「失敗しない"ものづくり企業"の成長戦略」セミナー開催のご案内

PR3D設計データ活用によるものづくり改革のヒントが満載！DXに惑わされな…

大興電子通信株式会社は、TKP市ヶ谷カンファレンスセンターにて 「失敗しない"ものづくり企業"の成長戦略」のセミナーを開催します。 当セミナーでは、DXの本質を捉え、企業変革及び成長の実現に向けた 重要な考え方とアプローチ方法をご紹介。 多くの企業が見落としている"変革の本質"、DXを含めた変革が失敗する 主要な要因と対策、変革実行の優先順位や注意ポイントを解説します。 皆...

メーカー・取り扱い企業： 大興電子通信株式会社

基板実装部品の断面観察

PR信頼性試験前後の観察や断面観察に！実装された各種部品の観察例をご紹介

当社で取り扱う『基板実装部品の各種断面観察』をご紹介いたします。 身の回りにある様々な電子機器の内部には、電子部品が搭載された 基板があります。実装基板を観察すると、多数の部品が所狭しと はんだ接合されているのが分かり、部品が正しく接合されていないと 正常に動作しないため確認が必要です。 信頼性試験前後の観察や断面観察をご検討の際はお問い合わせください。 【観察例(一部)】...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能！高精度な発熱箇…

、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画…

当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得るこ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信タ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

電子基板・部品の解析

高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！電子基板の解析事例をご紹介

「電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて 表面分析手法をご提案します。 FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など 電子基板配線パターンの...

メーカー・取り扱い企業： イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Crystal Orientation Mapping）-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界（対応粒界）の観察が可能 特定結晶方位の抽...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

車載電子機器の環境試験

お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法のご提案や、正確なデータを…

近年の車載環境は、温度、湿度、振動などの条件が過酷にも関わらず、 高電圧・大電流をより微細化（軽量化）されたデバイスでコントロール しなければいけません。 クオルテックでは、車載環境を忠実に再現した信頼性試験を提供するだけでなく、 JNLAの登録試験所として、お客様のご要望に合わせたオリジナルな試験方法の ご提案や、正確なデータをご提供しています。 【特長】 ■温度条件への対...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

東洋電子工業株式会社 会社案内

協創をイノベーションに！半導体製造で蓄えた技術で多種多様なニーズに対応…

東洋電子工業は、半導体製造で蓄積した技術を駆使して、お客さまと 「協（とも）」に「創る」ことにフォーカスしたサービスを心を込めて ご提供するEMSのパートナーです。 マイコンを使った組込システム等...

メーカー・取り扱い企業： 東洋電子工業株式会社

受託加工組立て、梱包、検品作業サービス

受託加工組立て、梱包、検品作業の請負！

有限会社アトム電子では、主に液晶、携帯電話等の精密部品、家電部品、 アミューズ関連、自動車部品、照明機器、生活用品等あらゆる素材の 部品に関する組立・検査・梱包の各受託を請け負っております。 液晶ディスプレ...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社アトム電子

各種電子機器・精密機器・産業機器等　信頼性試験サービス

「品質」と「信頼性」を重視して、業界を問わず、お客様の製品の更なる品質…

当社では、各種電子機器・精密機器・産業機器等の信頼性試験の業務を行っています。 お客様のご要望に応じ、様々な電子機器・LSI等の検査・検証にフレキシブルに 対応し、常にお客様サイドに立ち品質向上に向けたサービ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社J-Lab

走査電子顕微鏡-X線分析

試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察す...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＤＪＫ

非破壊検査：電子ビーム溶接検査

電子ビーム溶接検査（溶け込み深さ・位置ずれ検査）

電子ビーム溶接検査（溶け込み深さ・位置ずれ検査） ◎溶け込み深さ測定　及び　位置ずれ（目はずれ）が検査出来ます。 当社は当社にしかできない技術力で 様々な難しい検査にも対応いたします。 詳細はお問い合わせください。 PDFダウンロードが下記にあるものに関しては ダウンロードいただければと思います。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社偕成ハイテック

SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観…

GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

電子機器の加速劣化試験サービス

お客様の製品に適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施！加速劣化試…

電子機器の軽薄短小化により配線の狭ピッチ化、ファインパターン化が 加速し、さらには使用環境の過酷化に伴い、より一層、マイグレーションを 代表とした絶縁劣化などのリスクが高まっています。 当社は、各種公的規格に準拠した試験は勿論、長年、各種電子機器の 品質保証で培ってきた試験・ノウハウを ベースに、お客様のご要望に 即した加速劣化試験を実施いたします。 製品の使われ方やお悩み事項等の...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンFQL株式会社

製品分析　ハロゲン分析

分析開始から結果の速報までを最短3営業日で行える体制を整えております！

従来から電子・電気機器や付属製品中には、塩素及び臭素などのハロゲン元素が難燃剤として使用されてきました。これらを廃棄・焼却する際、燃焼条件によってはダイオキシンなどが発生し、環境汚染の原因になります。また、製品...

メーカー・取り扱い企業： 内藤環境管理株式会社