新型 PFA溶着機『PFMシリーズ』

PRタッチパネルで簡単操作！機能性、操作性ともにパワーアップしたPFA溶着…

『PFMシリーズ』は、作業性向上やワイドな施工範囲、使いやすさなど従来の仕様を踏襲しつつ、新規ヒーター、安全対策のためのボタンオプション等、新機能を搭載し、 溶着品質、耐久性、操作性、安全性が向上しています。 【特長】 ■高速昇温、温度が均一な高性能ヒーターを採用。長期間の使用でも初期と同等の性能を維持 ■当社製PFA溶着継手 TBNシリーズを使用することで最短溶着が可能 ■安全対策のためのダブ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キッツエスシーティー

特長的な基板にも対応可能な！3D局所加熱のIHはんだ付け装置

PR大きな熱量の出力も可能なため幅広い基板に"1台"で…

『S-WAVE301H』は、大きな熱量を要するプリント基板を スポット加熱する製品です。 バスパー、パワー半導体、4層基板、高多層基板、厚銅基板、 セラミック基板、金属ベース基板といった特長的な基板にも対応可能。 低消費電力、高い加熱効率などの特長はそのままです。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■低消費電力、高い加熱効率 ■大きな熱量を要...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社富山技販

パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

パワーサイクル試験（パワーモジュールの信頼性評価）

パワーサイクル試験前後や試験途中における各種測定、観察、解析も一括で実…

【その他の特長】 ■破壊の初期状態を検知し、後工程となる故障解析が容易なサンプルの作製が可能 ■MOSFET、IGBT、SBD、FWDなど、全てのパワー半導体に対応可能 ■同時に16素子までの試験が可能（ただし、試験サンプル・試験条件による） ■試験機を50台保有してるため試験のスケジュール調整が容易 ■ON時間：0.01sec～300sec（...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析

点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます

ワイドギャップ半導体である窒化ガリウム（GaN）は主にパワーデバイスの分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が高まっています。高信頼性を有するGaNの開発にあたっては、結晶中の欠陥量の低減や欠陥がもたらす電気/光学特性などへの影響の理解が重要です。本資料では第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損（VN）が形成する欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。本解析は欠損だけで...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 酸化ガリウム（Ga2O3）は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】半導体パッケージのはんだ濡れ性試験_C0699

劣化加速試験後の電極のはんだ濡れ性試験が可能です。

半導体を多く使う電子機器では各部品をはんだ付けにより実装しています。このはんだ接合部に不良が生じると電子機器に不具合が生じます。その為はんだに関して濡れ性を評価することは部品の信頼性を評価するうえで重要です。今回は疑似的に試料を劣化させ、はんだの濡れ性がどうなるかを検証しました。恒温恒湿試験後、電極表面の濡れ性が変化することが分かりました。 測定法：恒温恒湿試験,はんだ濡れ性試験 製品分野：パ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

短絡耐量試験の概要および特長

パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

耐量試験」は、負荷短絡の状態でデバイスをオン状態にし、 破壊に至るまでの時間Tscを測定する試験です。 破壊の過程で、パッケージが大音響で破裂する場合もあり、 危険を伴います。 パワー半導体を使った機器を設計する場合に負荷短絡状態になっても デバイスが破壊することが無い様に、保護回路を設ける必要があり、 Tscより十分短い時間で、保護回路が動作するように設計します。 【試...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

【分析事例】ワイドギャップ半導体β-Ga2O3のドーパント存在

ミクロな原子構造を計算シミュレーションによって評価可能

β-Ga2O3は広いバンドギャップを有し、優れた送電効率や低コスト化の面で次世代パワーデバイスや酸化物半導体の材料として期待されています。近年、β-Ga2O3はSiまたはSnのドーピングでn型化することが報告されています。本資料では、β-Ga2O3にSiもしくはSnをドープしたモデルに対して構造最適化計算を実施し、各ドーパントが結晶中でどのサイトを占有しやすいかを評価しました。続いて、得られた構造...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

『計測器』の校正サービス

◆◆『計測器の校正サービス』を短納期・低価格でご提供しております。(I…

ポイント1 『メーカー問わず一括受取り可能!電気・機械・環境系すべてお任せ』 様々なメーカーの計測器によって校正業者を変更したり手続きをする必要はございません!当社が一括で引き受けさせていただきます ポイント2 『受取から発送まで5営業日の短納期を実現』 お客様の業務に必要不可欠な計測器をお借りしますので、原則5営業日というスピード感を実現しております ポイント3 『ISO...

メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価

コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価

市販のSiCパワーMOS FET素子の解析事例をご紹介します。 SiC材料では、SiだけでなくCを含めた系での材料制御が必須となり、従来のSi半導体の製造方法と違いがあります。コンタクト電極とSiC層のオーミック接合形成プロセスにおいて、TEMを用いたEDX/EELS分析および電子回折から、Cを含めた元素分布や結晶相を評価しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

パワーサイクル試験

自社開発の通電試験制御ユニットにより、価格をおさえたパワーサイクル試験…

パワー半導体モジュールの信頼性テスト、パワーサイクル試験を受託いたします。 弊社では、「通電試験制御ユニット」を自社開発し、汎用電源を自社開発制御ユニットでコントロールすることで比較的安価なパワーサイクル試験を実現しました。 パワーサイクル試験を低コストで行いたい、試験にかけられる予算があまり確保できないというお客様、ぜひご相談ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 大分デバイステクノロジー株式会社

『機械計器・レコーダ・温湿度計等』の校正サービス

機器到着後、原則5営業日で発送。様々なメーカーの計測器・プラント設備用…

どんな計測器でも使用するうちに数値にずれが生じ、そのまま使用を続けると製品品質に重大な影響を与えてしまいます。 当社の「計測器校正サービス事業」では、国家標準にトレースされた標準器により、精度・機能・動作を確認いたします。 さらに、チームワークと柔軟な提案力で出張・引き取り・調整など、さまざまなケースにお応えいたします。 お気軽にご相談ください。 【校正対応機種一覧】 回転計...

メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

SIM像　3D再構築解析受託サービス

SIM像3D再構築解析の受託スタート！※材料開発や半導体、基板のトラブ…

築データを作製できます。 【解析例】 　■サンプル　光センサのAuワイヤーボンディング部 　■加工サイズ　・幅100µm　・高さ100µm　・スライスピッチ0.5μm 【用途例】 　■パワー半導体等の故障解析用観察 　■ワイヤーボンディング部の断面形状観察 　■めっきの積層構造・厚さ観察、等...

メーカー・取り扱い企業： 東レ・プレシジョン株式会社

SiCデバイスの裏面発光解析

SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対…

当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-（D,S）間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試…

こののたび当社では、MEMS加工サービス/MEMS ファウンドリサービスを開始いたしました。国内最大規模の8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン　野洲事業所（滋賀県野洲市）にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします。 ＵＲＬ：https://www.ites.co.jp/wafer/foundry.html ■特徴 ・お客様設計仕様に基づく試作 ・製品設...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【分析事例】GaN基板の表面形状分析

AFMによるステップ-テラス構造の可視化

ワイドギャップ半導体である窒化ガリウム(GaN)は、パワーデバイスや通信・光デバイスなどの幅広い分野で用いられています。デバイスを作製するうえで、ウエハ表面の形状と粗さはデバイス性能に大きく影響します。GaNウエハを成長させる際、支持基板との格子不整合などによる応力の影響で、表面にステップ-テラス構造が形成されます。本資料ではAFMを用いて、GaN基板表面のステップ-テラスの構造を可視化し、テラス...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法：ICP-MS・GDMS 製品分野：パ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SEM前方散乱電子によるGaN欠陥観察

GaNなどのパワー半導体の転位やステップ(微小な段差)、微小方位差が観…

GaNなどのパワー半導体において、原子レベルの欠陥は性能の劣化に影響を及ぼします。EBSD検出器を用いた前方散乱電子の評価により、転位に加えてステップ(微小な段差)や微小方位差の観察が可能となります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

簡易過渡熱比較サービス

時間とコストを抑えた簡易過渡熱比較サービス。レーザーやパワーLEDによ…

当社では、材料の接合状態や接合材料自体の相対比較を比較する 「簡易過渡熱比較サービス」を行っております。 半導体のVF温度特性を用いてVfの時間変化を測定することで、各構造物もしくは接合部の状態を評価します。 通常、高価な設備を必要とする測定を、弊社内で構築したシステムで簡単に行えるようにしたものです。 比較測定を目的としており、レーザーやパワーLEDによる接合材料の評価比較も可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社佐用精機製作所

『X線・超音波を用いた非破壊分析の基礎と事例』※希望者全員に進呈

非破壊分析の手法（超音波顕微鏡法・X線CT法）の基礎的な解説や、代表的…

MSTは、非破壊検査の受託分析サービスを行っています。 実際の分析事例や、分析手法の基礎的な解説を掲載した冊子を ご希望の方全員に無料でプレゼント中です。 【掲載内容（一部）】 ■X線・超音波を用いた非破壊分析の手法紹介 　・超音波顕微鏡法 　・X線CT法 　・in situ X線CT測定 ■分析事例 　・炭素繊維強化プラスチック（CFRP）内部の繊維配向解析 　・発泡...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】酸化・窒化薄膜のバンドギャップ評価

XAFSとXPSの複合解析によって高精度なバンドギャップ評価が可能

薄膜試料のバンドギャップはこれまでUV-Vis・PL・XPSなどの分析手法で測定されてきましたが、材料・膜厚・基板などの試料構造の制約から評価可能なケースが限られていました。 今回、XAFSとXPSの複合解析によって、試料構造の制約を少なく、かつ従来よりも高精度なバンドギャップ評価が可能となりました。本手法は特に各種酸化膜・窒化膜の評価に対して有効です。 本資料では窒化シリコン（SiN）膜のバ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SEM-ECCI法によるGaNの転位観察

