• ディスクチッピング検査装置 DSiS-2015 製品画像

    ディスクチッピング検査装置 DSiS-2015

    ガラス基板、メディア表面、エッジ部のチッピング、汚れ等を、高速・高精度…

    ことが可能。 ・スループット ~800PPH(検査条件による) ・フットプリント   本体:   (W) 1380 × (D) 1700 ×(H) 2100 mm   (W) 1810:カセット受渡部を含む   PCラック:   (W) 570 × (D) 630 × (H) 1850 mm ・クリーン度 クラス10(@0.1μm) ・自動搬送システムに対応 検査仕様 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』 製品画像

    ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』

    透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!

    力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出! ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます! 【その他の特長】 ■高スループット(1カセット25枚を、約40分で検査) ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■カスタマイズ対応 ■1カセット自動検査対応 ■欠陥に対する高精度マーキング(オプション) ■レーザー顕微鏡によ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • ハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorer 製品画像

    ハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorer

    ハードディスク表面のスクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出

    ます。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠陥の検出 ・高いスクラッチ検出能力 ・欠陥の凹凸を弁別 ・全数オートフォーカス ・優れたコストパフォーマンス ・カスタマイズ対応 ・1カセット自動検査対応 ・透明ガラス基板対応...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • 超音波式材料検査装置『V3000-W』 製品画像

    超音波式材料検査装置『V3000-W』

    6~12インチ用ウエハカセットに対応した超音波式材料検査装置

    『V3000-W』は、ウエハ検査用機で、6~12インチ用ウエハカセットに 対応しております。 ご要望に合わせて、半導体の生産ライン設置・オールステンレス筐体等の 装置製作も承ります。 お客様の様々なニーズに合ったカスタマイズに対応いたします。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社SRT 本社

  • 生産管理システムを活用した基板実装 製品画像

    生産管理システムを活用した基板実装

    生産管理システムを自社で開発・改良することで、新機種・新しいお客様のニ…

    進捗状況表 ・納品指示書、伝票作成、検索 ・請求管理 ■検査結果分析(DEFANA) ・検査票分析 ・P管理図 ・不良率推移グラフ ・不良項目別パレート図 ・検査機別分析 ・不良カセット分析 ・設備別不良分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ルックス電子

  • YWafer Mapper RD8-WL 製品画像

    YWafer Mapper RD8-WL

    ロボット搬送付き、多機能200x200mmウェーハマッピング装置RD8…

    m - 2200nm ○測定対応ウェーハサイズ:2,3,4,6,8インチその他(200x200mmまで) ○マッピング間隔:0.01mm~(0.02mm繰り返し精度) ○ロボット搬送:25枚カセットx2 ○搬送対応ウェーハサイズ:2~6インチ又は4~8インチ ●その他機能や詳細についてはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社ワイ・システムズ

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