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【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価
電子線後方散乱回折法EBSDはアルミスパッタ膜の性能評価や下地材料の選…
電子線後方散乱回折法EBSD(Electron Backscatter Diffraction Pattern)は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ●微小領域の結晶粒の形状および方位の測定 ●基準方位に対する結晶の配向の確認 ●結晶方位差の情報から材料内部の歪の測定 本事例では...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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