• 工場保全・メンテナンス、生産技術者のための工場工事【事例集進呈】 製品画像

    工場保全・メンテナンス、生産技術者のための工場工事【事例集進呈】

    PRコンベアや空調などの機械設備の保全実績10点をまとめた事例集を進呈!お…

    三重県を中心に、製造業や工場向けに幅広く機械設備や営繕工事、部品加工などの実績が多数ある酒重が、コンベアや空調などの機械設備の保全実績10点をまとめた事例集を進呈中!対応可能な施工サービス一覧や食品・繊維・半導体業界などでの製作実績について詳しく掲載。 また、機械設備の施工実績が多数ある酒重だからこそわかる、「ポンプ選定時に確認すべき7つのポイント」も併せて進呈中です! 工場工事・修理メンテナン...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社酒重

  • 半導体・センサパッケージング&カメラモジュールの開発・製造 製品画像

    半導体・センサパッケージング&カメラモジュールの開発・製造

    PR半導体・センサパッケージングや半導体モジュールの開発・試作、小中規模量…

    当社では、半導体ベアチップ実装、マイクロ接合技術による小型実装モジュールの開発から、 小中規模の量産までワンストップでサポートします。 カメラの受託製造も承っています。 こんなことでお困りの方、お気軽にお問い合わせください! 【モジュール開発・実装技術開発サービス】 ■実装基板の小型化をしたいが専門化がいない。 ■新たに実装工法を開発したい。 【試作サービス】 ■原理試作・エンジニアリングサ...

    メーカー・取り扱い企業: マイクロモジュールテクノロジー株式会社

  • 【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御 製品画像

    半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

    弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

    弊社が得意としているナノオーダーの表面解析機器の他、 半導体プロセス向けのレジスト液、マスクレス露光装置、精密位置制御装置をご提案致します。...

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    メーカー・取り扱い企業: 日本カンタム・デザイン株式会社

  • 超音波顕微鏡 超高速スキャン 超音波映像装置 製品画像

    超音波顕微鏡 超高速スキャン 超音波映像装置

    KSI社製の超音波顕微鏡 「V シリーズ」 超高速スキャンが半導体分野…

    ksi_ultrasonic_principle/ 従来比、約1.5倍の高速スキャン、高SNでの撮像を実現した新デザインプローブおよび新型アンプも採用。 本シリーズの応用範囲は幅広く、半導体における複合ウェハ、半導体チップ、半導体パッケージ、LED、めっき、塗装など様々な分野で使用されています。例えば半導体分野においては、非破壊検査ツールとして使用され、X線では検出されにくい剥離/ク...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー

  • 半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』 製品画像

    半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』

    1.3メガSWIRカメラ搭載!チップ内部のメタル配線、ダイボンディング…

    『NIR2021-200』は、赤外光の透過・反射特性を利用してシリコンウェハや チップ、MEMS、CSPなど半導体デバイス内部を観察できる顕微鏡です。 1ピクセル5μm、1.3MPのSONY製IMX990を搭載したSWIRカメラを搭載し、 近赤外画像でありながら、高解像画像の取得が可能。 SWI...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

  • 可視光半導体レーザ用 コリメータレンズ CO63シリーズ 製品画像

    可視光半導体レーザ用 コリメータレンズ CO63シリーズ

    可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計。

    コリメータレンズ CO63シリーズは可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計された中口径非球面、小口径非球面ガラスコリメータレンズです。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...【特徴】 ※CO63-A06 非球面ガラスコリメータレンズ ○中口径非球面ガラスコリメータレンズ ○可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計された中口径非球面ガラスコリ...

    メーカー・取り扱い企業: エーエルティー株式会社

  • 可視光半導体レーザ用 コリメータレンズ CO67-AO37 製品画像

    可視光半導体レーザ用 コリメータレンズ CO67-AO37

    非球面プラスティックコリメータレンズ。CO67-AO37。

    コリメータレンズ CO67-AO37は可視光レーザライン光源、レーザコリメーション光源用に設計されたガラスコリメータレンズです。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...【仕様】 ○設計波長 :670nm ○焦点距離 :4.60mm ○NA :0.40 ○カバーガラス(設計値) :0.25mm(BK7) ○作動距離 (BFL) :2.28mm ○有効径 :φ3.7mm ...