SEM-ECCI法を用いると容易な前処理で観察可能に！単結晶GaNの測…

当社では、SEM-ECCI法によるGaNの転位観察を行っております。 窒化ガリウム（GaN）等のパワー半導体において、製造時に含まれる転位は デバイス性能の低下や短寿命化の要因とされています。 半導体の転位観察は主に透過電子顕微鏡（TEM）やエッチピット法が用いられますが、 SEM-ECCI...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【分析事例】CFRP炭素繊維強化プラスチック内部の繊維配向解析

X線CTによるCFRPの解析事例

CFRP(炭素繊維強化プラスチック)は炭素繊維を強化材として用いた樹脂材料であり、軽量かつ高い強度や剛性を持つことが特長です。 CFRP内部の繊維構造についてX線CTを用いて観察しました。その結果、直径約7μmの炭素繊維の集まりを観察することができ、また繊維の配向性解析を行いました。 測定法：C-SAM 製品分野：酸化物半導体・パワーデバイス・LSI・メモリ 分析目的：形状評価・故障解析・...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】Si系IGBTチップ断面の低温顕微PL分析

断面方向からライフタイムキラーの影響を確認することが可能です

IGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)はパワー半導体モジュールとして、家電用品から産業機器まで様々な製品に使用されています。 IGBTは特性改善のためにライフタイム制御が行われていますが、この制御はドリフト層に欠陥（ライフタイムキラー）を作成す...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例

ライフタイム制御サンプルのキャリア濃度分析事例紹介

パワー半導体デバイスでは、ライフタイム制御のために、Si基板内に結晶欠陥を形成することがあります。ライフタイム制御領域の作成に用いられる元素の一つである水素イオンの熱処理条件の違いによるキャリア濃度分布を評価した事例を示します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

テストオペレーションサービス

お客様のニーズに合わせたトータルソリューションを提供します！

当社では、豊富なハードウェアと技術力に裏打ちされたテストオペレーション サービスを提供しております。 九州の国内量産拠点及び、製造メーカーに近接する位置にある台湾にも 量産拠点を展開、お客様のニーズに合わせ多品種対応、適切なテストメニューを 実行するためのテスタを含む複数の装置を揃えています。 それぞれのニーズに合わせ、適切なウエハテスト、ファイナルテスト及び テストソリューシ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テラプローブ

住重アテックス株式会社　会社案内

人、設備、経験・・独自のテクノロジーリソースを活かして、社会に、産業に…

各種試験検査サービスをコア事業とする、住友重機械グループの企業です。 1979年の創業以来、「顧客価値の創造」「光る技術の創出」および 「絶えまなき変革努力」の3点を企業理念として掲げ、パワー半導体の改質や 滅菌を主とした放射線利用技術と、非破壊検査および各種分析を主とした 試験検査技術に磨きをかけながら、お客様のさまざまなご要望に応える サービスを提供し続けています。 当社の...

メーカー・取り扱い企業： 住重アテックス株式会社

『電気計器』の校正サービス

機器到着後、原則5営業日で発送。様々なメーカーの計測器・プラント設備用…

どんな計測器でも使用するうちに数値にずれが生じ、そのまま使用を続けると製品品質に重大な影響を与えてしまいます。 当社の「計測器校正サービス事業」では、国家標準にトレースされた標準器により、精度・機能・動作を確認いたします。 さらに、チームワークと柔軟な提案力で出張・引き取り・調整など、さまざまなケースにお応えいたします。 お気軽にご相談ください。 【校正対応機種一覧（抜粋）】 ...

メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

『高周波計器』の校正サービス

機器到着後、原則5営業日で発送。様々なメーカーの計測器・プラント設備用…

どんな計測器でも使用するうちに数値にずれが生じ、そのまま使用を続けると製品品質に重大な影響を与えてしまいます。 当社の「計測器校正サービス事業」では、国家標準にトレースされた標準器により、精度・機能・動作を確認いたします。 さらに、チームワークと柔軟な提案力で出張・引き取り・調整など、さまざまなケースにお応えいたします。 お気軽にご相談ください。 【校正対応機種一覧（抜粋）】 ...

メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

『回路素子等計器』の校正サービス

機器到着後、原則5営業日で発送。様々なメーカーの計測器・プラント設備用…

どんな計測器でも使用するうちに数値にずれが生じ、そのまま使用を続けると製品品質に重大な影響を与えてしまいます。 当社の「計測器校正サービス事業」では、国家標準にトレースされた標準器により、精度・機能・動作を確認いたします。 さらに、チームワークと柔軟な提案力で出張・引き取り・調整など、さまざまなケースにお応えいたします。 お気軽にご相談ください。 【校正対応機種一覧（抜粋）】 ...

メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析

Si半導体とは物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります！…

当社では、短波⻑レーザを⽤いたSiCデバイスのOBIRCH解析を 行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ないパワーデバイス であり注目を集めていますが、Si半導体とは物性が異なるため、 故障解析も新たな手法が必要となります。 短波長レーザを用いたSiC-SBDの裏面OBIRCH解析では、SiC ショットキーバリアダイオードに局所的に溶融破壊を起こし...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス