解説資料：ただのリードスイッチとは違うベスタクトのヒミツを大公開

PRそもそもリードスイッチってなに？という基礎知識から高性能な接点「ベスタ…

当資料は、一般的なリードスイッチと高性能な「ベスタクト」接点について、図や写真を用いて構造や活用事例、性能など分かりやすく解説した豆知識の資料になっております。 ぜひともご一読いただき、試しに使ってみたいなど「ベスタクト」内蔵の各種リレーやスイッチ、または安川パワーリードスイッチ「ベスタクト」の無料サンプルをご希望の方はお気軽にお問い合わせください。 使って初めて実感できる良さがございます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社べスタクト・ソリューションズ

2D/3DCAD資産を活用したシステム開発

PR文字情報の抽出、自動作図など、「できない」と諦めていたご要望を実現

当社では『2D/3DCAD資産を活用したシステム開発』を行っております。 CADのカスタマイズ、独自システム構築、OEMなど幅広く対応可能。 市販CADソフトをベースにお客様専用のシステムを開発し、 「できない」と諦めていたご要望を実現いたします。 【市販CADソフトを活用した専用ソフト開発のメリット】 ■安定品質 ■柔軟なライセンス ■フルカスタマイズ ※「PDFダウ...

メーカー・取り扱い企業： アンドール株式会社 ITプラットフォーム営業部　

異方性ネオジム磁石の配向評価

ネオジム磁石に代表される異方性磁石X線回折の極点図測定結果から、残留磁…

ネオジム磁石に代表される異方性磁石の着磁前のX線回折の極点図測定結果から、残留磁束密度に対する結晶学的配向度の算出を可能としました。異方性磁石は磁化容易軸の結晶配向度が高いほど、着磁後の残留磁束密度が大きくなることから、着磁前の結晶配向度を把握することは異方...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

EBSD 主要な解析手法

EBSDにより材料の結晶構造や結晶方位の評価が可能です。

action:EBSD）のことで、走査型電子顕微鏡を用いて、材料のミクロな結晶組織を観察する方法です。結晶性試料に電子線を照射すると、電子は非弾性散乱し、結晶格子面で回折され、菊池パターンと言う回折図形を持った反射電子として放出されます。この菊池パターンに方位の指数付けを行う事で、結晶方位を求めることが出来ます。IPF(Inverse Pole Figure) mapは、結晶方位を示すマップであ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

EBSD測定によるチタン材料の評価

チタン材料はEBSD用前処理が難しいとされていましたが、独自の前処理に…

BSD測定を用いることでミクロ組織観察だけではわからない結晶学的な情報を取得し、材料開発に有益な知見を提供します。 　 ３．EBSD解析から得られる主な情報 （１）結晶方位（IPFマップ、極点図、Schmid Factorマップ） （２）結晶相(Phaseマップ） （３）歪（KAMマップ、GRODマップ、GAMマップ、GOSマップ） （４）結晶粒径 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【測定事例あり】EBSD解析の非鉄金属材への適用

当社独自の技術を用い前処理方法を最適化！異種多層の観察・解析が可能

属のEBSD解析を 可能としています。 異種多層（特に異種境界層）の観察・解析が可能（単独材質も当然可能）です。 【EBSD解析から得られる主な情報】 ■結晶方位（IPFマップ、極点図、Schmid Factorマップ） ■結晶相（Phaseマップ） ■歪（KAMマップ、GRODマップ、GAMマップ、GOSマップ） ■結晶粒径 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

X線回折による磁石の配向度および磁化容易軸の評価

異方性磁石の重要な特性の一つの残留磁束密度！結晶学的配向度および磁化容…

て おります。 着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質 管理の面で極めて重要です。 通常、着磁後の磁気測定結果から算出するものを、着磁前にX線回折の極点図 測定結果から残留磁束密度に対応する結晶学的配向度の算出を可能とし、 加えて、磁化容易軸の角度算出も可能としました。 【調査方法】 ■試料作製 ■磁気測定 ■結晶学的配向度および磁化...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

EVモーター材質調査~磁石の分析調査~

大同分析リサーチは長年培った材料分析技術、磁性材料評価技術でお客様のモ…

1 モーター本体の解体から構成部品を取出し、各構成部品の調査・分析を行います。 2 磁石の磁気特性はステーター側磁束フローの影響を考慮し厚さ方向の特性分布と温度特性を調査致します。 3 極点図測定はφ1以下で局部測定が可能です。弊社独自の手法で磁気配向度への変換が可能ですので、磁石内磁束分布や局部減磁判定に御活用下さい。 4 磁石の組織調査では磁気特性に影響を与える因子としての結晶粒度...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

【分析事例】（X線CTによる）セラミックス基板の導通不具合調査

供試材における断線箇所の低倍率および高倍率透視観察！クラック進展状態の…

理装置（ユニハイト UH-12）を使用。 試験内容は、X線透視装置を用いて供試材における断線箇所の低倍率および 高倍率透視観察と、クラック進展状態の観察です。関連リンク先では、試験 結果の図と透視像を掲載しております。 【試験内容】 ■X線透視装置を用いて供試材における断線箇所の低倍率および高倍率透視観察 ■クラック進展状態の観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