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PRカスタマイズ可能なワイヤグリッド偏光ビームスプリッター、入射角依存の少…
WGF(TM)を使用した、ワイヤグリッド偏光ビームスプリッターキューブタイプ(WGF(TM) PBS)です。 すでにハーフミラーをお使いの場合、WGF(TM) PBSに替えることで輝度向上が期待できます。 縮小系でも色や偏光度が部分的に変わることはなく、画像検査の精度を向上させます。 入射角依存が少なく、安定した光学性能を維持します。 ※WGF(TM)は旭化成の製品です。...規格品 WP...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社オプティカルソリューションズ
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コネクタ形状を間違えた!→【光アダプタ/変換プラグ】で解決します
PR「短くて繋げない」「コネクタ形状が違う」ケーブルの緊急トラブルを解決し…
様々な場面で必要になる「ケーブル」について、こんなトラブルはありませんか? 「ケーブルが明日必要なのに、ケーブルが短い!」 「コネクタの形が違うため接続が出来ない!調達する時間もない!」 ★データコントロルズの光アクセサリで、こんな緊急トラブルを解決します★ 中継アダプタ、変換プラグ、光パッチパネルなど常時在庫多数なため 15時までのご注文で最短翌日に納品可能です! 【トラブル解決事例】 ケ...
メーカー・取り扱い企業: データコントロルズ株式会社
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FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位…
FIB(Focused Ion Beam:集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。 この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。 ・円形:φ5μm ・ピラーの高さ:700nm/650nm/600nm ・ピラーの径:φ500 nm ぜひPDF資料をご一読ください。 また...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価
AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…
原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能です。 この2つの分析装置を使い「めっき済みのコネクタ接点用ピン表面」の加熱影響調査を行いました。 ぜひPDF資料をご一読ください...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析
STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…
●表面を保護するサンプリング法により、端子表面の付着物層(20nm程度)が損失なく確認可能 ●EDS分析結果より、付着物の主成分はC(炭素)、O(酸素)であるため接点不良は有機物汚染によるもの判断 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてく...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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<PDF資料DL可>【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析
X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色 の分析、表面処理の評価に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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GD-OES(グロー放電発光分析)によりステンレス(SUS)の表面をス…
●試料表面をスパッタして、深さ方向の組成情報を調査可能 ●nm オーダーの高い深さ分解能で測定をすることが可能...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査
X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有…
X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 この事例では「XPSによる材料表面(ニッケ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【DL可:XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1
Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…
・手法:GD-OES(グロー放電発光分析) ・結果:ステンレス基板表面のC元素(カーボン)が減少しており洗浄効果を確認 ■XPSによる表面汚染分析 〈XPSの特長〉 ・試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色の分析、 表面処理の評価に有効 ・元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能 ・分析事例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただく...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られる…
●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面汚染・変色 の分析、表面処理の評価に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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【資料DL可:XPS/AES/AFM】表面分析に関する事例集2
変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しまし…
【掲載内容詳細(抜粋)】 ■XPSによる材料表面の変色調査 〈特長〉 ・試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、 表面汚染・変色の分析に有効 ・元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能 ・分析事例 ■XPSによるPET表面改質評価 ...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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