    メーカー・取り扱い企業: エーエルティー株式会社

  • ダイヤモンドのクラリティ観察 製品画像

    ダイヤモンドのクラリティ観察

    マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

    一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 動かせない/大型ワークの粗さ・形状測定に◆ポータブル高精度測定機 製品画像

    動かせない/大型ワークの粗さ・形状測定に◆ポータブル高精度測定機

    【測定事例付き 製品資料進呈中 】■2nmの高分解能■ナノ単位3Dデー…

    の取得が最短7秒  ●鏡面仕上げのワークの測定や、全数検査もスピーディー  ●振動に強く、白色干渉計では測定が難しい環境にも対応 <実績例> ※粗さ、輪郭、形状、体積、平面度他  ●半導体製造用 CMPパッド(粒子測定)  ●車体などの塗装面 ●タイヤ ●アスファルト表面  ●金属ローラー ●シートメタル  ●印刷用ロール ■ PDFダウンロードより測定事例/資料進呈 ...

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    メーカー・取り扱い企業: マール・ジャパン株式会社

  • 半導体産業・トレンチ測定向けAFM・SPMプローブ・カンチレバー 製品画像

    半導体産業・トレンチ測定向けAFM・SPMプローブ・カンチレバー

    狭い溝構造にも入り込む高いアスペクト比のSPM・AFMプローブ!

    当製品は、ライン&スペース、トレンチといったレーザー顕微鏡で 測定が難しい深さ方向の定量測定に適しています。 今お使いのプローブでの表面形状再現性が低いとお悩みではない でしょうか。 探針先端の開き角により溝の形状が正しく測定されていないケースは、 先端アスペクト比の高いプローブをお使いいただくことで改善されます。 【特長】 ■レーザー顕微鏡で測定が難しい高さ方向の定量測...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社NanoAndMoreジャパン 本社

  • 10X光学ズームマイクロスコープAZ9T/AZ9C 製品画像

    10X光学ズームマイクロスコープAZ9T/AZ9C

    本体と連携してチャンバー内のリアルタイム観察・記録が可能なマイクロスコ…

    マウント) ■鏡体全長:AZ9T 約2500g/ AZ9C 約2000g ・ズーム比10倍レンジは、接眼視野Φ10.6mm~Φ1.06mmと3μm以下の分解能を達成 ・作動距離90mmは、半導体検査・チャンバー内観察・ピンセット作業・輻射熱対策などの多岐にわたるアプリケーションに対応 ・開口絞り機構により、コントラストや焦点深度の調整が自由 ・AZ9Tカメラ直筒とAZ9C三眼鏡筒(2...

    メーカー・取り扱い企業: 日精株式会社 本社

  • 遠赤外線マイクロスコープ 製品画像

    遠赤外線マイクロスコープ

    ご要望の対物距離や倍率に合わせて、レンズとカメラの組合せを提案いたしま…

    『遠赤外線マイクロスコープ』は、遠赤外線顕微鏡レンズと当社カメラを 組合わせた、高倍率の遠赤外線カメラです。 加冷却熱源との組合せで、半導体部品の非破壊検査などに好適。 顕微鏡レンズのラインアップも充実しておりますので、ご要望の対物距離 (WD:ワークディスタンス)や倍率に合わせて、レンズとカメラの組合せを 提案いたします。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ビジョンセンシング

  • 近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』 製品画像

    近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』

    故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に威力を発揮いたします

    『PElR2000HR 20X・50X』は、2000nmで80%以上の透過率を維持した対物レンズです。 半導体デバイスの故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に 威力を発揮いたします。 高集積、多層配線化された半導体デバイスを、チップの裏面からシリコンを 透過してくる赤外光で観察が可能です...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

  • 近紫外対物レンズ『UV/DUV Plan APO20X・50X』 製品画像

    近紫外対物レンズ『UV/DUV Plan APO20X・50X』

    半導体回路やLCDのリペアなどの薄膜加工に最適な長作動距離対物レンズ

    物レンズです。 可視域と近紫外で使用する波長において、ピントが合うように補正されていいます。 近紫外域の分光透過率を高く設計しており、顕微鏡に取付けてYAGレーザを併用 することで、半導体回路やLCDのリペアなどの薄膜加工に最適です。 【特長】 ■明視野観察用 ■分光透過率を高く設計 ■薄膜加工に最適 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

