• レーザーマーカー『UBI Basic』 製品画像

    レーザーマーカー『UBI Basic』

    PR安全性が高いClass1製品仕様!高出力パフォーマンスでリーズナブルな…

    『UBI Basic』は、アルミ・鉄・SUS等の金属部品、工具、銘板などの 小・中型ワーク向けの高出力でコストパフォーマンスに優れたレーザーマーカーです。 一品一様のマーキング工程に適しており、独自のMicro aWave レーザーソースにより様々な対象物にマーキングが可能。 Z軸ボタンによりステージの昇降、電磁式インターロックを 標準搭載、正面スタートボタンで簡単にマーキング開...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東陽 グローバル商品課

  • 【新技術】CFRP/カーボンパイプの部品化 グラファイトデザイン 製品画像

    【新技術】CFRP/カーボンパイプの部品化 グラファイトデザイン

    PRカーボンゴルフシャフト製造で培ってきた技術を発展!特許取得済のCFRP…

    グラファイトデザインでは、 構造要素部品のCFRP化研究開発の中で、必要な基礎技術を構築するとともに、CFRP部品の適用可能性を提案しております。 低弾性から高弾性まで様々な繊維の使用が可能な豊富な複合材料素材の所有をはじめ、CFRPパイプの量産技術など、グラファイトデザインが培ってきた強みなどを紹介。 CFRPパイプの成形加工技術(シートワインディング成形)を応用して、特許取得済みのC...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社グラファイトデザイン

  • 透過・吸光度測定用フローセル『FIA-Z-SMAシリーズ』 製品画像

    透過・吸光度測定用フローセル『FIA-Z-SMAシリーズ』

    生産ラインの検査用、装置組み込み、OEM に適した蛍光測定用フローセル

    『FIA-Z-SMAシリーズ』は、透過・吸光度測定用フローセルです。 SMA 905の光ファイバを使用し、サンプルへ光源からの光を照射。 その透過光を分光器へ導きます。 また光ファイバ接続口には波...

    メーカー・取り扱い企業: オーシャンフォトニクス株式会社

  • 非球面ヌルミラー干渉計『ANI-Z1』 製品画像

    非球面ヌルミラー干渉計『ANI-Z1』

    解析結果もデジタルで得られる!不良レンズを組み込む前に排除できます

    『ANI-Z1』は、フィゾー型干渉計を基本とし、安定性があり操作性のよい 非球面レンズの検査器です。 非球面レンズを透過した光を干渉計測することで、そのレンズがもつ収差を 正しく計測可能。 サン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清原光学

  • 光学式エリアスキャナ「Flying Spot Scanner」 製品画像

    光学式エリアスキャナ「Flying Spot Scanner」

    振動の影響を受けずに高速エリアスキャン。オンライン、オフライン、品質管…

    の欠陥検査ができます。また、入射・反射が同軸光学系のため、光沢面でも良好な結果を得ることが可能です。 【特長】  ■広範囲のエリアスキャン ~φ80mm  ■高分解能 XY6.5um~, Z 1nm~    最小ビームスポット径13um, 分光干渉方式による高Z分解能  ■XYステージ不要でステージ振動無し    ガルバノミラーによるエリアスキャン  ■開発コスト低減、開発納期...

    メーカー・取り扱い企業: プレシテック・ジャパン株式会社

  • 【infiTOF】高分解能SIMモードによる測定 製品画像

    【infiTOF】高分解能SIMモードによる測定

    イオンを自動的に選択し周回軌道に通す事により、高分解能SIMモードによ…

    マルチターン飛行時間型質量分析装置の分析部では、周回軌道を任意回数イオンが周回します。集会部の前にはイオンゲートが設けられており、m/z範囲に対応したイオンを自動的に選択し、周回軌道に通します。 【メリット】 ■測定領域の積算回数が増え、S/Nが向上 ■キャリアガスなどの大量かつ、分析上不要なバックグラウンド成分を高分解能SIMモードにより測定からはず図ことで、検出器を保護・装置性能を長...

    メーカー・取り扱い企業: カノマックスアナリティカル株式会社

  • 自動輝度測定機 製品画像

    自動輝度測定機

    L,X,Y,Z,x,y,Kを測定でき、測定時の輝度分布を表示

    各メーカーの輝度計を用い、非測定物の輝度分布を測定する 自動輝度測定機です。 L,X,Y,Z,x,y,Kを測定でき、測定時の輝度分布及び色度表分布を 表示します。 その他にオプションとして電圧・電流測定、輝度一点連続測定機能を 追加する事も可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: テクノシステム株式会社

  • 【技術資料】各種色彩測定について 製品画像

    【技術資料】各種色彩測定について

    「透過資料の測定」「反射物体の照射および受光の幾何条件」などを掲載!

    ヘーズ)の測定」「鏡面光沢度の測定」 などについて図や表を用いて詳しく解説。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■透過試料の測定 ■反射物体の照射および受光の幾何条件(JIS Z 8722より) ■透過物体の照射および受光の幾何条件(JIS Z 8722より) ■変角光度分布(配光特性) ■メタリック感の評価 ■曇り度(ヘーズ)の測定について ■鏡面光沢度の測定に...

    メーカー・取り扱い企業: 日本電色工業株式会社

  • 【製作例】張り合わせ位置調整用自動位置決めユニット  製品画像

    【製作例】張り合わせ位置調整用自動位置決めユニット 

    ディスプレイ搬送時の高さ合わせに使用!ステージ高さ120mmに押さえた…

    当社が製作した「高さ合わせ用自動大型Z軸ステージ」をご紹介いたします。 過半重量100kg、テーブルサイズ□400mm、ステージ高さ120mmに押さえた 薄型タイプ。ディスプレイ搬送時の高さ合わせに使用される水平面移動型 自動...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェルテック

  • 皮膚用光学3D測定システム『PRIMOS CR』 製品画像

    皮膚用光学3D測定システム『PRIMOS CR』

    デュアルカメラにより正確で完全な画像の作成が可能に!

    【仕様】 ■測定:45 x 30 x 25 mm ■X, Y解像度:20-25 μm ■Z解像度:最高 1 μm ■作動距離:112.5 mm ■寸法:17 x 13.6 x 4.9 cm ■重量:1.5 kg (3.4 lbs.) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イリス 東京本社、大阪支店、名古屋支店

  • 電源付き分光測定装置 LSCM 製品画像

    電源付き分光測定装置 LSCM

    インライン検査システムの制御信号と同期、オンラインで電気特性、光特性を…

    要とされる光特性検査では、高性能なツェルニターナ型分光方式の採用により歪みのない分光計測を実現。JIS(CIE)に準拠した高精度な光源色情報を取得することが可能となり、装置間差xy色度座標(JIS Z8724)で0.004以下をRGB3色において達成しています。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプトコム

  • 逆投影式MTF測定装置 製品画像

    逆投影式MTF測定装置

    レンズの解像性能評価用装置!カメラでの誤差影響が極小!受入検査にもご使…

    【仕様】 ○測定可能レンズ焦点距離:f=0.9~40mm ○測定方式    :有限逆投影多点測定方式  ※無限も可能 ○レンズポジション:X、Y、Z軸 自動位置決め ○測定サイクル  :3s ○光源      :ハロゲンランプファイバ光源(スペクトル補正)  ※オプションでIR(850nm、940nm)対応可能 ○空間周波数   :0~...

    メーカー・取り扱い企業: 京立電機株式会社

  • 自動光軸調芯接合装置(レンズとレンズの接合) 製品画像

    自動光軸調芯接合装置(レンズとレンズの接合)

    レンズとレンズ調芯接合を自動に。PC操作でレンズ脱着作業も容易に。

    OC-MOTABユーザへもアップグレード可能です。 【その他の特徴】 ○面間偏芯測定 →偏芯はエアーベアリングの回転軸(=基準軸)を基に測定されます。 ○調芯:自動XY調芯ステージ →Z軸はスプリング式かエアー制御の加圧 →XYピエゾモータドライブ →XY十/-0.3mm.分解能0.01μm以下 →光軸調芯時間1秒以下 →光軸調芯位置決め精度0.1μm以下 ●詳しくは...

