定面を平滑にする必要があります。試料調整に必要な切断・樹脂包埋...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • ボイラ設備余寿命診断 製品画像

    ボイラ設備余寿命診断

    高精度なマスターカーブによる評価!ボイラ設備余寿命診断をご紹介します

    備:ボイラ設備(2.25Cr-1Mo 鋼) ■診断部位 ・大径管(主蒸気管,再熱蒸気管) ・管寄せ、管台 ・ボイラ―チューブ ■評価手法 ・ボイド面積率法 ・M パラメータ法 ・結晶変形法(母材) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パワー・エンジニアリング・アンド・トレーニングサービス

  • 【資料DL可:AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集 製品画像

    【資料DL可:AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

    構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分…

    、SEM/EDX、 熱分析(動的粘弾性測定DMA)、AFM(弾性率マッピング) による多面的解析  ・結果:小麦でんぷん、グルテン(蛋白質)の構造、 成分及び弾性率を把握 ■真空中AFM導電性測定  ・特長:   -大気の影響を低減した測定が可能(真空中測定)   ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 金属顕微鏡による観察サービス|JTL 製品画像

    金属顕微鏡による観察サービス|JTL

    金属組織の観察など、観察前の試験・試料調整から一連の調査を受託します。

    【金属や合金、セラミックスなどの材質の構造観察を実施】 組織や結晶、合金層の観察、接合部の断面状態観察(界面・膜厚・ボイド・クラックなど)にご利用頂けます。 【マクロ観察からミクロ観察まで幅広く対応】 観察倍率で50倍~1,000倍まで対応しています。 ...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

  • 【測定事例集】熱分析 製品画像

    【測定事例集】熱分析

    示差走査熱量分析をはじめ熱機械分析や動的粘弾性分析などの測定事例をご紹…

    【測定事例(抜粋)】 ■局所熱分析(nanoTA) ・多層フィルム(4層)各部熱分析 ・7ミクロン径トナー一内部分析 ■DSC(示差走査熱量分析) ・PET試料昇温/降温/昇温測定 ■MDSC(温度変調DSC ・温度変調DSC(MDSC)によるPET測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本サーマル・コンサルティング

  • EBSD 主要な解析手法 製品画像

    EBSD 主要な解析手法

    EBSDにより材料の結晶構造や結晶方位の評価が可能です。

    出されます。この菊池パターンに方位の指数付けを行う事で、結晶方位を求めることが出来ます。IPF(Inverse Pole Figure) mapは、結晶方位を示すマップであり、圧延板材や磁石の各結晶の配向状態の確認等に適用されます。KAM(Kernel Average Misorientation) mapは、局所的な方位差を示す解析手法であり、圧延等の塑性変形に起因する歪み量の確認等に適用さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • 【分析事例】CIGS膜の結晶粒評価 製品画像

    【分析事例】CIGS膜の結晶評価

    SEMによる結晶方位解析

    CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト化・大面積化・高品質化を期待されている次世代の太陽電池として開発が進められており、その際に結晶情報が必要とされています。EBSD法ではCIGS膜の結晶評価が可能です。 EBSD法で得られる結晶情報は主に配向性・結晶径などです。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】EBSDによるウイスカ解析 製品画像

    【資料】EBSDによるウイスカ解析

    ICパッケージのリード端子に発生したウィスカについて解析した事例を紹介…

    機械研磨にて断面を作製し、SEM観察及びEBSD解析した事例を 紹介しています。 ICパッケージの表面SEM像をはじめ、断面SEM像などを掲載しています。 EBSD法により測定された結晶と結晶界が一致していることがわかります。 ぜひご一読ください。 【掲載事例】 ■観察/断面作製 ■EBSDによる解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【分析事例】LIB(リチウムイオン)正極材料の抵抗分布評価 製品画像

    【分析事例】LIB(リチウムイオン)正極材料の抵抗分布評価

    正極材料の導電性をSSRMを用いてマッピング

    リチウムイオン二次電池の正極について、その形状と導電性をマッピングすることで、周囲と絶縁された結晶や劣化によって導電性が低下した活物質の分布を可視化することが可能です。 本事例では、リチウムイオン二次電池の正極を機械研磨によって断面を作製してSSRM測定を行い、統計処理によって材質の分布を推定...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察 製品画像

    【分析事例】燃料電池触媒PtRuの組成評価・形態観察

    XPS・SEM・TEMを用いた多角的な評価

    燃料電池の電極は、カーボン担体に触媒子が担持された構造をしています。担体や触媒子がどのような状態にあるか評価することは、劣化メカニズム解明や設計指針の検討に欠かせません。 触媒被毒(酸化)の状態評価には、XPS分析が有効です。また...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】カプセル剤タイプ薬の組成分布評価 製品画像

    【分析事例】カプセル剤タイプ薬の組成分布評価

    全体像から局所分布までイメージング評価可能

    の試料について質量イメージング分析が可能です。 カプセル剤タイプ薬の断面についてTOF-SIMSによる質量イメージング分析を行いました。断面加工を行い、薬剤全体(約7mm×20mm)とその内部の顆(約500μmΦ)に着目したイメージング事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 硬さ試験の受託サービス|JTL 製品画像

    硬さ試験の受託サービス|JTL

    試料の材質・構造に合わせた各種の硬さ(硬度)評価を実施致します。

    ご対応】 マイクロビッカース硬さ試験機は試験力を0.4903mNから19610mNまで任意で選択することが可能なため、コーティングやメッキのような薄い膜や、ICのボンディングパッドや金属組織の結晶のような小さな面の測定が可能です。 【切断・研磨などの試料調整も実施】 硬度測定を正確に行うには、試料調整により試料を成形し、測定面を平滑にする必要があります。試料調整に必要な切断・樹脂包埋...

    メーカー・取り扱い企業: JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

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