  • 【半導体製造装置関連】自動両面マスク露光機 製品画像

    半導体製造装置関連】自動両面マスク露光機

    ウェハ搬送ロボットによる全自動搬送2マガジン対応の自動マスク露光機。

    500万画素CCDによるアライメント精度±1.0µm。...掲載装置は参考品となっております。類似品または全く新しい装置の作成に対応致しますので、先ずはお気軽にお問合せ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ライズワン

  • 株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ【中文繁体】 製品画像

    株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ【中文繁体】

    【高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体】などの分野における不良…

    マイクロサポートでは、高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体市場において、特に品質管理、先端材料研究における様々な微小分析にフォーカスした試料準備ソリューションを提供しています。 使いやすく、柔軟性に富み、満足のいく結果のご提供に加え、 ソフトウェアや...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイクロサポート 本社営業部・開発部

  • 超音波顕微鏡『SAM』 製品画像

    超音波顕微鏡『SAM』

    非破壊にて観察が可能!内部状態、密着性状態の不具合検出に威力を発揮!

    当社が取り扱う、超音波顕微鏡『SAM(Scanning Acoustic Microscope)』を ご紹介いたします。 半導体パッケージ、基板、電子部品等の内部状態、密着性状態の 不具合検出に大変威力を発揮します。 非破壊にて観察が可能で、試料に入射された超音波の反射波より、 剥離等の検出ができます。 【仕様(抜粋)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • AFM(原子間力顕微鏡) 製品画像

    AFM(原子間力顕微鏡)

    微小プローブによる高分解能でのイメージング!ナノレベルの構造解析を実現…

    ーを動かす周期信号と カンチレバーの振動との間の位相遅れをマッピングし、形状には 現れない物性の違いを可視化します。 【特長】 ■微小プローブによる高分解能でのイメージング ■導体、半導体、絶縁体を問わず測定可能 ■微小な触圧によりほぼ非破壊で測定できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント 製品画像

    『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント

    高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM(透過電子顕微…

    TEM(透過電子顕微鏡法)は、薄片化した試料に電子を照射し、 試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と 代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中! 写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。 【掲載内容(一部)】 <TEM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 赤道儀用デジタルコンパス POLE FINDER NS-10 製品画像

    赤道儀用デジタルコンパス POLE FINDER NS-10

    天体観測・撮影時におけるポータブル赤道儀の極軸合わせをサポート。北極星…

    <amazonで購入可能です。下記アドレスです> 日本国内仕様です 重さ120g、サイズ5cm角と軽量・コンパクト。 付属の固定プレートでハンディー赤道儀と三脚の間に取り付けます。 内蔵の半導体9軸センサーにより、即座に極軸方向に合わせ込めます。 バックライト式液晶ディスプレイで、暗所でも極軸合わせをスムースにおこなえます。 本製品の概要 ◎天体観測・撮影時におけるポータブル赤...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社カーネル・ハード・エンジニアリング

  • TEMホルダー 「透過型電子顕微鏡用試料ホルダー」 製品画像

    TEMホルダー 「透過型電子顕微鏡用試料ホルダー」

    御客様の仕様に合わせて試作開発を承っております。

    機では、透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM)の実験的な機器・部品を幅広く提供しています。 これらの製品は、生物、高分子、セラミックス、半導体、金属など多くの分野における基礎研究をはじめ、新製品の開発やその評価などに幅広く利用されております。 特にTEMホルダーは、研究者の要求に独自のアイデアを注入し、共同で開発され試料内部の形態...

    メーカー・取り扱い企業: 北野精機株式会社

  • 両面顕微鏡システム『TOMOS-50』 製品画像

    両面顕微鏡システム『TOMOS-50』

    表裏の位置ずれ/寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました

    『TOMOS-50』は、水晶振動子、MEMS、半導体等の電子部品の表裏を 同時に撮影、±0.2μm以下の精度で測定できるコンパクトタイプの 表裏位置ずれ計測システムです。 表裏光軸補正はマイクロステージ+ソフトウェアで高精度に補正可能。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フローベル

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』  製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』 

    最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

    ボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能  およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を  ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • デジタルマイクロスコープDSX1000(EVIDENT) 製品画像

    デジタルマイクロスコープDSX1000(EVIDENT)

    マクロからミクロまで、マルチ対応力 半導体ウエハなどの薄型・微細…

    ・23~8,220倍の観察倍率を実現し、マクロからミクロ領域まで幅広く観察できます。 ・被写界深度が深く観察距離も長い対物レンズにより、凹凸のあるサンプルも苦にしません。 ・観察の自由度を向上させる斜め観察、θ回転によりサンプルを様々な角度から観察できます。 ...◆瞬時に欠陥を見つけ出す、マルチアプローチ 倍率と観察方法を簡単&瞬間的に切替 ・すべてのレンズ・倍率で多彩な観察方法に適応...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ナガタ

  • 医療・生物研究用顕微鏡 製品画像

    医療・生物研究用顕微鏡

    顕微鏡のことなら当社にお任せください

    産学官のバイオ研究分野で利用される超高解像度の顕微鏡から、 医療機関、学校教育、食品衛生研究機関などで利用される 細胞検査用や実習用まで各種の用途に応じた顕微鏡をご用意。 その他、半導体・精密機器製造用顕微鏡や実体顕微鏡なども取り揃えており、 また顕微鏡周辺アクセサリーの開発・製造・販売にも対応いたします。 【ラインアップ】 ■超解像顕微鏡 N-SIM/N-STORM ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジコーガク

  • 赤外顕微鏡 製品画像

    赤外顕微鏡

    透過赤外光の照明調整でIR明視野・暗視野検査での検査ができます

    半導体ウエハなど赤外透過材料の内部欠陥を非破壊で可視画像と赤外画像を同時にモニタ検査と上下のパターンズレや内部欠陥の検査ができます。 TSV貫通電極や積層ウエハの表面を可視でモニタとIRフォーカス調整でウエハ内部を同時モニタできます。 詳しくは、カタログをダウンロードしてご覧下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイティ・テック

  • 人工知能搭載 デジタル顕微鏡『ACUMEN AI』 製品画像

    人工知能搭載 デジタル顕微鏡『ACUMEN AI』

    製品の欠陥を自動的に識別・検出します!

    【検査プログラム事例】 ■細胞数量カウント ■バイアルキャップ破損識別 ■注射針キャップ未装着検出 ■微生物分類検査 ■半導体基盤不具合検出 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 山口産業株式会社

  • SPM受託計測サービス 走査型プローブ顕微鏡 製品画像

    SPM受託計測サービス 走査型プローブ顕微鏡

    SPM受託計測サービス 走査型プローブ顕微鏡

    弊社では、専門のスタッフによる最新鋭のプローブ顕微鏡(SPM)を用いた受託計測サービスを行なっています。細胞、細菌、タンパク質、DNA等の生体試料から半導体基板や高分子等の工業材料まで、あらゆる試料の表面をナノレベルで可視化します。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社生体分子計測研究所

  • 株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ 製品画像

    株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ

    【高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体】などの分野における不良…

    マイクロサポートでは、高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体市場において、特に品質管理、先端材料研究における様々な微小分析にフォーカスした試料準備ソリューションを提供しています。 使いやすく、柔軟性に富み、満足のいく結果のご提供に加え、 ソフトウェアや...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイクロサポート 本社営業部・開発部

  • 株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ【中文簡体】 製品画像

    株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ【中文簡体】

    【高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体】などの分野における不良…

    マイクロサポートでは、高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体市場において、特に品質管理、先端材料研究における様々な微小分析にフォーカスした試料準備ソリューションを提供しています。 使いやすく、柔軟性に富み、満足のいく結果のご提供に加え、 ソフトウェアや...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイクロサポート 本社営業部・開発部

  • 株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ【英文】 製品画像

    株式会社マイクロサポート 製品総合カタログ【英文】

    【高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体】などの分野における不良…

    マイクロサポートでは、高分子、石油製品、電子デバイス、液晶、半導体市場において、特に品質管理、先端材料研究における様々な微小分析にフォーカスした試料準備ソリューションを提供しています。 使いやすく、柔軟性に富み、満足のいく結果のご提供に加え、 ソフトウェアや...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マイクロサポート 本社営業部・開発部

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

    故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

    『Park NX-Hivac』は、故障解析および環境の影響を受けやすい材料向けの 高真空原子間力顕微鏡(AFM)です。 高濃度ドープの半導体の正確な故障解析が可能。 また、当社のすでに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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