    メーカー・取り扱い企業: トライオプティクス・ジャパン株式会社

  • CNC画像測定システム『iNEXIV VMAシリーズ』 製品画像

    CNC画像測定システム『iNEXIV VMAシリーズ』

    小さなボディに、高精度でシンプルなシステム構成。長いワーキングディスタ…

    【特長】 ■立体物測定に最適化された多機能をお求めやすく ■小型、省スペースで重さはわずか72kg ■全倍率範囲73.5mmの長作動距離 ■測定ヘッドが上下するユニークな構造で、200mmのZ軸ストロークを実現 ■高速・高精度なレーザAFを用意(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アヅマテクノス

  • ミクロンおよびナノ領域向け測定機『HELICHECK NANO』 製品画像

    ミクロンおよびナノ領域向け測定機『HELICHECK NANO』

    オペレータへの依存性を排除!認定済みの精度により、生産性、品質および精…

    【技術仕様】 ■直線軸  ・最大移動距離X軸:270mm  ・最大移動距離Y軸:365mm  ・最大移動距離Z軸:250mm ■ワークデータ  ・ワークの長さ:0,5-120mm  ・ワーク径:0,1-16mm  ・ワーク最大重量:25kg ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳...

    メーカー・取り扱い企業: ワルターエワーグジャパン株式会社

  • 磁場分布測定装置 製品画像

    磁場分布測定装置

    磁場分布をホール素子によって、走査自動計測します!

    磁場測定にはホール素子を使用し、極低温状態でもスキャニング可能です。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【基本仕様】 ■移動範囲:X、Y軸 ±50mmまたは±100mm Z軸 ±50mm ■構造:5相ステッピングモーター付き     専用アクチュエーター ■操作分解能:0.1mm ■操作プローブ:FRP支持 ホール素子 ■ソフトウェアー:シグマ光機製 SGE...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サーマルブロック

  • 3次元測定機 ヘリチェック3D 製品画像

    3次元測定機 ヘリチェック3D

    【ワルター社】簡単に、素早く!3Dモデル化や測定比較が可能な測定器

    【仕様】 ■機械ベース 花崗岩 ■軸  ・X軸 270 mm  ・Y軸 455 mm  ・Z軸 325 mm  ・A軸 360 度 ■精度  ・測定精度 E1値     E1 = (1.8 + L/300) μm  ・直行軸位置決分解能  0.02 µm  ・測定値分解能    ...

    メーカー・取り扱い企業: ワルターエワーグジャパン株式会社

  • 工具測定機 ヘリチェックアドバンス 製品画像

    工具測定機 ヘリチェックアドバンス

    【ワルター社】非接触CNC光学式測定によりコストパフォーマンスを追及し…

    【仕様 ※抜粋】 ■軸  ・X軸 270 mm  ・Y軸 455 mm  ・Z軸 325 mm  ・A軸 360 度 ■拡大倍率  ・バックライトカメラ 50倍  ・オプション 100倍  ・フロントライトカメラ 100 倍  ・端面カメラ 100 倍 ※...

    メーカー・取り扱い企業: ワルターエワーグジャパン株式会社

  • 新型 高精度偏芯測定装置 製品画像

    新型 高精度偏芯測定装置

    高精度偏芯測定装置の次世代機が登場!

    ートコリメータが軸上を移動し、ケラレの影響を最小限に抑えることができます。 ●固定式オートコリメータ オートコリメータが移動軸の上に固定され、対物レンズがZステージを移動します。それによる、Zステージのロール誤差が低減されます。...

    メーカー・取り扱い企業: トライオプティクス・ジャパン株式会社

  • CIE D65標準光源 D65AC 製品画像

    CIE D65標準光源 D65AC

    正確な視感評価を求める。

    物体色の視感判定時に用いる標準光源。 さまざまなシーンで製品、材料の品質管理に活躍しています。 JIS Z 8723規定の、物体色の視感判定時に用いる標準光源です。正確な視感評価を追及します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: スガ試験機株式会社

  • 正投影式MTF測定装置 製品画像

    正投影式MTF測定装置

    レンズの解像性能を測定可能!空間周波数を横軸、縦軸にコントラスト表示(…

    【仕様】 ○測定方式    :有限正投影多点測定方式(無限測定も可能) ○レンズポジション:自動位置決め(X、Y、Z軸) ○測定サイクル  :約3s ○光源      :LED光源  ※オプションでIR(850nm、940nm)対応可能 ○空間周波数   :0~600 c/mm ○MTF測定精度  :±...

    メーカー・取り扱い企業: 京立電機株式会社

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