【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

＜資料DL可＞【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法

FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察で…

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置では自動で断面を連続で作製し、断面写真を取得することが可能です。この機能を用いて、表面からでは判別が難しい試料内部に存在する異常個所を特定することが可能です。 この事例では 「FIB装置の連続自動断面作製機能を用いて、めっき層内の表面からでは分からない異常個所の発見方法」 を紹介します。 詳しくはPDF資料をご覧いただ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【DL可/AFM】めっき済み接点部品表面の導電性評価

AFMでは極めて微小な表面形態（凹凸）を捉えて測⾧することが可能です

AFM走査型プローブ顕微鏡は、「探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う」装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性や絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 この分析装置を使い「めっき加工したコネクタ接点部品の表面処理」の調査を行...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表…

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。 以下の特長もあります。 ・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察 ・観察対象が結晶質であるかの判断 ・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得 本事例では 「...

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【分析事例】めっき・塗装等の剥離原因調査

TOFーSIMSによる剥離面の汚染源の特定

剥離不良が起こった際、界面の密着性を悪化させた成分を同定することが重要です。 ピーリング加工により、着目の界面で物理的に剥離させ、その表面に存在する成分をTOF-SIMSによって測定することで、剥離原因を調査することが可能です。 TOF-SIMSは有機物の構造を保ったままイオン化した二次イオンを検出し、剥離面に存在した成分が何由来なのかの情報を得ることができるため、剥離原因、及び工程の調査に有...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【動画】FIBによるめっき不良のSlice&View/3D構築

FIBのSlice & View機能によりめっき不良の起点から広がる様…

集束イオンビーム(Focused Ion Beam：FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出形電子顕微鏡）を搭載しており、高分解能での観察と加工が同時に行えるのが特長です。 本動画はFIB-SEM(サーモフィッシャーサイエンティフィック社製：Helios5 CX)でSlice & Viewおよび...

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【資料DL可：FIB】FIB集束イオンビーム加工における事例集

弊社の強みであるFIBによる事例(めっき層内の異常個所発見方法やパター…

弊社はFIB(集束イオンビーム加工装置)による加工を強みのひとつとしております。 当事例集では、FIBにおける事例についてご紹介します。 以下の目的、手法、結果など多数掲載しています。 ・FIBによるめっき層内の異常個所発見方法 ・FIBによるパターン描画 ・FIBによる微小対象物の断面作製 他にも、測定データや分析事例、特長などをご紹介しております。 ぜひ、ご一読くださ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

ウィスカ・マイグレーション検査／プリント基板の品質評価

開発スピードアップに貢献！各種分析装置も取り揃えております！

「手間暇のかかる作業に時間を取られる」「検査や評価の精度に疑問を 持っている」などのお悩みはござませんか？ クオルテックにお任せ下さい。開発スピードアップに貢献します。 観察・分析装置は、実体顕微鏡・デジタルマイクロスコープ・蛍光顕微鏡を 保有。この他、レーザー顕微鏡、3D測定マクロスコープ、AFM、FE-SEM、 EDX、FT-IR GC-MS、XRF等、 各種分析装置も取り...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【DL可：XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1

Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD…

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。 「めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）」の目的や手法と結果をはじめ、 「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 （ラマン分光分析）」の特長や分析事例など多数掲載。 他にも、解析結果や状態解析、組成測定などご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■めっき基板の洗浄評価（GD-...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

SIM像　3D再構築解析受託サービス

SIM像3D再構築解析の受託スタート！※材料開発や半導体、基板のトラブ…

ＦＩＢ加工観察装置によるＳＩＭ像の３Ｄ再構築解析の受託を始めました！ 材料開発や半導体、基板のトラブル原因解明など、様々な分野で、お役にたちます！ 【半導体デバイスの故障解析やワーク断面・積層構造を高精度高分解能で観察】 集束イオンビーム(FIB)加工装置には微小で等間隔ピッチでのスライス加工が出来る他、都度画像を 取得できる機能があります。この機能を利用するとワーク断面の高精度露出と...

メーカー・取り扱い企業： 東レ・プレシジョン株式会社

製品評価支援

自社の試験設備で確かな品質をサポート！製品の使用環境を考慮しての加速度…

試験設備として「振動試験装置」「塩水噴霧・キャス試験機」「恒温槽」を保有し、 お客様への品質保証を確固たるものにしています。 下記のような製品の使用環境を考慮しての加速度試験・性能評価が可能です。 「鉄道車両搭載用ユニットや防衛案件など、ハードな環境で使用される電子機器の性能保証」 「金属加工品に不可欠な様々な表面処理（めっき）の耐食性（防錆効果）」 「アルミ材のアルマイト処理・化成...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユーバー

【資料】ウィスカ観察～平面ウィスカ観察のコツ～

装置による見え方の違いやサンプル角度による見え方の違いや光源などをご紹…

ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、 平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。 観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。 当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による 見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の違いについて掲載しています。 【掲載内容】 ■装置による見え方の違い ■サンプル角度による見え方...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

材料分析

使用材料の規格との比較、管理基準との比較などの分析を行っております。

材料分析とは、使用材料の規格との比較、めっき液の構成元素分析による管理基準との比較などの分析を高精度解析装置を導入し、他社製品の材料の特定やめっき液中の構成元素分析といった、材料分析のテクノリサーチ業務を行っております。詳しくはお問い合わせください。...【特長】 ○他社製品の材料の特定 ○めっき液中の構成元素分析 ○基板上のはんだ組成分析 ○グリス劣化の分析 ○使用材料の規格との比較 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社コーエキ

環境試験

製品の耐食性など使用条件による影響について、加速試験を行っております。

環境試験とは、製品の耐食性など使用条件による影響について、塩水噴霧試験 JIS Z 2371（塩水噴霧試験法）、JIS H 8502（めっきの耐食性試験方法）に準拠した試験などといった加速試験を行っております。高精度解析装置を導入し、品質管理のための分析など、テクノリサーチ業務を行っております。詳しくはお問い合わせください。...【特長】 ○塩水噴霧試験 JIS Z 2371（塩水噴霧試験法）に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社コーエキ

顕微鏡検査

断面観察、剥がれの様子の確認など、顕微鏡を用いた検査を行っております。

顕微鏡検査とは、断面観察による膜厚の確認、表面および断面観察から剥がれの様子の確認など、顕微鏡を用いた検査を行っております。高精度解析装置を導入し、製品等の表面分析、品質管理のための分析など、テクノリサーチ業務を行っております。詳しくはお問い合わせください。...【特長】 ○各種めっき、アルマイト皮膜の膜厚測定 ○めっき異常（突起、ふくれ）の断面観察 ○浸炭、窒化、脱炭処理層の観察 ○合金...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社コーエキ